ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator (2023)
Kagerer, Philipp ; Morelhão, Sergio L.
Source: Physical Review Research. Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS, MATERIAIS MAGNÉTICOS, ESTRUTURA ELETRÔNICA, FERROMAGNETISMO, MEDIDA DE LEBESGUE
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ABNT
KAGERER, Philipp e MORELHÃO, Sergio L. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, v. 5, n. 2, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Kagerer, P., & Morelhão, S. L. (2023). Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, 5( 2). doi:10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
NLM
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
Vancouver
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
Artigo de periodico
Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase (2023)
Singh, Hardepinder; Gupta, Mukul; Gupta, Pooja; Penacchio, Rafaela ; Morelhao, Sergio L. ; Kumar, Hardeep
Source: Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, TUNGSTÊNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
SINGH, Hardepinder et al. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), v. 129, n. 5, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Singh, H., Gupta, M., Gupta, P., Penacchio, R., Morelhao, S. L., & Kumar, H. (2023). Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), 129( 5). doi:10.1007/s00339-023-06552-x
NLM
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Vancouver
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Artigo de periodico
Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements (2023)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício Bastos ; Remedios, Claudio M. R.; Calligaris, Guilherme A.; Torikachvili, Milton S.; Kycia, Stefan W.; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Journal of Applied Crystallography (JAC). Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, ESTRUTURA MOLECULAR (FÍSICA MODERNA)
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements. Journal of Applied Crystallography (JAC), v. 56, p. 1574-1584, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Remedios, C. M. R., Calligaris, G. A., Torikachvili, M. S., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2023). Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements. Journal of Applied Crystallography (JAC), 56, 1574-1584. doi:10.1107/S1600576723005800
NLM
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Remedios CMR, Calligaris GA, Torikachvili MS, Kycia SW, Morelhão SL. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements [Internet]. Journal of Applied Crystallography (JAC). 2023 ; 56 1574-1584.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800
Vancouver
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Remedios CMR, Calligaris GA, Torikachvili MS, Kycia SW, Morelhão SL. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements [Internet]. Journal of Applied Crystallography (JAC). 2023 ; 56 1574-1584.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800
Artigo de periodico
Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Fornari, Celso I.; Camillo, Yorí G.; Kagerer, Philipp; Buchberger, Sebastian; Kamp, Martin; Bentmann, Hendrik; Reinert, Friedrich; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Thin Solid Films. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, CAMPO MAGNÉTICO
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator. Thin Solid Films, v. 750, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Penacchio, R. F. da S., Fornari, C. I., Camillo, Y. G., Kagerer, P., Buchberger, S., Kamp, M., et al. (2022). Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator. Thin Solid Films, 750. doi:10.1016/j.tsf.2022.139183
NLM
Penacchio RF da S, Fornari CI, Camillo YG, Kagerer P, Buchberger S, Kamp M, Bentmann H, Reinert F, Morelhão SL. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator [Internet]. Thin Solid Films. 2022 ; 750[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183
Vancouver
Penacchio RF da S, Fornari CI, Camillo YG, Kagerer P, Buchberger S, Kamp M, Bentmann H, Reinert F, Morelhão SL. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator [Internet]. Thin Solid Films. 2022 ; 750[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183
Relatorio tecnico
A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Fornari, Celso I.; Kagerer, Philipp; Dittmar, Marco; Müller, Simon; Reinert, Friedrich; Estradiote, Maurício Bastos ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: TOPOLOGIA, RAIOS X
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf. Acesso em: 18 out. 2024. , 2022
APA
Penacchio, R. F. da S., Fornari, C. I., Kagerer, P., Dittmar, M., Müller, S., Reinert, F., et al. (2022). A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
NLM
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Vancouver
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Artigo de periodico
Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates (2022)
Kumar, Hardeep; Morelhão, Sergio Luiz ; Pessotto, Gerson ; Singh, Hardepinder; Sinha, Anil K.; Cornejo, Daniel Reinaldo
Source: Journal of Magnetism and Magnetic Materials. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, RADIAÇÃO SINCROTRON, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
KUMAR, Hardeep et al. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, v. 556, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Kumar, H., Morelhão, S. L., Pessotto, G., Singh, H., Sinha, A. K., & Cornejo, D. R. (2022). Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 556. doi:10.1016/j.jmmm.2022.169442
NLM
Kumar H, Morelhão SL, Pessotto G, Singh H, Sinha AK, Cornejo DR. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2022 ; 556[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442
Vancouver
Kumar H, Morelhão SL, Pessotto G, Singh H, Sinha AK, Cornejo DR. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2022 ; 556[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442
Artigo de periodico
A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results (2022)
Sergio L. Morelhão ; Kycia, Stefan
Source: Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. Unidade: IF
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, NANOPARTÍCULAS, ESPALHAMENTO DE RAIOS X A BAIXOS ÂNGULOS, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
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ABNT
SERGIO L. MORELHÃO, e KYCIA, Stefan. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances, v. 78, n. 1, p. 459-462, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Sergio L. Morelhão,, & Kycia, S. (2022). A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances, 78( 1), 459-462. doi:10.1107/S2053273322007215
NLM
Sergio L. Morelhão, Kycia S. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results [Internet]. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. 2022 ; 78( 1): 459-462.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215
Vancouver
Sergio L. Morelhão, Kycia S. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results [Internet]. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. 2022 ; 78( 1): 459-462.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215
Relatorio tecnico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. . Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2020). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Relatorio tecnico
Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2020)
Fornari, Celso I; Abramof, Eduardo; Rappl, Paulo H O; Kycia, Stefan W; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, BISMUTO
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ABNT
FORNARI, Celso I et al. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Fornari, C. I., Abramof, E., Rappl, P. H. O., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2020). Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
NLM
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Vancouver
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Relatorio tecnico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sergio Luiz. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Relatorio tecnico
Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Avanci, L H; Freitas, R; Quivy, Alain André
Unidade: IF
Subjects: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. . Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Freitas, R., & Quivy, A. A. (2020). Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Artigo de periodico
Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films (2020)
Fornari, Celso I; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: EURÓPIO, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNARI, Celso I e MORELHÃO, Sergio Luiz. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, v. 124, n. 29, p. 16048–16057, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Fornari, C. I., & Morelhão, S. L. (2020). Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, 124( 29), 16048–16057. doi:10.1021/acs.jpcc.0c05077
NLM
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Vancouver
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Artigo de periodico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sérgio L.
Source: Radiation Physics and Chemistry. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sérgio L. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, v. 167, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, 167. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Artigo de periodico
New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies (2020)
Cordeiro,A J P; Silva, L F da; Paschoal Jr., W; Morelhão, Sergio Luiz ; Saraiva, G D; Freire, P T C; Moreira, S G C; Sousa, F F de
Source: Vibrational Spectroscopy. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TRANSFORMADA DE FOURIER, ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
CORDEIRO, A J P et al. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, v. 111, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Cordeiro, A. J. P., Silva, L. F. da, Paschoal Jr., W., Morelhão, S. L., Saraiva, G. D., Freire, P. T. C., et al. (2020). New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, 111. doi:10.1016/j.vibspec.2020.103174
NLM
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Vancouver
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Apresentacao sonora/cenica/entrevista
O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] (2020)
Morelhao, Sergio L.
Source: IFUSP-Física para Todos. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA MODERNA, NEUROCIÊNCIAS, MECÂNICA QUÂNTICA, REDES NEURAIS, DIVULGAÇÃO CIENTÍFICA
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ABNT
MORELHAO, Sergio L. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Disponível em: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Morelhao, S. L. (2020). O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Recuperado de https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
NLM
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Vancouver
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Trabalho de evento-resumo
Computational tools for structural modeling of quantum devices (2020)
Silva, Yorí Galisteu Camillo da; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Subjects: ELETRÔNICA, ÓPTICA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Yorí Galisteu Camillo da e MORELHÃO, Sergio Luiz. Computational tools for structural modeling of quantum devices. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Silva, Y. G. C. da, & Morelhão, S. L. (2020). Computational tools for structural modeling of quantum devices. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
NLM
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
Vancouver
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
Relatorio tecnico
On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system (2020)
Avanci, L H; Remedios, C M R; Quivy, Alain André ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AVANCI, L H et al. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf. Acesso em: 18 out. 2024. , 2020
APA
Avanci, L. H., Remedios, C. M. R., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2020). On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
NLM
Avanci LH, Remedios CMR, Quivy AA, Morelhão SL. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
Vancouver
Avanci LH, Remedios CMR, Quivy AA, Morelhão SL. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system [Internet]. 2020 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
Artigo de periodico
Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) (2020)
Kagerer, Philipp ; Fornari, Celso Israel ; Buchberger, S.; Morelhao, Sergio L.; Vidal, R. C.; Tcakaev, Abdul-Vakhab ; Zabolotnyy, V.; Weschke, E.; Hinkov, Vladimir ; Kamp, Martin ; Büchner, B.; Isaeva, Anna ; Bentmann, H.; Reinert, F.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DO ESTADO SÓLIDO, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, FILMES FINOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
KAGERER, Philipp et al. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, v. 128, n. 13, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0025933. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Kagerer, P., Fornari, C. I., Buchberger, S., Morelhao, S. L., Vidal, R. C., Tcakaev, A. -V., et al. (2020). Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, 128( 13). doi:10.1063/5.0025933
NLM
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhao SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933
Vancouver
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhao SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933
Relatorio tecnico
Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles (2019)
Valério, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALÉRIO, Adriana e MORELHÃO, Sergio Luiz. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1911.00701. Acesso em: 18 out. 2024. , 2019
APA
Valério, A., & Morelhão, S. L. (2019). Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1911.00701
NLM
Valério A, Morelhão SL. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles [Internet]. 2019 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00701
Vancouver
Valério A, Morelhão SL. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles [Internet]. 2019 ;[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00701
Artigo de periodico
Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2019)
Morelhão, Sérgio L. ; Kycia, Stefan W.; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Source: The Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: RADIAÇÃO SINCROTRON, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, CRISTALOGRAFIA, BISMUTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio L. et al. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, v. 123, n. 40, p. 24818-24825, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377. Acesso em: 18 out. 2024.
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S. W., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2019). Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, 123( 40), 24818-24825. doi:10.1021/acs.jpcc.9b05377
NLM
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377
Vancouver
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2024 out. 18 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377

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