Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) (2020)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1063/5.0025933
- Subjects: FÍSICA DO ESTADO SÓLIDO; CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X; FILMES FINOS; EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA; MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA; ESPECTROSCOPIA DE RAIO X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Journal of Applied Physics
- ISSN: 1089-7550
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 128, n. 13, número do artigo: 135303, 05 outubro 2020, online
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
KAGERER, Philipp et al. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, v. 128, n. 13, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0025933. Acesso em: 10 jan. 2026. -
APA
Kagerer, P., Fornari, C. I., Buchberger, S., Morelhão, S. L., Vidal, R. C., Tcakaev, A. -V., et al. (2020). Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, 128( 13). doi:10.1063/5.0025933 -
NLM
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhão SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2026 jan. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933 -
Vancouver
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhão SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2026 jan. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933 - A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results
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Informações sobre o DOI: 10.1063/5.0025933 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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Morelhão-J Appl Phys-202... | Direct link |
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