Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator (2023)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
- Subjects: MATERIAIS; MATERIAIS MAGNÉTICOS; ESTRUTURA ELETRÔNICA; FERROMAGNETISMO; MEDIDA DE LEBESGUE
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Physical Review Research
- ISSN: 2643-1564
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 5, n. 2, maio de 2023, número do artigo: L022019, online
- Status:
- Artigo publicado em periódico de acesso aberto (Gold Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão publicada (Published version)
- Acessar versão aberta:
-
ABNT
KAGERER, Philipp e MORELHÃO, Sérgio Luiz. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, v. 5, n. 2, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019. Acesso em: 09 abr. 2026. -
APA
Kagerer, P., & Morelhão, S. L. (2023). Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, 5( 2). doi:10.1103/PhysRevResearch.5.L022019 -
NLM
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2026 abr. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019 -
Vancouver
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2026 abr. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019 - Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors
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