Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton (2003)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA); LUZ
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Laboratório Nacional de Luz Síncroton
- Publisher place: Campinas
- Date published: 2003
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Reunião Anual de Usuários do LNLS 13
-
ABNT
MIRANDA, M A R et al. Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton. 2003, Anais.. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncroton, 2003. . Acesso em: 07 fev. 2026. -
APA
Miranda, M. A. R., Remédios, C. M. R., Almeida, J. M. A., melo, F. E. A., Sasaki, J. M., Kycia, S., & Morelhão, S. L. (2003). Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton. In Resumos. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncroton. -
NLM
Miranda MAR, Remédios CMR, Almeida JMA, melo FEA, Sasaki JM, Kycia S, Morelhão SL. Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton. Resumos. 2003 ;[citado 2026 fev. 07 ] -
Vancouver
Miranda MAR, Remédios CMR, Almeida JMA, melo FEA, Sasaki JM, Kycia S, Morelhão SL. Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton. Resumos. 2003 ;[citado 2026 fev. 07 ] - Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors
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