Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS (2005)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.nimb.2005.06.044
- Subjects: FÍSICA ATÔMICA; FÍSICA MOLECULAR; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; CRISTALOGRAFIA FÍSICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms
- ISSN: 0168-583X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 238, n. 1-4, p. 180-184, 2005
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e AVANCI, Luis Humberto e KYCIA, S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 238, n. 1-4, p. 180-184, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044. Acesso em: 06 fev. 2026. -
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., & Kycia, S. (2005). Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 238( 1-4), 180-184. doi:10.1016/j.nimb.2005.06.044 -
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2026 fev. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044 -
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2026 fev. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044 - Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.nimb.2005.06.044 (Fonte: oaDOI API)
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