Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films (2020)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c05077
- Subjects: EURÓPIO; EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Journal of Physical Chemistry C
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 124, n. 29, p. 16048–16057, 2020
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
FORNARI, Celso I e MORELHÃO, Sergio Luiz. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, v. 124, n. 29, p. 16048–16057, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077. Acesso em: 08 out. 2024. -
APA
Fornari, C. I., & Morelhão, S. L. (2020). Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, 124( 29), 16048–16057. doi:10.1021/acs.jpcc.0c05077 -
NLM
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077 -
Vancouver
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2024 out. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077 - High-resolution synchrotron radiation Renninger scan to examine hybrid reflections in InGaP/GaAs(001)
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Informações sobre o DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c05077 (Fonte: oaDOI API)
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Tipo | Nome | Link | |
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