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Trabalho de evento
Propriedades estruturais e mecânicas do 'alfa'-'HgI IND.2' (2004)
Ayres, F; Machado, Wanda Valle Marcondes; Assali, L. V. C. ; Justo Filho, João Francisco
Source: Anais. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidades: IF, EP
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES
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ABNT
AYRES, F et al. Propriedades estruturais e mecânicas do 'alfa'-'HgI IND.2'. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/A0450-1.pdf. Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Ayres, F., Machado, W. V. M., Assali, L. V. C., & Justo Filho, J. F. (2004). Propriedades estruturais e mecânicas do 'alfa'-'HgI IND.2'. In Anais. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/A0450-1.pdf
NLM
Ayres F, Machado WVM, Assali LVC, Justo Filho JF. Propriedades estruturais e mecânicas do 'alfa'-'HgI IND.2' [Internet]. Anais. 2004 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/A0450-1.pdf
Vancouver
Ayres F, Machado WVM, Assali LVC, Justo Filho JF. Propriedades estruturais e mecânicas do 'alfa'-'HgI IND.2' [Internet]. Anais. 2004 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/A0450-1.pdf
Trabalho de evento
Análise das condições de desenvolvimento da indústria brasileira de semicondutores: texto para discussão (2002)
Amato Neto, João ; Carvalho, Marly Monteiro de ; Fleury, Afonso ; Garcia, Renato de Castro ; Pessôa, Marcelo
Source: Anais. Conference titles: Workshop: Redes de Cooperação e Gestão do Conhecimento. Unidade: EP
Subjects: DESENVOLVIMENTO INDUSTRIAL, SEMICONDUTORES
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ABNT
AMATO NETO, João et al. Análise das condições de desenvolvimento da indústria brasileira de semicondutores: texto para discussão. 2002, Anais.. São Paulo: Epusp/PRO, 2002. Disponível em: http://www.prd.usp.br/redecoop/ARTIGO%FINAL%BAH%POLI%JUN%2002r.PDF. Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Amato Neto, J., Carvalho, M. M. de, Fleury, A., Garcia, R. de C., & Pessôa, M. (2002). Análise das condições de desenvolvimento da indústria brasileira de semicondutores: texto para discussão. In Anais. São Paulo: Epusp/PRO. Recuperado de http://www.prd.usp.br/redecoop/ARTIGO%FINAL%BAH%POLI%JUN%2002r.PDF
NLM
Amato Neto J, Carvalho MM de, Fleury A, Garcia R de C, Pessôa M. Análise das condições de desenvolvimento da indústria brasileira de semicondutores: texto para discussão [Internet]. Anais. 2002 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: http://www.prd.usp.br/redecoop/ARTIGO%FINAL%BAH%POLI%JUN%2002r.PDF
Vancouver
Amato Neto J, Carvalho MM de, Fleury A, Garcia R de C, Pessôa M. Análise das condições de desenvolvimento da indústria brasileira de semicondutores: texto para discussão [Internet]. Anais. 2002 ;[citado 2024 nov. 06 ] Available from: http://www.prd.usp.br/redecoop/ARTIGO%FINAL%BAH%POLI%JUN%2002r.PDF
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Recuperador de clock em estrutura gate array do tipo mar de transistores (1996)
Toma, M; Moreira, L C; Soares Junior, João Navarro ; Van Noije, Wilhelmus Adrianus Maria
Source: Anais. Conference titles: Workshop Iberchip. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
TOMA, M et al. Recuperador de clock em estrutura gate array do tipo mar de transistores. 1996, Anais.. Sao Paulo: Lsi-Epusp/Cti/Uab, 1996. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Toma, M., Moreira, L. C., Soares Junior, J. N., & Van Noije, W. A. M. (1996). Recuperador de clock em estrutura gate array do tipo mar de transistores. In Anais. Sao Paulo: Lsi-Epusp/Cti/Uab.
NLM
Toma M, Moreira LC, Soares Junior JN, Van Noije WAM. Recuperador de clock em estrutura gate array do tipo mar de transistores. Anais. 1996 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Toma M, Moreira LC, Soares Junior JN, Van Noije WAM. Recuperador de clock em estrutura gate array do tipo mar de transistores. Anais. 1996 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos (1995)
Kimura, G W F; Sonnenberg, Victor ; Martino, João Antonio
Source: Anais. Conference titles: Seminario Brasileiro de Caracterizacao em Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
KIMURA, G W F e SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. 1995, Anais.. Curitiba: Copel, 1995. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Kimura, G. W. F., Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (1995). Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. In Anais. Curitiba: Copel.
NLM
Kimura GWF, Sonnenberg V, Martino JA. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. Anais. 1995 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Kimura GWF, Sonnenberg V, Martino JA. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. Anais. 1995 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Metodo simples para a obtencao da densidade de armadilhas na primeira e segunda interface em soi-mosfet (1994)
Sonnenberg, Victor ; Martino, João Antonio
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Metodo simples para a obtencao da densidade de armadilhas na primeira e segunda interface em soi-mosfet. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (1994). Metodo simples para a obtencao da densidade de armadilhas na primeira e segunda interface em soi-mosfet. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Sonnenberg V, Martino JA. Metodo simples para a obtencao da densidade de armadilhas na primeira e segunda interface em soi-mosfet. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Sonnenberg V, Martino JA. Metodo simples para a obtencao da densidade de armadilhas na primeira e segunda interface em soi-mosfet. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Gerador para ensaios de descargas eletrostaticas (1994)
Perez Lisboa, M O; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PEREZ LISBOA, M O e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Gerador para ensaios de descargas eletrostaticas. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Perez Lisboa, M. O., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Gerador para ensaios de descargas eletrostaticas. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq.
NLM
Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Gerador para ensaios de descargas eletrostaticas. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Perez Lisboa MO, Ramírez Fernandez FJ. Gerador para ensaios de descargas eletrostaticas. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd (1994)
Bonfim, M J C; Okura, J H; Swart, Jacobus Willibrordus
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
BONFIM, M J C e OKURA, J H e SWART, Jacobus Willibrordus. Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Bonfim, M. J. C., Okura, J. H., & Swart, J. W. (1994). Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Bonfim MJC, Okura JH, Swart JW. Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Bonfim MJC, Okura JH, Swart JW. Presilha eletrostatica para camadas em sistemas de deposicao cvd. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Determinacao de parametros de processo para fotomascara 'BALZERS' (1994)
Seki, J; Pereira, J A A M; Saito, M
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SEKI, J e PEREIRA, J A A M e SAITO, M. Determinacao de parametros de processo para fotomascara 'BALZERS'. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Seki, J., Pereira, J. A. A. M., & Saito, M. (1994). Determinacao de parametros de processo para fotomascara 'BALZERS'. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Seki J, Pereira JAAM, Saito M. Determinacao de parametros de processo para fotomascara 'BALZERS'. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Seki J, Pereira JAAM, Saito M. Determinacao de parametros de processo para fotomascara 'BALZERS'. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Nova tecnica de decomposicao de maquinas de estados finitos (1994)
Llanos Quintero, Carlos Humberto; Strum, Marius
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
LLANOS QUINTERO, Carlos Humberto e STRUM, Marius. Nova tecnica de decomposicao de maquinas de estados finitos. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Llanos Quintero, C. H., & Strum, M. (1994). Nova tecnica de decomposicao de maquinas de estados finitos. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Llanos Quintero CH, Strum M. Nova tecnica de decomposicao de maquinas de estados finitos. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Llanos Quintero CH, Strum M. Nova tecnica de decomposicao de maquinas de estados finitos. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Caracterizacao de camadas implantadas de hidrogenio em silicio (1994)
Peres, Henrique Estanislau Maldonado ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PERES, Henrique Estanislau Maldonado e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterizacao de camadas implantadas de hidrogenio em silicio. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Peres, H. E. M., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterizacao de camadas implantadas de hidrogenio em silicio. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq.
NLM
Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao de camadas implantadas de hidrogenio em silicio. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Peres HEM, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao de camadas implantadas de hidrogenio em silicio. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Sensor integrado de h2: projeto, fabricacao e caracterizacao (1994)
Baratto, G; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BARATTO, G e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Sensor integrado de h2: projeto, fabricacao e caracterizacao. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Baratto, G., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Sensor integrado de h2: projeto, fabricacao e caracterizacao. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq.
NLM
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Sensor integrado de h2: projeto, fabricacao e caracterizacao. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Sensor integrado de h2: projeto, fabricacao e caracterizacao. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Dopant pipe diffusion along misfit dislocations in epitaxial 'SI' / 'SI' (Ge) (1994)
Braga, Nelson Liebentritt de Almeida; Rozogonyi, G A
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
BRAGA, Nelson Liebentritt de Almeida e ROZOGONYI, G A. Dopant pipe diffusion along misfit dislocations in epitaxial 'SI' / 'SI' (Ge). 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Braga, N. L. de A., & Rozogonyi, G. A. (1994). Dopant pipe diffusion along misfit dislocations in epitaxial 'SI' / 'SI' (Ge). In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Braga NL de A, Rozogonyi GA. Dopant pipe diffusion along misfit dislocations in epitaxial 'SI' / 'SI' (Ge). Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Braga NL de A, Rozogonyi GA. Dopant pipe diffusion along misfit dislocations in epitaxial 'SI' / 'SI' (Ge). Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Observacoes sobre a inativacao de um transistor com porta de paladio (1994)
Baratto, G; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BARATTO, G e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Observacoes sobre a inativacao de um transistor com porta de paladio. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Baratto, G., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Observacoes sobre a inativacao de um transistor com porta de paladio. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq.
NLM
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Observacoes sobre a inativacao de um transistor com porta de paladio. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ. Observacoes sobre a inativacao de um transistor com porta de paladio. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Efeitos da radiacao em capacitores mos (1994)
Nakata, V L M; Martino, João Antonio
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
NAKATA, V L M e MARTINO, João Antonio. Efeitos da radiacao em capacitores mos. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Nakata, V. L. M., & Martino, J. A. (1994). Efeitos da radiacao em capacitores mos. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Nakata VLM, Martino JA. Efeitos da radiacao em capacitores mos. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Nakata VLM, Martino JA. Efeitos da radiacao em capacitores mos. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Caracterizacao estrutural do silicio poroso (1994)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Source: Anais. Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterizacao estrutural do silicio poroso. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterizacao estrutural do silicio poroso. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao estrutural do silicio poroso. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao estrutural do silicio poroso. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Modelamento analitico para a queda de potencial no substrato de soi-mosfet (1994)
Pavanello, Marcelo Antonio ; Martino, João Antonio
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PAVANELLO, Marcelo Antonio e MARTINO, João Antonio. Modelamento analitico para a queda de potencial no substrato de soi-mosfet. 1994, Anais.. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj, 1994. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Pavanello, M. A., & Martino, J. A. (1994). Modelamento analitico para a queda de potencial no substrato de soi-mosfet. In Anais. Rio de Janeiro: Sbmicro/Ufrj.
NLM
Pavanello MA, Martino JA. Modelamento analitico para a queda de potencial no substrato de soi-mosfet. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Pavanello MA, Martino JA. Modelamento analitico para a queda de potencial no substrato de soi-mosfet. Anais. 1994 ;[citado 2024 nov. 06 ]
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Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido (1993)
Hernandes, C S; Swart, Jacobus Willibrordus; Schacham, Y D
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HERNANDES, C S e SWART, Jacobus Willibrordus e SCHACHAM, Y D. Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido. 1993, Anais.. Campinas: Sbmicro, 1993. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Hernandes, C. S., Swart, J. W., & Schacham, Y. D. (1993). Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido. In Anais. Campinas: Sbmicro.
NLM
Hernandes CS, Swart JW, Schacham YD. Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Hernandes CS, Swart JW, Schacham YD. Difusao de estanho em 'GA''AS' por processamento termico rapido. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Trabalho de evento
Determinacao da taxa de deposicao com magnetrons sputtering atraves de parametros do plasma (1993)
Fontes, M B A; Yamamoto, R K; Maciel, H. S.; Acquadro Quacchia, Juan Carlos
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: IF, EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FONTES, M B A et al. Determinacao da taxa de deposicao com magnetrons sputtering atraves de parametros do plasma. 1993, Anais.. Campinas: Sbmicro, 1993. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Fontes, M. B. A., Yamamoto, R. K., Maciel, H. S., & Acquadro Quacchia, J. C. (1993). Determinacao da taxa de deposicao com magnetrons sputtering atraves de parametros do plasma. In Anais. Campinas: Sbmicro.
NLM
Fontes MBA, Yamamoto RK, Maciel HS, Acquadro Quacchia JC. Determinacao da taxa de deposicao com magnetrons sputtering atraves de parametros do plasma. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Fontes MBA, Yamamoto RK, Maciel HS, Acquadro Quacchia JC. Determinacao da taxa de deposicao com magnetrons sputtering atraves de parametros do plasma. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Trabalho de evento
Sal601-er7 as a negative tone resist for mask - making (1993)
Seabra, Antonio Carlos ; Jonckheere, R; Van den Hove, L
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SEABRA, Antonio Carlos e JONCKHEERE, R e VAN DEN HOVE, L. Sal601-er7 as a negative tone resist for mask - making. 1993, Anais.. Campinas: Sbmicro, 1993. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Seabra, A. C., Jonckheere, R., & Van den Hove, L. (1993). Sal601-er7 as a negative tone resist for mask - making. In Anais. Campinas: Sbmicro.
NLM
Seabra AC, Jonckheere R, Van den Hove L. Sal601-er7 as a negative tone resist for mask - making. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Seabra AC, Jonckheere R, Van den Hove L. Sal601-er7 as a negative tone resist for mask - making. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Trabalho de evento
Set containment and cube expansion with binary decision diagrams for logic synthesis (1993)
Wang, Jiang Chau
Source: Anais. Conference titles: Seminario Integrado de Software e Hardware. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
WANG, Jiang Chau. Set containment and cube expansion with binary decision diagrams for logic synthesis. 1993, Anais.. Florianopolis: Sbc, 1993. . Acesso em: 06 nov. 2024.
APA
Wang, J. C. (1993). Set containment and cube expansion with binary decision diagrams for logic synthesis. In Anais. Florianopolis: Sbc.
NLM
Wang JC. Set containment and cube expansion with binary decision diagrams for logic synthesis. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]
Vancouver
Wang JC. Set containment and cube expansion with binary decision diagrams for logic synthesis. Anais. 1993 ;[citado 2024 nov. 06 ]

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