Caracterização estrutural do silício poroso (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Workshop Paranaense de Microeletronica
-
ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterização estrutural do silício poroso. 1994, Anais.. Curitiba: Rhae/Cnpq, 1994. . Acesso em: 03 mar. 2026. -
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterização estrutural do silício poroso. In Anais. Curitiba: Rhae/Cnpq. -
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterização estrutural do silício poroso. Anais. 1994 ;[citado 2026 mar. 03 ] -
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterização estrutural do silício poroso. Anais. 1994 ;[citado 2026 mar. 03 ] - Macroporous silicon structure functionalized by methylene blue to ph measurements application
- Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso
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