Electrical behaviour of thin films porous silicon layers (1995)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 1995
- Conference titles: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science
-
ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 18 nov. 2025. -
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1995). Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. -
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995 ;[citado 2025 nov. 18 ] -
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995 ;[citado 2025 nov. 18 ] - Porous silicon electrode modified with methylene blue
- Macroporous silicon structure functionalized by methylene blue to ph measurements application
- Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso
- 2-D and 3-D photonic crystals fabrication by self-assembling of polystyrene micro spheres
- The effect of the thermal annealing on the porous silicon bragg reflector
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- Microporos em silicio para aplicacoes em sensores
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