Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Ifusp/Epusp/Ipt
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título: Cbecimat: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais
-
ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 28 jan. 2026. -
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt. -
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2026 jan. 28 ] -
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterização do envelhecimento de filmes de silício poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2026 jan. 28 ] - Sensor de umidade implementado com diodo schottky sobre silicio poroso
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