Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos (1995)
- Authors:
- Autor USP: MARTINO, JOAO ANTONIO - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Seminario Brasileiro de Caracterizacao em Microeletronica
-
ABNT
KIMURA, G W F e SONNENBERG, Victor e MARTINO, João Antonio. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. 1995, Anais.. Curitiba: Copel, 1995. . Acesso em: 24 fev. 2026. -
APA
Kimura, G. W. F., Sonnenberg, V., & Martino, J. A. (1995). Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. In Anais. Curitiba: Copel. -
NLM
Kimura GWF, Sonnenberg V, Martino JA. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. Anais. 1995 ;[citado 2026 fev. 24 ] -
Vancouver
Kimura GWF, Sonnenberg V, Martino JA. Programa didatico para o estudo de capacitores mos na caracterizacao de processos. Anais. 1995 ;[citado 2026 fev. 24 ] - Impact of TiN metal gate thickness and the HsSiO nitridation on MuGFETs electrical performance
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