ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator (2023)
Kagerer, Philipp ; Morelhão, Sergio L.
Source: Physical Review Research. Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS, MATERIAIS MAGNÉTICOS, ESTRUTURA ELETRÔNICA, FERROMAGNETISMO, MEDIDA DE LEBESGUE
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ABNT
KAGERER, Philipp e MORELHÃO, Sergio L. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, v. 5, n. 2, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Kagerer, P., & Morelhão, S. L. (2023). Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator. Physical Review Research, 5( 2). doi:10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
NLM
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
Vancouver
Kagerer P, Morelhão SL. Two-dimensional ferromagnetic extension of a topological insulator [Internet]. Physical Review Research. 2023 ; 5( 2):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.L022019
Artigo de periodico
Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase (2023)
Singh, Hardepinder; Gupta, Mukul; Gupta, Pooja; Penacchio, Rafaela ; Morelhao, Sergio L. ; Kumar, Hardeep
Source: Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, TUNGSTÊNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
SINGH, Hardepinder et al. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), v. 129, n. 5, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Singh, H., Gupta, M., Gupta, P., Penacchio, R., Morelhao, S. L., & Kumar, H. (2023). Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), 129( 5). doi:10.1007/s00339-023-06552-x
NLM
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Vancouver
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Artigo de periodico
Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Fornari, Celso I.; Camillo, Yorí G.; Kagerer, Philipp; Buchberger, Sebastian; Kamp, Martin; Bentmann, Hendrik; Reinert, Friedrich; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Thin Solid Films. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, CAMPO MAGNÉTICO
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator. Thin Solid Films, v. 750, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Penacchio, R. F. da S., Fornari, C. I., Camillo, Y. G., Kagerer, P., Buchberger, S., Kamp, M., et al. (2022). Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator. Thin Solid Films, 750. doi:10.1016/j.tsf.2022.139183
NLM
Penacchio RF da S, Fornari CI, Camillo YG, Kagerer P, Buchberger S, Kamp M, Bentmann H, Reinert F, Morelhão SL. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator [Internet]. Thin Solid Films. 2022 ; 750[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183
Vancouver
Penacchio RF da S, Fornari CI, Camillo YG, Kagerer P, Buchberger S, Kamp M, Bentmann H, Reinert F, Morelhão SL. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator [Internet]. Thin Solid Films. 2022 ; 750[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2022.139183
Relatorio tecnico
Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles (2022)
Valério, Adriana ; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício Bastos ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, RAIOS X
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ABNT
VALÉRIO, Adriana et al. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2022
APA
Valério, A., Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., & Morelhão, S. L. (2022). Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
NLM
Valério A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Morelhão SL. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
Vancouver
Valério A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Morelhão SL. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
Relatorio tecnico
A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Fornari, Celso I.; Kagerer, Philipp; Dittmar, Marco; Müller, Simon; Reinert, Friedrich; Estradiote, Maurício Bastos ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: TOPOLOGIA, RAIOS X
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2022
APA
Penacchio, R. F. da S., Fornari, C. I., Kagerer, P., Dittmar, M., Müller, S., Reinert, F., et al. (2022). A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
NLM
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Vancouver
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Artigo de periodico
Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates (2022)
Kumar, Hardeep; Morelhão, Sergio Luiz ; Pessotto, Gerson de Carli Proença de Almeida ; Singh, Hardepinder; Sinha, Anil K.; Cornejo, Daniel Reinaldo
Source: Journal of Magnetism and Magnetic Materials. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, RADIAÇÃO SINCROTRON, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
KUMAR, Hardeep et al. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, v. 556, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Kumar, H., Morelhão, S. L., Pessotto, G. de C. P. de A., Singh, H., Sinha, A. K., & Cornejo, D. R. (2022). Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates. Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 556. doi:10.1016/j.jmmm.2022.169442
NLM
Kumar H, Morelhão SL, Pessotto G de CP de A, Singh H, Sinha AK, Cornejo DR. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2022 ; 556[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442
Vancouver
Kumar H, Morelhão SL, Pessotto G de CP de A, Singh H, Sinha AK, Cornejo DR. Structural and magnetic properties of FeRh films grown on MgO(001) MgO(011) and MgO(111) substrates [Internet]. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2022 ; 556[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2022.169442
Relatorio tecnico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sergio Luiz. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2020
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Trabalho de evento-resumo
Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources (2020)
Estradiote, Maurício B; Penacchio, Rafaela F S; Valério, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO SINCROTRON
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ABNT
ESTRADIOTE, Maurício B et al. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Estradiote, M. B., Penacchio, R. F. S., Valério, A., & Morelhão, S. L. (2020). Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
NLM
Estradiote MB, Penacchio RFS, Valério A, Morelhão SL. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
Vancouver
Estradiote MB, Penacchio RFS, Valério A, Morelhão SL. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F S; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: SILÍCIO
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ABNT
VALERIO, Adriana e PENACCHIO, Rafaela F S e MORELHÃO, Sergio Luiz. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., & Morelhão, S. L. (2020). Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Morelhão SL. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Morelhão SL. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
Relatorio tecnico
Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Avanci, L H; Freitas, R; Quivy, Alain André
Unidade: IF
Subjects: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. . Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Freitas, R., & Quivy, A. A. (2020). Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Artigo de periodico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sérgio L.
Source: Radiation Physics and Chemistry. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sérgio L. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, v. 167, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, 167. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Artigo de periodico
New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies (2020)
Cordeiro,A J P; Silva, L F da; Paschoal Jr., W; Morelhão, Sergio Luiz ; Saraiva, G D; Freire, P T C; Moreira, S G C; Sousa, F F de
Source: Vibrational Spectroscopy. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TRANSFORMADA DE FOURIER, ESPECTROSCOPIA RAMAN
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CORDEIRO, A J P et al. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, v. 111, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Cordeiro, A. J. P., Silva, L. F. da, Paschoal Jr., W., Morelhão, S. L., Saraiva, G. D., Freire, P. T. C., et al. (2020). New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, 111. doi:10.1016/j.vibspec.2020.103174
NLM
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Vancouver
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Artigo de periodico
Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films (2020)
Fornari, Celso I; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: EURÓPIO, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNARI, Celso I e MORELHÃO, Sergio Luiz. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, v. 124, n. 29, p. 16048–16057, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Fornari, C. I., & Morelhão, S. L. (2020). Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, 124( 29), 16048–16057. doi:10.1021/acs.jpcc.0c05077
NLM
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Vancouver
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Apresentacao sonora/cenica/entrevista
O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] (2020)
Morelhao, Sergio L.
Source: IFUSP-Física para Todos. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA MODERNA, NEUROCIÊNCIAS, MECÂNICA QUÂNTICA, REDES NEURAIS, DIVULGAÇÃO CIENTÍFICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHAO, Sergio L. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Disponível em: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhao, S. L. (2020). O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Recuperado de https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
NLM
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Vancouver
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Artigo de periodico
Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles (2020)
Cabral, Alex J Freitas; Valerio, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz ; Checca, Noemi R; Soares, Marcio M; Remedios, Claudio M R
Source: Crystal Growth Design. Unidade: IF
Assunto: NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CABRAL, Alex J Freitas et al. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles. Crystal Growth Design, v. 20, p. 600−607, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Cabral, A. J. F., Valerio, A., Morelhão, S. L., Checca, N. R., Soares, M. M., & Remedios, C. M. R. (2020). Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles. Crystal Growth Design, 20, 600−607. doi:10.1021/acs.cgd.9b00896
NLM
Cabral AJF, Valerio A, Morelhão SL, Checca NR, Soares MM, Remedios CMR. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles [Internet]. Crystal Growth Design. 2020 ; 20 600−607.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896
Vancouver
Cabral AJF, Valerio A, Morelhão SL, Checca NR, Soares MM, Remedios CMR. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles [Internet]. Crystal Growth Design. 2020 ; 20 600−607.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896
Trabalho de evento-resumo
Computational tools for structural modeling of quantum devices (2020)
Silva, Yorí Galisteu Camillo da; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Subjects: ELETRÔNICA, ÓPTICA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Yorí Galisteu Camillo da e MORELHÃO, Sergio Luiz. Computational tools for structural modeling of quantum devices. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Silva, Y. G. C. da, & Morelhão, S. L. (2020). Computational tools for structural modeling of quantum devices. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
NLM
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
Vancouver
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
Relatorio tecnico
On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system (2020)
Avanci, L H; Remedios, C M R; Quivy, Alain André ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AVANCI, L H et al. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2020
APA
Avanci, L. H., Remedios, C. M. R., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2020). On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
NLM
Avanci LH, Remedios CMR, Quivy AA, Morelhão SL. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
Vancouver
Avanci LH, Remedios CMR, Quivy AA, Morelhão SL. On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0411508.pdf
Artigo de periodico
Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) (2020)
Kagerer, Philipp ; Fornari, Celso Israel ; Buchberger, S.; Morelhao, Sergio L.; Vidal, R. C.; Tcakaev, Abdul-Vakhab ; Zabolotnyy, V.; Weschke, E.; Hinkov, Vladimir ; Kamp, Martin ; Büchner, B.; Isaeva, Anna ; Bentmann, H.; Reinert, F.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DO ESTADO SÓLIDO, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, FILMES FINOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
KAGERER, Philipp et al. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, v. 128, n. 13, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0025933. Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Kagerer, P., Fornari, C. I., Buchberger, S., Morelhao, S. L., Vidal, R. C., Tcakaev, A. -V., et al. (2020). Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111). Journal of Applied Physics, 128( 13). doi:10.1063/5.0025933
NLM
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhao SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933
Vancouver
Kagerer P, Fornari CI, Buchberger S, Morelhao SL, Vidal RC, Tcakaev A-V, Zabolotnyy V, Weschke E, Hinkov V, Kamp M, Büchner B, Isaeva A, Bentmann H, Reinert F. Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) [Internet]. Journal of Applied Physics. 2020 ; 128( 13):[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0025933
Relatorio tecnico
Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles (2019)
Valério, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALÉRIO, Adriana e MORELHÃO, Sergio Luiz. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1911.00701. Acesso em: 03 nov. 2025. , 2019
APA
Valério, A., & Morelhão, S. L. (2019). Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1911.00701
NLM
Valério A, Morelhão SL. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles [Internet]. 2019 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00701
Vancouver
Valério A, Morelhão SL. Usage of scherrer's formula in X-ray di raction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles [Internet]. 2019 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00701
Trabalho de evento-resumo
X-ray data analysis methods for studying in situ crystallization processes - case study of bismuth ferrite (2019)
Valerio, Adriana; Cabral, Alex Junior de Freitas; Remédios, Cláudio Márcio Rocha; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Abstracts. Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física - EOSBF. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. X-ray data analysis methods for studying in situ crystallization processes - case study of bismuth ferrite. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2019. . Acesso em: 03 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Cabral, A. J. de F., Remédios, C. M. R., & Morelhão, S. L. (2019). X-ray data analysis methods for studying in situ crystallization processes - case study of bismuth ferrite. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF.
NLM
Valerio A, Cabral AJ de F, Remédios CMR, Morelhão SL. X-ray data analysis methods for studying in situ crystallization processes - case study of bismuth ferrite. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 03 ]
Vancouver
Valerio A, Cabral AJ de F, Remédios CMR, Morelhão SL. X-ray data analysis methods for studying in situ crystallization processes - case study of bismuth ferrite. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 03 ]

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