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Trabalho de evento-resumo
Fotônica à base de silício (2015)
Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Livro de Resumos. Conference titles: Simpósio de Aplicações de Óptica e Lasers - SOL. Unidade: IFSC
Subjects: FOTÔNICA, SILÍCIO
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. Fotônica à base de silício. 2015, Anais.. São José dos Campos: Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial - DCTA - Instituto de Estudos Avançados - IEAv, 2015. Disponível em: http://media.wix.com/ugd/b61cc5_55c719ce6d904e21afcd4a6a54c7aad9.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2015). Fotônica à base de silício. In Livro de Resumos. São José dos Campos: Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial - DCTA - Instituto de Estudos Avançados - IEAv. Recuperado de http://media.wix.com/ugd/b61cc5_55c719ce6d904e21afcd4a6a54c7aad9.pdf
NLM
Zanatta AR. Fotônica à base de silício [Internet]. Livro de Resumos. 2015 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://media.wix.com/ugd/b61cc5_55c719ce6d904e21afcd4a6a54c7aad9.pdf
Vancouver
Zanatta AR. Fotônica à base de silício [Internet]. Livro de Resumos. 2015 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://media.wix.com/ugd/b61cc5_55c719ce6d904e21afcd4a6a54c7aad9.pdf
Artigo de periodico
On the structural-optical properties of Al-containing amorphous Si thin films and the metal-induced crystallization phenomenon (2014)
Zanatta, Antonio Ricardo ; Kordesch, M. E.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: SILÍCIO, ALUMÍNIO, FILMES FINOS (COMPOSIÇÃO;ESTRUTURA;PROPRIEDADES)
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo e KORDESCH, M. E. On the structural-optical properties of Al-containing amorphous Si thin films and the metal-induced crystallization phenomenon. Journal of Applied Physics, v. 116, n. 7, p. 073511-1-073511-7, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4893654. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R., & Kordesch, M. E. (2014). On the structural-optical properties of Al-containing amorphous Si thin films and the metal-induced crystallization phenomenon. Journal of Applied Physics, 116( 7), 073511-1-073511-7. doi:10.1063/1.4893654
NLM
Zanatta AR, Kordesch ME. On the structural-optical properties of Al-containing amorphous Si thin films and the metal-induced crystallization phenomenon [Internet]. Journal of Applied Physics. 2014 ; 116( 7): 073511-1-073511-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4893654
Vancouver
Zanatta AR, Kordesch ME. On the structural-optical properties of Al-containing amorphous Si thin films and the metal-induced crystallization phenomenon [Internet]. Journal of Applied Physics. 2014 ; 116( 7): 073511-1-073511-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4893654
Tese (Doutorado)
Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades (2014)
Gallo, Ivan Braga; Zanatta, Antonio Ricardo (Orientador)
Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA, TERRAS RARAS, SILÍCIO, FOTOLUMINESCÊNCIA, INFRAVERMELHO
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ABNT
GALLO, Ivan Braga. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades. 2014. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Gallo, I. B. (2014). Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
NLM
Gallo IB. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades [Internet]. 2014 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
Vancouver
Gallo IB. Microcavidades ópticas à base de silício: projeto, confecção e propriedades [Internet]. 2014 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-21102014-093430/
Artigo de periodico
A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities (2013)
Gallo, I. B.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, ÓPTICA, SILÍCIO
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ABNT
GALLO, I. B. e ZANATTA, Antonio Ricardo. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, v. 113, n. 8, p. 083106-1-083106-7, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4793592. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2013). A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, 113( 8), 083106-1-083106-7. doi:10.1063/1.4793592
NLM
Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592
Vancouver
Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592
Trabalho de evento-resumo
The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films: fundamentals and advancements (2012)
Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: SILÍCIO, GERMÂNIO, FILMES FINOS (COMPOSIÇÃO;ESTRUTURA;PROPRIEDADES)
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films: fundamentals and advancements. 2012, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2012. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0811-1.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2012). The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films: fundamentals and advancements. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0811-1.pdf
NLM
Zanatta AR. The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films: fundamentals and advancements [Internet]. Resumos. 2012 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0811-1.pdf
Vancouver
Zanatta AR. The metal-induced crystallization of amorphous Si and Ge thin films: fundamentals and advancements [Internet]. Resumos. 2012 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0811-1.pdf
Artigo de periodico
Development of the 'MN''SI IND. 1.7' phase in 'MN'-containing 'SI' films (2011)
Ferri, F. A.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Materials Chemistry and Physics. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, FERROMAGNETISMO, MANGANÊS (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), FILMES FINOS, SILÍCIO
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ABNT
FERRI, F. A. e SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da e ZANATTA, Antonio Ricardo. Development of the 'MN''SI IND. 1.7' phase in 'MN'-containing 'SI' films. Materials Chemistry and Physics, v. 129, n. 1/2, p. 148-153, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2011.03.064. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Silva, M. de A. P. da, & Zanatta, A. R. (2011). Development of the 'MN''SI IND. 1.7' phase in 'MN'-containing 'SI' films. Materials Chemistry and Physics, 129( 1/2), 148-153. doi:10.1016/j.matchemphys.2011.03.064
NLM
Ferri FA, Silva M de AP da, Zanatta AR. Development of the 'MN''SI IND. 1.7' phase in 'MN'-containing 'SI' films [Internet]. Materials Chemistry and Physics. 2011 ; 129( 1/2): 148-153.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2011.03.064
Vancouver
Ferri FA, Silva M de AP da, Zanatta AR. Development of the 'MN''SI IND. 1.7' phase in 'MN'-containing 'SI' films [Internet]. Materials Chemistry and Physics. 2011 ; 129( 1/2): 148-153.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2011.03.064
Trabalho de evento-resumo
Development of the Mn'Si IND. 1.7' phase in Mn-containing Si films (2011)
Ferri, F. A.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, FERROMAGNETISMO, MANGANÊS (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), FILMES FINOS, SILÍCIO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, F. A. e SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da e ZANATTA, Antonio Ricardo. Development of the Mn'Si IND. 1.7' phase in Mn-containing Si films. 2011, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2011. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0258-3.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Silva, M. de A. P. da, & Zanatta, A. R. (2011). Development of the Mn'Si IND. 1.7' phase in Mn-containing Si films. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0258-3.pdf
NLM
Ferri FA, Silva M de AP da, Zanatta AR. Development of the Mn'Si IND. 1.7' phase in Mn-containing Si films [Internet]. Resumos. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0258-3.pdf
Vancouver
Ferri FA, Silva M de AP da, Zanatta AR. Development of the Mn'Si IND. 1.7' phase in Mn-containing Si films [Internet]. Resumos. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0258-3.pdf
Tese (Livre Docência)
Filmes semicondutores amorfos a base de Si (2011)
Zanatta, Antonio Ricardo
Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. Filmes semicondutores amorfos a base de Si. 2011. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2011. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/76/tde-03092015-175047/. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2011). Filmes semicondutores amorfos a base de Si (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/76/tde-03092015-175047/
NLM
Zanatta AR. Filmes semicondutores amorfos a base de Si [Internet]. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/76/tde-03092015-175047/
Vancouver
Zanatta AR. Filmes semicondutores amorfos a base de Si [Internet]. 2011 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/76/tde-03092015-175047/
Trabalho de evento-resumo
Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro (2009)
Gallo, Ivan Braga; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação em Física do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS (ESTUDO;APLICAÇÕES), FOTÔNICA, SILÍCIO, COMUNICAÇÃO ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALLO, Ivan Braga e ZANATTA, Antonio Ricardo. Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro. 2009, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2009. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2009). Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Gallo IB, Zanatta AR. Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro. Caderno de Resumos. 2009 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Gallo IB, Zanatta AR. Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro. Caderno de Resumos. 2009 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Síntese e caracterização de filmes de silício e germânio amorfo dopados com manganês (2008)
Ferri, F. A.; Zanatta, Antonio Ricardo ; Freire Junior, F. L.; Iwamoto, W. A.; Rettori, C.; Pagliuso, P. G.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, MATERIAIS (PROPRIEDADES ELETROMAGNÉTICAS), MICROSCOPIA ELETRÔNICA (TÉCNICAS), SILÍCIO, GERMÂNIO, MANGANÊS
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ABNT
FERRI, F. A. et al. Síntese e caracterização de filmes de silício e germânio amorfo dopados com manganês. 2008, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-2.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Zanatta, A. R., Freire Junior, F. L., Iwamoto, W. A., Rettori, C., & Pagliuso, P. G. (2008). Síntese e caracterização de filmes de silício e germânio amorfo dopados com manganês. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-2.pdf
NLM
Ferri FA, Zanatta AR, Freire Junior FL, Iwamoto WA, Rettori C, Pagliuso PG. Síntese e caracterização de filmes de silício e germânio amorfo dopados com manganês [Internet]. Resumos. 2008 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-2.pdf
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR, Freire Junior FL, Iwamoto WA, Rettori C, Pagliuso PG. Síntese e caracterização de filmes de silício e germânio amorfo dopados com manganês [Internet]. Resumos. 2008 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo (2008)
Ferri, F. A.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL, CRISTALIZAÇÃO, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, F. A. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo. 2008, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-1.pdf. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2008). Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-1.pdf
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo [Internet]. Resumos. 2008 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-1.pdf
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização e stress devidos à presença de níquel em filmes de silício amorfo [Internet]. Resumos. 2008 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxi/sys/resumos/R0075-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Livro de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Livro de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Dissertação (Mestrado)
Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo (2007)
Ferri, Fábio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo (Orientador)
Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fábio Aparecido. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. 2007. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2007. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-11042007-132511/. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A. (2007). Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-11042007-132511/
NLM
Ferri FA. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo [Internet]. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-11042007-132511/
Vancouver
Ferri FA. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo [Internet]. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-11042007-132511/
Trabalho de evento-resumo
Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
Ferri, F. A.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: SILÍCIO, ESPECTROSCOPIA, FILMES FINOS (AMOSTRA;ESTUDO), ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, F. A. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2007. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação númerica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Resumos. 2007 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Artigo de periodico
Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo ; Chambouleyron, I.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo e CHAMBOULEYRON, I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, v. No 2006, n. 9, p. 094311-1-094311-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2362877. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Zanatta, A. R., & Chambouleyron, I. (2006). Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, No 2006( 9), 094311-1-094311-7. doi:10.1063/1.2362877
NLM
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, CRISTALIZAÇÃO, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. 2006, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2006. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr (2005)
Oliveira, Victor I.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, SILÍCIO, ÓPTICA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Victor I. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Oliveira, V. I., & Zanatta, A. R. (2005). Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Dissertação (Mestrado)
Propriedades ópticas de filmes finos de Silício amorfo hidrogenado dopados com Érbio (2005)
Oliveira, Victor Inacio de; Zanatta, Antonio Ricardo (Orientador)
Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Victor Inacio de. Propriedades ópticas de filmes finos de Silício amorfo hidrogenado dopados com Érbio. 2005. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2005. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-06052008-143921/. Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Oliveira, V. I. de. (2005). Propriedades ópticas de filmes finos de Silício amorfo hidrogenado dopados com Érbio (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-06052008-143921/
NLM
Oliveira VI de. Propriedades ópticas de filmes finos de Silício amorfo hidrogenado dopados com Érbio [Internet]. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-06052008-143921/
Vancouver
Oliveira VI de. Propriedades ópticas de filmes finos de Silício amorfo hidrogenado dopados com Érbio [Internet]. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-06052008-143921/
Trabalho de evento-resumo
Filmes de silício amorfo dopados com níquel (2005)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, CRISTALIZAÇÃO, ESPECTROSCOPIA RAMAN, SILÍCIO, NÍQUEL
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. 2005, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2005. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2005). Filmes de silício amorfo dopados com níquel. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Filmes de silício amorfo dopados com níquel. Caderno de Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Fimes de silício amorfo dopados com níquel (2005)
Zanatta, Antonio Ricardo ; Ferri, Fabio
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo e FERRI, Fabio. Fimes de silício amorfo dopados com níquel. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 02 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R., & Ferri, F. (2005). Fimes de silício amorfo dopados com níquel. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Zanatta AR, Ferri F. Fimes de silício amorfo dopados com níquel. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]
Vancouver
Zanatta AR, Ferri F. Fimes de silício amorfo dopados com níquel. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 02 ]

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