Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão (2007)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: FILMES FINOS; SILÍCIO; ESPECTROSCOPIA; ÓPTICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Instituto de Física de São Carlos - USP
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2007
- Source:
- Título: Livro de Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Carlos : Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007
- Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC
-
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. 2007, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2007. . Acesso em: 24 jan. 2026. -
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2007). Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. In Livro de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP. -
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2026 jan. 24 ] -
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Determinação numérica da espessura e das constantes ópticas de filmes de silício amorfo dopados com níquel através de espectroscopia de transmissão. Livro de Resumos. 2007 ;[citado 2026 jan. 24 ] - Erbium luminescence in a-Si : H
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