Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr (2005)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: SEMICONDUTORES; SILÍCIO; ÓPTICA; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2005
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2005
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC
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ABNT
OLIVEIRA, Victor I. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Oliveira, V. I., & Zanatta, A. R. (2005). Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 abr. 24 ] - Structural investigation of cobalt oxide films grown by reactive DC magnetron sputtering
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