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Trabalho de evento
A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density (2001)
Toquetti, Leandro Zeidan; Nogueira, Willian Aurélio; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2001: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
TOQUETTI, Leandro Zeidan e NOGUEIRA, Willian Aurélio e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Toquetti, L. Z., Nogueira, W. A., & Santos Filho, S. G. dos. (2001). A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.
NLM
Toquetti LZ, Nogueira WA, Santos Filho SG dos. A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Toquetti LZ, Nogueira WA, Santos Filho SG dos. A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions (2001)
Reis, Ronaldo Willian; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2001: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
REIS, Ronaldo Willian e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Reis, R. W., & Santos Filho, S. G. dos. (2001). Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.
NLM
Reis RW, Santos Filho SG dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Reis RW, Santos Filho SG dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts fabricated onto N+P junctions. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer (2001)
Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2001: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
ARAÚJO, Hugo Puertas de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Araújo, H. P. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2001). Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.
NLM
Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Temporal evolution of roughness in electroless copper films (2001)
Hasan, Nasser Mahmoud; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Schwazacher, Walter
Fonte: SBMicro 2001: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
HASAN, Nasser Mahmoud e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SCHWAZACHER, Walter. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Hasan, N. M., Santos Filho, S. G. dos, & Schwazacher, W. (2001). Temporal evolution of roughness in electroless copper films. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.
NLM
Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS) (2000)
Souza Filho, José Cândido de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2000: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
SOUZA FILHO, José Cândido de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Souza Filho, J. C. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). In SBMicro 2000: proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Souza Filho JC de, Santos Filho SG dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Souza Filho JC de, Santos Filho SG dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Partial dielectric breakdown in MOS gate oxide grown by RTO (2000)
Nogueira, Willian Aurélio; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2000: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
NOGUEIRA, Willian Aurélio e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Partial dielectric breakdown in MOS gate oxide grown by RTO. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Nogueira, W. A., & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Partial dielectric breakdown in MOS gate oxide grown by RTO. In SBMicro 2000: proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Nogueira WA, Santos Filho SG dos. Partial dielectric breakdown in MOS gate oxide grown by RTO. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Nogueira WA, Santos Filho SG dos. Partial dielectric breakdown in MOS gate oxide grown by RTO. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Electrical simulations of gate-controlled diodes in order to show their feasibility as luminous radiation sensors (2000)
Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2000 : proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ARAÚJO, Hugo Puertas de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Electrical simulations of gate-controlled diodes in order to show their feasibility as luminous radiation sensors. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Araújo, H. P. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Electrical simulations of gate-controlled diodes in order to show their feasibility as luminous radiation sensors. In SBMicro 2000 : proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Electrical simulations of gate-controlled diodes in order to show their feasibility as luminous radiation sensors. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Electrical simulations of gate-controlled diodes in order to show their feasibility as luminous radiation sensors. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors (2000)
Navia, Alan Rodrigo; Sonnenberg, Victor ; Marques, Angelo Eduardo Battistini; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Martino, João Antonio
Fonte: SBMicro 2000 : proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
NAVIA, Alan Rodrigo et al. Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Navia, A. R., Sonnenberg, V., Marques, A. E. B., Santos Filho, S. G. dos, & Martino, J. A. (2000). Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors. In SBMicro 2000 : proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Navia AR, Sonnenberg V, Marques AEB, Santos Filho SG dos, Martino JA. Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Navia AR, Sonnenberg V, Marques AEB, Santos Filho SG dos, Martino JA. Electrical characterization of thin nickel films obtained from electroless plating onto aluminum gate of MOS capacitors. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
A new experimental procedure to obtain the refractive index of MOS gate oxynitrides grown by RTP in N2O atmosphere (2000)
Toquetti, Leandro Zeidan; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2000: proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
TOQUETTI, Leandro Zeidan e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. A new experimental procedure to obtain the refractive index of MOS gate oxynitrides grown by RTP in N2O atmosphere. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Toquetti, L. Z., & Santos Filho, S. G. dos. (2000). A new experimental procedure to obtain the refractive index of MOS gate oxynitrides grown by RTP in N2O atmosphere. In SBMicro 2000: proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Toquetti LZ, Santos Filho SG dos. A new experimental procedure to obtain the refractive index of MOS gate oxynitrides grown by RTP in N2O atmosphere. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Toquetti LZ, Santos Filho SG dos. A new experimental procedure to obtain the refractive index of MOS gate oxynitrides grown by RTP in N2O atmosphere. SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento
Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces (2000)
Marques, Angelo Eduardo Battistini; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Fonte: SBMicro 2000 : proceedings. Nome do evento: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MARQUES, Angelo Eduardo Battistini e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces. 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Marques, A. E. B., & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces. In SBMicro 2000 : proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Marques AEB, Santos Filho SG dos. Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Marques AEB, Santos Filho SG dos. Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces. SBMicro 2000 : proceedings. 2000 ;[citado 2025 nov. 23 ]

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