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  • Trabalho de evento-anais periodico

    Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan (2010)

    Menezes, Alan S de; Santos, Adenilson O dos; Almeida, Juliana M A; Bortoleto, José R R; Cotta, Monica A; Morelhão, Sérgio Luiz; Cardoso, Lisandro Pavie

    Source: Crystal Growth & Design. Conference titles: 40th Anniversary Conference of the British Association for Crystal Growth (BACG). Unidade: IF

    Subjects: EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, RADIAÇÃO SINCROTRON

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      MENEZES, Alan S de et al. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design. Washington, DC: The Society. Disponível em: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x. Acesso em: 26 abr. 2024. , 2010

    • APA

      Menezes, A. S. de, Santos, A. O. dos, Almeida, J. M. A., Bortoleto, J. R. R., Cotta, M. A., Morelhão, S. L., & Cardoso, L. P. (2010). Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design. Washington, DC: The Society. Recuperado de http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x

    • NLM

      Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x

    • Vancouver

      Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x

  • Artigo de periodico

    Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials (2010)

    Morelhão, Sérgio Luiz; Coelho, Paulo G; Hönnicke, Marcelo G

    Source: European Biophysics Journal. Unidade: IF

    Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz e COELHO, Paulo G e HÖNNICKE, Marcelo G. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials. European Biophysics Journal, v. 39, n. 5, p. 861-865, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L., Coelho, P. G., & Hönnicke, M. G. (2010). Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials. European Biophysics Journal, 39( 5), 861-865. doi:10.1007/s00249-009-0541-y

    • NLM

      Morelhão SL, Coelho PG, Hönnicke MG. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials [Internet]. European Biophysics Journal. 2010 ; 39( 5): 861-865.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y

    • Vancouver

      Morelhão SL, Coelho PG, Hönnicke MG. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials [Internet]. European Biophysics Journal. 2010 ; 39( 5): 861-865.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y

  • Trabalho de evento-anais periodico

    Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction (2009)

    Freitas, Raul de Oliveira; Diaz, Beatriz; Abramof, Eduardo; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Conference titles: Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging. Unidade: IF

    Subjects: POÇOS QUÂNTICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      FREITAS, Raul de Oliveira et al. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART. Acesso em: 26 abr. 2024. , 2009

    • APA

      Freitas, R. de O., Diaz, B., Abramof, E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2009). Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART

    • NLM

      Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART

    • Vancouver

      Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART

  • Trabalho de evento-resumo

    Experimental study of the elliptical polarization in monochromatic sinchrotron x-ray beams (2009)

    Droppa Junior, R; Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Resumos de trabalhos científicos. Conference titles: Reunião Anual de Usuários do LNLS. Unidade: IF

    Subjects: FEIXES, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

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    • ABNT

      DROPPA JUNIOR, R e MORELHÃO, Sérgio Luiz. Experimental study of the elliptical polarization in monochromatic sinchrotron x-ray beams. 2009, Anais.. Campinas: LNLS, 2009. . Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Droppa Junior, R., & Morelhão, S. L. (2009). Experimental study of the elliptical polarization in monochromatic sinchrotron x-ray beams. In Resumos de trabalhos científicos. Campinas: LNLS.

    • NLM

      Droppa Junior R, Morelhão SL. Experimental study of the elliptical polarization in monochromatic sinchrotron x-ray beams. Resumos de trabalhos científicos. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ]

    • Vancouver

      Droppa Junior R, Morelhão SL. Experimental study of the elliptical polarization in monochromatic sinchrotron x-ray beams. Resumos de trabalhos científicos. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ]

  • Trabalho de evento-anais periodico

    Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction (2009)

    ; Santos, Adenilson Oliveira dos; Almeida, Juliana M A; Bortoleto, José R R; Cotta, Monica A; Morelhão, Sérgio Luiz; Cardoso, Lisandro Pavie

    Source: Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Conference titles: International Conference on High Pressure Semiconductor Physics. Unidade: IF

    Subjects: RADIAÇÃO SINCROTRON, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      , et al. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART. Acesso em: 26 abr. 2024. , 2009

    • APA

      ,, Santos, A. O. dos, Almeida, J. M. A., Bortoleto, J. R. R., Cotta, M. A., Morelhão, S. L., & Cardoso, L. P. (2009). Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART

    • NLM

      , Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction [Internet]. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. 2009 ; 246( 3):[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART

    • Vancouver

      , Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction [Internet]. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. 2009 ; 246( 3):[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART

  • Artigo de periodico

    Strong CTR-cap-layer coupling for X-ray scattering in InAs/GaAs (001) quantum dots systems (2009)

    Freitas, R O; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz

    Conference titles: Activity Report 2008: LNLS/Brazilian Synchrotron Light Laboratory. Unidade: IF

    Subjects: POÇOS QUÂNTICOS, SISTEMA QUÂNTICO, ESPALHAMENTO

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    • ABNT

      FREITAS, R O e QUIVY, A. A. e MORELHÃO, Sérgio Luiz. Strong CTR-cap-layer coupling for X-ray scattering in InAs/GaAs (001) quantum dots systems. 2009Tradução . . Disponível em: http://www.lnls.br/ar2008/web/index.html. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Freitas, R. O., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2009). Strong CTR-cap-layer coupling for X-ray scattering in InAs/GaAs (001) quantum dots systems. Recuperado de http://www.lnls.br/ar2008/web/index.html

    • NLM

      Freitas RO, Quivy AA, Morelhão SL. Strong CTR-cap-layer coupling for X-ray scattering in InAs/GaAs (001) quantum dots systems [Internet]. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.lnls.br/ar2008/web/index.html

    • Vancouver

      Freitas RO, Quivy AA, Morelhão SL. Strong CTR-cap-layer coupling for X-ray scattering in InAs/GaAs (001) quantum dots systems [Internet]. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.lnls.br/ar2008/web/index.html

  • Trabalho de evento

    A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia (2009)

    Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Palestra. Conference titles: Física para todos. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA, FÍSICA MÉDICA, RADIAÇÃO ELETROMAGNÉTICA, NANOTECNOLOGIA

    How to cite
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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. 2009, Anais.. São Paulo: IFUSP, 2009. . Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L. (2009). A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. In Palestra. São Paulo: IFUSP.

    • NLM

      Morelhão SL. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. Palestra. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ]

    • Vancouver

      Morelhão SL. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. Palestra. 2009 ;[citado 2024 abr. 26 ]

  • Artigo de periodico

    Multiple imaging radiography at LNLS (2008)

    Honnicke, M G; Cusatis, C; Antunes, A; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Unidades: FMVZ, IF

    Assunto: RADIAÇÃO SINCROTRON

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      HONNICKE, M G et al. Multiple imaging radiography at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, v. 584, n. 2-3, p. 418-423, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Honnicke, M. G., Cusatis, C., Antunes, A., Safatle, A. de M. V., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2008). Multiple imaging radiography at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, 584( 2-3), 418-423. doi:10.1016/j.nima.2007.10.036

    • NLM

      Honnicke MG, Cusatis C, Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. Multiple imaging radiography at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. 2008 ; 584( 2-3): 418-423.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036

    • Vancouver

      Honnicke MG, Cusatis C, Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. Multiple imaging radiography at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. 2008 ; 584( 2-3): 418-423.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036

  • Artigo de periodico

    Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system (2007)

    Freitas, Raul de Oliveira; Lamas, T. E.; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. Unidade: IF

    Assunto: SUPERFÍCIE FÍSICA

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      FREITAS, Raul de Oliveira et al. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science, v. 204, n. 8, p. 2548-2454, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Freitas, R. de O., Lamas, T. E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2007). Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science, 204( 8), 2548-2454. doi:10.1002/pssa.200675673

    • NLM

      Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system [Internet]. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. 2007 ; 204( 8): 2548-2454.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673

    • Vancouver

      Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system [Internet]. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. 2007 ; 204( 8): 2548-2454.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673

  • Artigo de periodico

    Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy (2007)

    Antunes, A; Gozzo, F V; Nakamura, M; Safatle, Angélica Mendonça Vaz; Morelhão, Sérgio Luiz; Toma, Henrique Eisi ; Barros, Paulo Sérgio de Moraes

    Source: Micron. Unidades: FMVZ, IF, IQ

    Subjects: MICROSCÓPIO ELETRÔNICO, TOMOGRAFIA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      ANTUNES, A et al. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy. Micron, v. 38, n. 3, p. 286-290, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Antunes, A., Gozzo, F. V., Nakamura, M., Safatle, A. M. V., Morelhão, S. L., Toma, H. E., & Barros, P. S. de M. (2007). Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy. Micron, 38( 3), 286-290. doi:10.1016/j.micron.2006.04.006

    • NLM

      Antunes A, Gozzo FV, Nakamura M, Safatle AMV, Morelhão SL, Toma HE, Barros PS de M. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy [Internet]. Micron. 2007 ; 38( 3): 286-290.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006

    • Vancouver

      Antunes A, Gozzo FV, Nakamura M, Safatle AMV, Morelhão SL, Toma HE, Barros PS de M. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy [Internet]. Micron. 2007 ; 38( 3): 286-290.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006

  • Artigo de periodico

    General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics (2007)

    Morelhão, Sérgio Luiz; Perrotta, André V

    Source: Revista Brasileira de Ensino de Física. Unidade: IF

    Subjects: EQUAÇÃO DE SCHRODINGER, ESPALHAMENTO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz e PERROTTA, André V. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics. Revista Brasileira de Ensino de Física, v. 29, n. 3, p. 331-339, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L., & Perrotta, A. V. (2007). General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics. Revista Brasileira de Ensino de Física, 29( 3), 331-339. doi:10.1590/s1806-11172007000300004

    • NLM

      Morelhão SL, Perrotta AV. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2007 ; 29( 3): 331-339.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004

    • Vancouver

      Morelhão SL, Perrotta AV. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2007 ; 29( 3): 331-339.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004

  • Artigo de periodico

    Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers (2007)

    Morelhão, Sérgio Luiz; Domagala, Jarek Z

    Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz e DOMAGALA, Jarek Z. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers. Journal of Applied Crystallography, v. 40, p. 546-551, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L., & Domagala, J. Z. (2007). Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers. Journal of Applied Crystallography, 40, 546-551. doi:10.1107/s002188980701521x

    • NLM

      Morelhão SL, Domagala JZ. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2007 ; 40 546-551.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x

    • Vancouver

      Morelhão SL, Domagala JZ. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2007 ; 40 546-551.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x

  • Trabalho de evento-resumo

    Topography of ocular pathology: an application to characterize cataract maturation stages (2007)

    Gozzo, Fernanda V; Morelhao, Sergio Luiz; Nakamura, Marcelo ; Toma, Henrique Eisi ; Borella, Maria Inês; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Antunes, Andrea

    Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, IQ, ICB, FMVZ

    Subjects: BIOFÍSICA, TOPOGRAFIA MÉDICA, CÃES, OFTALMOLOGIA VETERINÁRIA, CATARATA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GOZZO, Fernanda V et al. Topography of ocular pathology: an application to characterize cataract maturation stages. 2007, Anais.. São Paulo: SBF, 2007. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0292-1.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Gozzo, F. V., Morelhao, S. L., Nakamura, M., Toma, H. E., Borella, M. I., Safatle, A. de M. V., et al. (2007). Topography of ocular pathology: an application to characterize cataract maturation stages. In . São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0292-1.pdf

    • NLM

      Gozzo FV, Morelhao SL, Nakamura M, Toma HE, Borella MI, Safatle A de MV, Barros PS de M, Antunes A. Topography of ocular pathology: an application to characterize cataract maturation stages [Internet]. 2007 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0292-1.pdf

    • Vancouver

      Gozzo FV, Morelhao SL, Nakamura M, Toma HE, Borella MI, Safatle A de MV, Barros PS de M, Antunes A. Topography of ocular pathology: an application to characterize cataract maturation stages [Internet]. 2007 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxx/sys/resumos/R0292-1.pdf

  • Trabalho de evento-resumo

    A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating (2006)

    Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: ORAL SESSION G4. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat. Unidade: IF

    Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), FILMES FINOS, SEMICONDUTORES

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L. (2006). A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating. In ORAL SESSION G4. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf

    • NLM

      Morelhão SL. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating [Internet]. ORAL SESSION G4. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf

    • Vancouver

      Morelhão SL. A few contributions in synchrotron x-ray analysis of nanostructured semiconductor devices and amorphous thin films: charactrization during dip coating [Internet]. ORAL SESSION G4. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/SympG.pdf

  • Artigo de periodico

    X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases (2006)

    Antunes, Andrea; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz

    Source: Medical Physics. Unidades: FMVZ, IF

    Subjects: FÍSICA MÉDICA, OFTALMOLOGIA, DIAGNÓSTICO POR IMAGEM, LENTES, TÉCNICAS DE DIAGNÓSTICO OFTALMOLÓGICO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      ANTUNES, Andrea et al. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, v. 33, n. 7, p. 2338-2343, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1118/1.2207135. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Antunes, A., Safatle, A. de M. V., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2006). X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, 33( 7), 2338-2343. doi:10.1118/1.2207135

    • NLM

      Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135

    • Vancouver

      Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135

  • Trabalho de evento

    Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens (2006)

    Gozzo, Fernanda V; Antunes, Andrea; Morelhão, Sérgio Luiz; Safatle, Angélica Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Rigonati, C A M; Borella, Maria Inês; Nakamura, Marcelo ; Toma, Henrique Eisi

    Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidades: IF, IQ

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, LENTES, HISTOLOGIA, CATARATA

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    • ABNT

      GOZZO, Fernanda V et al. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens. 2006, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Gozzo, F. V., Antunes, A., Morelhão, S. L., Safatle, A. M. V., Barros, P. S. de M., Rigonati, C. A. M., et al. (2006). Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens. In . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf

    • NLM

      Gozzo FV, Antunes A, Morelhão SL, Safatle AMV, Barros PS de M, Rigonati CAM, Borella MI, Nakamura M, Toma HE. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf

    • Vancouver

      Gozzo FV, Antunes A, Morelhão SL, Safatle AMV, Barros PS de M, Rigonati CAM, Borella MI, Nakamura M, Toma HE. Atomic force and histological analysis of healthy and cataract canine lens [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0730-3.pdf

  • Trabalho de evento-resumo

    Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices (2006)

    Lamas, Tomás; Morelhão, Sérgio Luiz; Perrotta, André; Quivy, A. A.; Freitas, Raul de Oliveira

    Source: Poster Session. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat). Unidade: IF

    Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), SEMICONDUTORES

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LAMAS, Tomás et al. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Lamas, T., Morelhão, S. L., Perrotta, A., Quivy, A. A., & Freitas, R. de O. (2006). Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. In Poster Session. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf

    • NLM

      Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf

    • Vancouver

      Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf

  • Tese (Livre Docência)

    Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia (2006)

    Morelhão, Sérgio Luiz

    Unidade: IF

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, RAIOS X, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia. 2006. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Morelhão, S. L. (2006). Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/

    • NLM

      Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/

    • Vancouver

      Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/

  • Trabalho de evento

    Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices (2006)

    Freitas, Raul de Oliveira; Lamas, T. E.; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz

    Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      FREITAS, Raul de Oliveira et al. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. 2006, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Freitas, R. de O., Lamas, T. E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2006). Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. In . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf

    • NLM

      Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf

    • Vancouver

      Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. 2006 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxix/sys/resumos/R0320-1.pdf

  • Trabalho de evento-resumo

    Diffraction enhanced imaging of ocular tissues (2005)

    Antunes, A; Morelhão, Sérgio Luiz; Honnicke, M G; Cusatis, C.

    Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, LENTES, FEIXES ÓPTICOS

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ANTUNES, A et al. Diffraction enhanced imaging of ocular tissues. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0997-2.pdf. Acesso em: 26 abr. 2024.

    • APA

      Antunes, A., Morelhão, S. L., Honnicke, M. G., & Cusatis, C. (2005). Diffraction enhanced imaging of ocular tissues. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0997-2.pdf

    • NLM

      Antunes A, Morelhão SL, Honnicke MG, Cusatis C. Diffraction enhanced imaging of ocular tissues [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0997-2.pdf

    • Vancouver

      Antunes A, Morelhão SL, Honnicke MG, Cusatis C. Diffraction enhanced imaging of ocular tissues [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 abr. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0997-2.pdf

61 - 80 (125 records)

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