A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia (2009)
- Autor:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA; FÍSICA MÉDICA; RADIAÇÃO ELETROMAGNÉTICA; NANOTECNOLOGIA
- Language: Português
- Abstract: A interação da radiação eletromagnética (luz, ondas de rádio, micro-ondas, raios X) com a matéria (átomos) tece o cenário da realidade na qual existimos. Foi tentando entender os processos de interação radiação-matéria que surgiu a mecânica quântica, dando início a era de grandes avanços científicos e tecnológicos que vêm cada vez mais se intensificando e se integrando ao nosso dia a dia. O uso da radiação X foi fator determinante para tais avanços em duas áreas distintas: Ciência dos Materiais e Medicina. Nos dias atuais, a física dos raios X tem sido explorada nos seus limites. A nanotecnologia tem gerado uma diversidade de materiais constituídos por estruturas de poucas centenas de átomos, o que, na maioria das vezes, produzem um espalhamento de raios X abaixo do detectável. Em medicina, muitas patologias acometem principalmente tecidos moles cuja alterações são invisíveis ao processo de absorção dos raios X. Nesta apresentação, mostraremos como tem sido possível estender os limites de aplicabilidade dos raios X no estudo de dispositivos emissores de luz (lasers de telecomunicação), baseados em nanoestruturas chamadas de pontos quânticos, e no estudo de patologias que acometem tecidos moles, em particular, no estudo da catarata.
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- Título do periódico: Palestra
- Conference titles: Física para todos
-
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. 2009, Anais.. São Paulo: IFUSP, 2009. . Acesso em: 29 mar. 2024. -
APA
Morelhão, S. L. (2009). A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. In Palestra. São Paulo: IFUSP. -
NLM
Morelhão SL. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. Palestra. 2009 ;[citado 2024 mar. 29 ] -
Vancouver
Morelhão SL. A física de raios-x aplicada à medicina e à nanotecnologia. Palestra. 2009 ;[citado 2024 mar. 29 ] - High-resolution synchrotron radiation Renninger scan to examine hybrid reflections in InGaP/GaAs(001)
- Enhanced X-ray phase determination by three-beam diffraction
- Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry
- Characterization of erbium oxide sol-gel films and devices by grazing incidence X-ray reflectivity
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