Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia (2006)
- Autor:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FAP
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; RAIOS X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; NANOTECNOLOGIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Data da defesa: 09.11.2006
-
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia. 2006.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/ >. -
APA
Morelhão, S. L. (2006). Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia. Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/ -
NLM
Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/ -
Vancouver
Morelhão SL. Física de raios X aplicada à cristalografia, nanotecnologia e oftalmologia [Internet]. 2006 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/livredocencia/43/tde-27082007-190738/ - Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry
- Invariant phase determination by genetic algorithm
- Structure refinement of in pure and doped single crystals by synchrotron X-ray Renninger scanning
- Hybrid reciprocal lattice: application to layer stress appointment in 'GA''AL''N'/'GA''N'(0001) systems with patterned substrates
- An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination
- Characterization of erbium oxide sol-gel films and devices by grazing incidence X-ray reflectivity
- Enhanced X-ray phase determination by three-beam diffraction
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