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Artigo de periodico
Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths (2006)
Gómez, Luis A.; Araújo, Cid B.; Messias, D. N.; Misoguti, Lino ; Zílio, Sérgio Carlos ; Nalin, M.; Messaddeq, Y.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: VIDRO, LASER, ÓPTICA
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ABNT
GÓMEZ, Luis A. et al. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths. Journal of Applied Physics, v. 100, n. 11, p. 116105-1-116105-3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2388045. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Gómez, L. A., Araújo, C. B., Messias, D. N., Misoguti, L., Zílio, S. C., Nalin, M., & Messaddeq, Y. (2006). Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths. Journal of Applied Physics, 100( 11), 116105-1-116105-3. doi:10.1063/1.2388045
NLM
Gómez LA, Araújo CB, Messias DN, Misoguti L, Zílio SC, Nalin M, Messaddeq Y. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 11): 116105-1-116105-3.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2388045
Vancouver
Gómez LA, Araújo CB, Messias DN, Misoguti L, Zílio SC, Nalin M, Messaddeq Y. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 11): 116105-1-116105-3.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2388045
Artigo de periodico
Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers (2006)
Zanatta, Antonio Ricardo ; Ribeiro, Cristina Tereza Monteiro; Jahn, U.; Aldabergenova, S. B.; Strunk, H. P.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, LUMINESCÊNCIA
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo et al. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers. Journal of Applied Physics, v. 100, n. 9, p. 113112-1-113112-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2393009. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R., Ribeiro, C. T. M., Jahn, U., Aldabergenova, S. B., & Strunk, H. P. (2006). Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers. Journal of Applied Physics, 100( 9), 113112-1-113112-7. doi:10.1063/1.2393009
NLM
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Jahn U, Aldabergenova SB, Strunk HP. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 9): 113112-1-113112-7.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2393009
Vancouver
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Jahn U, Aldabergenova SB, Strunk HP. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 9): 113112-1-113112-7.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2393009
Artigo de periodico
Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering (2006)
Weingärtner, R.; Erlenbach, O.; Winnacker, A.; Welte, A.; Brauer, I.; Mendel, H.; Strunk, H. P.; Ribeiro, C. T. M.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Optical Materials. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, LUMINESCÊNCIA, TERRAS RARAS
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ABNT
WEINGÄRTNER, R. et al. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, v. 28, n. 6/7, p. 790-793, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Weingärtner, R., Erlenbach, O., Winnacker, A., Welte, A., Brauer, I., Mendel, H., et al. (2006). Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, 28( 6/7), 790-793. doi:10.1016/j.optmat.2005.09.024
NLM
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024
Vancouver
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024
Artigo de periodico
Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation (2006)
Pizani, Paulo Sérgio; Jasinevicius, Renato Goulart; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Applied Physics Letters. Unidades: EESC, IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILICONE
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ABNT
PIZANI, Paulo Sérgio e JASINEVICIUS, Renato Goulart e ZANATTA, Antonio Ricardo. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation. Applied Physics Letters, v. 89, n. 3, p. 031917-1-031917-3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2227644. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Pizani, P. S., Jasinevicius, R. G., & Zanatta, A. R. (2006). Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation. Applied Physics Letters, 89( 3), 031917-1-031917-3. doi:10.1063/1.2227644
NLM
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta AR. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 89( 3): 031917-1-031917-3.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2227644
Vancouver
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta AR. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 89( 3): 031917-1-031917-3.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2227644
Trabalho de evento-resumo
Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados (2006)
Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop em Física Molecular e Espectroscopia. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. 2006, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2006. . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2006). Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. In Caderno de Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF.
NLM
Zanatta AR. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Zanatta AR. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Artigo de periodico
Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering (2006)
Pizani, Paulo Sérgio; Jasinevicius, Renato Goulart; Zanatta, Ricardo Antonio
Source: Defect and Diffusion Forum. Unidades: EESC, IFSC
Subjects: SILICONE, ESPECTROSCOPIA RAMAN, MUDANÇA DE FASE
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ABNT
PIZANI, Paulo Sérgio e JASINEVICIUS, Renato Goulart e ZANATTA, Ricardo Antonio. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, v. 258-260, p. 276-281, 2006Tradução . . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Pizani, P. S., Jasinevicius, R. G., & Zanatta, R. A. (2006). Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, 258-260, 276-281.
NLM
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 nov. 08 ]
Artigo de periodico
Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films (2006)
Oliveira, V. I.; Freire Junior, Fernando Lázaro; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Journal of Physics: Condensed Matter. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA, SILICONE, FILMES FINOS, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, V. I. e FREIRE JUNIOR, Fernando Lázaro e ZANATTA, Antonio Ricardo. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films. Journal of Physics: Condensed Matter, v. 18, n. 32, p. 7709-7716, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Oliveira, V. I., Freire Junior, F. L., & Zanatta, A. R. (2006). Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films. Journal of Physics: Condensed Matter, 18( 32), 7709-7716. doi:10.1088/0953-8984/18/32/018
NLM
Oliveira VI, Freire Junior FL, Zanatta AR. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films [Internet]. Journal of Physics: Condensed Matter. 2006 ; 18( 32): 7709-7716.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018
Vancouver
Oliveira VI, Freire Junior FL, Zanatta AR. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films [Internet]. Journal of Physics: Condensed Matter. 2006 ; 18( 32): 7709-7716.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: CRISTALIZAÇÃO, FILMES FINOS, NÍQUEL, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, ESPECTROSCOPIA RAMAN
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. 2006, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2006. . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Artigo de periodico
Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition (2006)
Santos, C. N.; Yukimitu, K.; Zanatta, Antonio Ricardo ; Hernandes, Antônio Carlos
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. Unidade: IFSC
Subjects: TERMOLUMINESCÊNCIA, VIDRO, FOSFATOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANTOS, C. N. et al. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v. 246, n. 2, p. 374-378, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Santos, C. N., Yukimitu, K., Zanatta, A. R., & Hernandes, A. C. (2006). Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 246( 2), 374-378. doi:10.1016/j.nimb.2006.01.017
NLM
Santos CN, Yukimitu K, Zanatta AR, Hernandes AC. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2006 ; 246( 2): 374-378.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017
Vancouver
Santos CN, Yukimitu K, Zanatta AR, Hernandes AC. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2006 ; 246( 2): 374-378.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017
Artigo de periodico
Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo ; Chambouleyron, I.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo e CHAMBOULEYRON, I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, v. No 2006, n. 9, p. 094311-1-094311-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2362877. Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., Zanatta, A. R., & Chambouleyron, I. (2006). Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, No 2006( 9), 094311-1-094311-7. doi:10.1063/1.2362877
NLM
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 nov. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, CRISTALIZAÇÃO, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. 2006, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2006. . Acesso em: 08 nov. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 nov. 08 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films (2006)
Ribeiro, Cristina Tereza Monteiro; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Conference titles: International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semicondutors - Science and Technology - ICANS. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, SILICONE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RIBEIRO, Cristina Tereza Monteiro e ZANATTA, Antonio Ricardo. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. Amsterdam: Elsevier Science BV. . Acesso em: 08 nov. 2024. , 2006
APA
Ribeiro, C. T. M., & Zanatta, A. R. (2006). Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. Amsterdam: Elsevier Science BV.
NLM
Ribeiro CTM, Zanatta AR. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( Ju 2006): 1286-1289.[citado 2024 nov. 08 ]
Vancouver
Ribeiro CTM, Zanatta AR. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( Ju 2006): 1286-1289.[citado 2024 nov. 08 ]

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