Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering (2006)
- Authors:
- USP affiliated authors: JASINEVICIUS, RENATO GOULART - EESC ; ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidades: EESC; IFSC
- Subjects: SILICONE; ESPECTROSCOPIA RAMAN; MUDANÇA DE FASE
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Defect and Diffusion Forum
- ISSN: 1012-0386
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 258-260, p. 276-281, 2006
-
ABNT
PIZANI, Paulo Sérgio e JASINEVICIUS, Renato Goulart e ZANATTA, Ricardo Antonio. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, v. 258-260, p. 276-281, 2006Tradução . . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Pizani, P. S., Jasinevicius, R. G., & Zanatta, R. A. (2006). Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, 258-260, 276-281. -
NLM
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 abr. 24 ] - Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation
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