Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering (2006)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.optmat.2005.09.024
- Subjects: FILMES FINOS; LUMINESCÊNCIA; TERRAS RARAS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Optical Materials
- ISSN: 0925-3467
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 28, n. 6/7, p. 790-793, May 2006
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
WEINGÄRTNER, R. et al. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, v. 28, n. 6/7, p. 790-793, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024. Acesso em: 06 fev. 2026. -
APA
Weingärtner, R., Erlenbach, O., Winnacker, A., Welte, A., Brauer, I., Mendel, H., et al. (2006). Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, 28( 6/7), 790-793. doi:10.1016/j.optmat.2005.09.024 -
NLM
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2026 fev. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024 -
Vancouver
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2026 fev. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024 - Técnicas de espectroscopia óptica 1: espalhamento Raman
- Desenvolvimento de microcavidades ópticas com janelas de transmissão no visível e infravermelho próximo
- Infrared photoluminescence from Er-doped a-GaAsN alloys
- Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente
- Growth, structure and morphology of Mn-containing amorphous silicon films deposited by sputtering
- Estudo da fase 'BETA'-Fe'Si IND.2' em filmes de silício amorfo dopado com ferro
- An alternative experimental approach to produce rare-earth-doped SiOx films
- Influence of the temperature and time of thermal annealing in the optical properties of a-SiN doped with rare-earth ions
- Optical characterization of Fe-doped amorphous SiNx films
- Filmes de silício amorfo dopados com níquel
Informações sobre o DOI: 10.1016/j.optmat.2005.09.024 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
