Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente (2000)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
FERREIRA, Marcela F Machado e ZANATTA, Antonio Ricardo. Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente. 2000, Anais.. São Paulo: USP, 2000. . Acesso em: 07 fev. 2026. -
APA
Ferreira, M. F. M., & Zanatta, A. R. (2000). Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente. In . São Paulo: USP. -
NLM
Ferreira MFM, Zanatta AR. Propriedades estruturais de filmes finos de silicio amorfo hidrogenado tratados termicamente. 2000 ;[citado 2026 fev. 07 ] -
Vancouver
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