Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo (2006)
- Authors:
- Autor USP: ZANATTA, ANTONIO RICARDO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: CRISTALIZAÇÃO; FILMES FINOS; NÍQUEL; ESPECTROSCOPIA DE RAIO X; ESPECTROSCOPIA RAMAN
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2006
- Source:
- Título: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : Sociedade Brasileira de Física, 2006
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC
-
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. 2006, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2006. . Acesso em: 31 mar. 2026. -
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2026 mar. 31 ] -
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2026 mar. 31 ] - Técnicas de espectroscopia óptica 1: espalhamento Raman
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