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  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EESC

    Assuntos: SEMICONDUTORES, NANOTECNOLOGIA, ENGENHARIA ELÉTRICA

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    • ABNT

      SOUZA, Adelcio Marques de et al. Fully analytical compact model for the Q–V and C–V characteristics of cylindrical junctionless nanowire FETs. Microelectronics Journal, v. 119, p. 1-8, 2022Tradução . . Disponível em: http://dx.doi.org/10.1016/j.mejo.2021.105324. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Souza, A. M. de, Celino, D. R., Ragi, R., & Romero, M. A. (2022). Fully analytical compact model for the Q–V and C–V characteristics of cylindrical junctionless nanowire FETs. Microelectronics Journal, 119, 1-8. doi:10.1016/j.mejo.2021.105324
    • NLM

      Souza AM de, Celino DR, Ragi R, Romero MA. Fully analytical compact model for the Q–V and C–V characteristics of cylindrical junctionless nanowire FETs [Internet]. Microelectronics Journal. 2022 ; 119 1-8.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1016/j.mejo.2021.105324
    • Vancouver

      Souza AM de, Celino DR, Ragi R, Romero MA. Fully analytical compact model for the Q–V and C–V characteristics of cylindrical junctionless nanowire FETs [Internet]. Microelectronics Journal. 2022 ; 119 1-8.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://dx.doi.org/10.1016/j.mejo.2021.105324
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EP

    Assuntos: NANOTECNOLOGIA, MICROELETRÔNICA, ELETROQUÍMICA

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    • ABNT

      HUANCA, Danilo Roque e RAIMUNDO, Daniel Scodeler e SALCEDO, Walter Jaimes. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals. Microelectronics Journal, v. 40, n. 4-5, p. 744-748, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Huanca, D. R., Raimundo, D. S., & Salcedo, W. J. (2009). Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals. Microelectronics Journal, 40( 4-5), 744-748. doi:10.1016/j.mejo.2008.11.005
    • NLM

      Huanca DR, Raimundo DS, Salcedo WJ. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 744-748.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005
    • Vancouver

      Huanca DR, Raimundo DS, Salcedo WJ. Backside contact effect on the morphological and optical features of porous silicon photonic crystals [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 744-748.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.005
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IFSC

    Assuntos: CRESCIMENTO DE CRISTAIS, FIBRAS (ESTUDO), TÂNTALO, TERRAS RARAS

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    • ABNT

      MACATRÃO, M. et al. Structural and optical properties on thulium-doped LHPG-grown 'Ta IND.2''O IND. 5' fibres. Microelectronics Journal, v. 40, n. 2, p. 309-312, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.07.033. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Macatrão, M., Peres, M., Rubinger, C. P. L., Soares, M. J., Costa, L. C., Costa, F. M., et al. (2009). Structural and optical properties on thulium-doped LHPG-grown 'Ta IND.2''O IND. 5' fibres. Microelectronics Journal, 40( 2), 309-312. doi:10.1016/j.mejo.2008.07.033
    • NLM

      Macatrão M, Peres M, Rubinger CPL, Soares MJ, Costa LC, Costa FM, Monteiro T, Franco N, Alves E, Saggioro BZ, Andreeta MRB, Hernandes AC. Structural and optical properties on thulium-doped LHPG-grown 'Ta IND.2''O IND. 5' fibres [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 2): 309-312.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.07.033
    • Vancouver

      Macatrão M, Peres M, Rubinger CPL, Soares MJ, Costa LC, Costa FM, Monteiro T, Franco N, Alves E, Saggioro BZ, Andreeta MRB, Hernandes AC. Structural and optical properties on thulium-doped LHPG-grown 'Ta IND.2''O IND. 5' fibres [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 2): 309-312.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.07.033
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EP

    Assuntos: NANOTECNOLOGIA, MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      RAIMUNDO, Daniel Scodeler et al. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis. Microelectronics Journal, v. 40, n. 4-5, p. 844-847, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Raimundo, D. S., Calíope, P. B., Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2009). Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis. Microelectronics Journal, 40( 4-5), 844-847. doi:10.1016/j.mejo.2008.11.024
    • NLM

      Raimundo DS, Calíope PB, Huanca DR, Salcedo WJ. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 844-847.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024
    • Vancouver

      Raimundo DS, Calíope PB, Huanca DR, Salcedo WJ. Anodic porous alumina structural characteristics study based on SEM image processing and analysis [Internet]. Microelectronics Journal. 2009 ; 40( 4-5): 844-847.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.11.024
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EP

    Assuntos: TITÂNIO, LIGAS NÃO FERROSAS

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    • ABNT

      GARZON, Carlos Mario et al. Hardness and structure characterization of Ti6Al4V films produced by reactive magnetron sputtering on a conventional austenitic stainless steel. Microelectronics Journal, v. 39, p. 1329-1330, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.01.047. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Garzon, C. M., Alfonso Jose E,, Corredor, E. C., Recco, A. A. C., & Tschiptschin, A. P. (2008). Hardness and structure characterization of Ti6Al4V films produced by reactive magnetron sputtering on a conventional austenitic stainless steel. Microelectronics Journal, 39, 1329-1330. doi:10.1016/j.mejo.2008.01.047
    • NLM

      Garzon CM, Alfonso Jose E, Corredor EC, Recco AAC, Tschiptschin AP. Hardness and structure characterization of Ti6Al4V films produced by reactive magnetron sputtering on a conventional austenitic stainless steel [Internet]. Microelectronics Journal. 2008 ; 39 1329-1330.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.01.047
    • Vancouver

      Garzon CM, Alfonso Jose E, Corredor EC, Recco AAC, Tschiptschin AP. Hardness and structure characterization of Ti6Al4V films produced by reactive magnetron sputtering on a conventional austenitic stainless steel [Internet]. Microelectronics Journal. 2008 ; 39 1329-1330.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2008.01.047
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: EESC

    Assuntos: EMISSÃO TERMOIÔNICA, SEMICONDUTORES

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RAGI, Regiane e ROMERO, Murilo Araujo. I-V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires. Microelectronics Journal, v. No 2006, n. 11, p. 1261-1264, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2006.06.006. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Ragi, R., & Romero, M. A. (2006). I-V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires. Microelectronics Journal, No 2006( 11), 1261-1264. doi:10.1016/j.mejo.2006.06.006
    • NLM

      Ragi R, Romero MA. I-V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires [Internet]. Microelectronics Journal. 2006 ; No 2006( 11): 1261-1264.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2006.06.006
    • Vancouver

      Ragi R, Romero MA. I-V characteristics of Schottky contacts based on quantum wires [Internet]. Microelectronics Journal. 2006 ; No 2006( 11): 1261-1264.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2006.06.006
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: MICROELETRÔNICA, FILMES FINOS

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      ANTUNES, A et al. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 567-569, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Antunes, A., Amaral, T., Brito, G. E. de S., Abramof, E., & Morelhao, S. L. (2005). Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 567-569. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.078
    • NLM

      Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078
    • Vancouver

      Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: FZEA

    Assuntos: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIODOS

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CAMPS, I. et al. Negative charged excitons in double barrier diodes. Microelectronics Journal, v. no 2005, n. 11, p. 1038-1040, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.04.013. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Camps, I., Vercik, A., Galvão Gobato, Y., Brasil, M. J. S. P., Marques, G. E., & Makler, S. S. (2005). Negative charged excitons in double barrier diodes. Microelectronics Journal, no 2005( 11), 1038-1040. doi:10.1016/j.mejo.2005.04.013
    • NLM

      Camps I, Vercik A, Galvão Gobato Y, Brasil MJSP, Marques GE, Makler SS. Negative charged excitons in double barrier diodes [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; no 2005( 11): 1038-1040.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.04.013
    • Vancouver

      Camps I, Vercik A, Galvão Gobato Y, Brasil MJSP, Marques GE, Makler SS. Negative charged excitons in double barrier diodes [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; no 2005( 11): 1038-1040.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.04.013
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, NANOTECNOLOGIA, FOTOLUMINESCÊNCIA, ESTRUTURA ELETRÔNICA

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      MONTE, A F G et al. Optical and transport properties of InAs/GaAs quantum dots emitting at 1.3. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 194-196, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.003. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Monte, A. F. G., Cunha, J. F. R., Soler, M. A. P., Silva, S. W., Quivy, A. A., & Morais, P. C. (2005). Optical and transport properties of InAs/GaAs quantum dots emitting at 1.3. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 194-196. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.003
    • NLM

      Monte AFG, Cunha JFR, Soler MAP, Silva SW, Quivy AA, Morais PC. Optical and transport properties of InAs/GaAs quantum dots emitting at 1.3 [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 194-196.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.003
    • Vancouver

      Monte AFG, Cunha JFR, Soler MAP, Silva SW, Quivy AA, Morais PC. Optical and transport properties of InAs/GaAs quantum dots emitting at 1.3 [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 194-196.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.003
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IFSC

    Assuntos: SEMICONDUTORES, FOTOLUMINESCÊNCIA

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RODRIGUES, S. C. P. e SIPAHI, Guilherme Matos e SILVA JUNIOR, E. F. Optical and electronic properties of AlInGaN/InGaN superlattices. Microelectronics Journal, v. 36, n. Ju 2005, p. 434-437, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.041. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Rodrigues, S. C. P., Sipahi, G. M., & Silva Junior, E. F. (2005). Optical and electronic properties of AlInGaN/InGaN superlattices. Microelectronics Journal, 36( Ju 2005), 434-437. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.041
    • NLM

      Rodrigues SCP, Sipahi GM, Silva Junior EF. Optical and electronic properties of AlInGaN/InGaN superlattices [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( Ju 2005): 434-437.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.041
    • Vancouver

      Rodrigues SCP, Sipahi GM, Silva Junior EF. Optical and electronic properties of AlInGaN/InGaN superlattices [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( Ju 2005): 434-437.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.041
  • Fonte: Microelectronics Journal. Nome do evento: Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials - NanoSemiMat. Unidade: IFSC

    Assuntos: SEMICONDUTORES, FOTOLUMINESCÊNCIA

    Como citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      D'EURYDICE, Marcel Nogueira et al. Optical properties in p-type doping of nitrides quaternary alloys multiple quantum wells. Microelectronics Journal. Oxford: Elsevier Science. . Acesso em: 23 out. 2025. , 2005
    • APA

      D'Eurydice, M. N., Sipahi, G. M., Rodrigues, S. C. P., & Silva Junior, E. F. (2005). Optical properties in p-type doping of nitrides quaternary alloys multiple quantum wells. Microelectronics Journal. Oxford: Elsevier Science.
    • NLM

      D'Eurydice MN, Sipahi GM, Rodrigues SCP, Silva Junior EF. Optical properties in p-type doping of nitrides quaternary alloys multiple quantum wells. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 1029-1033.[citado 2025 out. 23 ]
    • Vancouver

      D'Eurydice MN, Sipahi GM, Rodrigues SCP, Silva Junior EF. Optical properties in p-type doping of nitrides quaternary alloys multiple quantum wells. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 1029-1033.[citado 2025 out. 23 ]
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 219-222, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Freitas, R., & Quivy, A. A. (2005). Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 219-222. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.010
    • NLM

      Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 219-222.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010
    • Vancouver

      Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 219-222.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010
  • Fonte: Microelectronics Journal. Nome do evento: Workshop of Semiconductor Nanodevices and Nanostructured Materials - NanoSemiMat. Unidade: IFSC

    Assuntos: SEMICONDUTORES, FOTOLUMINESCÊNCIA

    Como citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RODRIGUES, S. C. P. et al. Design of InGaN/AlInGaN superlattices for white-light device applications. Microelectronics Journal. Oxford: Elsevier Science. . Acesso em: 23 out. 2025. , 2005
    • APA

      Rodrigues, S. C. P., D'Eurydice, M. N., Sipahi, G. M., & Silva Junior, E. F. (2005). Design of InGaN/AlInGaN superlattices for white-light device applications. Microelectronics Journal. Oxford: Elsevier Science.
    • NLM

      Rodrigues SCP, D'Eurydice MN, Sipahi GM, Silva Junior EF. Design of InGaN/AlInGaN superlattices for white-light device applications. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 1002-1005.[citado 2025 out. 23 ]
    • Vancouver

      Rodrigues SCP, D'Eurydice MN, Sipahi GM, Silva Junior EF. Design of InGaN/AlInGaN superlattices for white-light device applications. Microelectronics Journal. 2005 ; No 2005( 11): 1002-1005.[citado 2025 out. 23 ]
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES, MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      RODRÍGUEZ COPPOLA, H et al. The absorption coefficient of low dimensional semiconductor systems: the photoluminescence of InGaN quantum dot. Microelectronics Journal, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2003.10.005. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Rodríguez Coppola, H., Tutor Sánchez, J., Leite, J. R., Scolfaro, L. M. R., & García Moliner, F. (2004). The absorption coefficient of low dimensional semiconductor systems: the photoluminescence of InGaN quantum dot. Microelectronics Journal. doi:10.1016/j.mejo.2003.10.005
    • NLM

      Rodríguez Coppola H, Tutor Sánchez J, Leite JR, Scolfaro LMR, García Moliner F. The absorption coefficient of low dimensional semiconductor systems: the photoluminescence of InGaN quantum dot [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2003.10.005
    • Vancouver

      Rodríguez Coppola H, Tutor Sánchez J, Leite JR, Scolfaro LMR, García Moliner F. The absorption coefficient of low dimensional semiconductor systems: the photoluminescence of InGaN quantum dot [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2003.10.005
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IFSC

    Assuntos: SEMICONDUTORES, SUPERCONDUTIVIDADE, FOTOLUMINESCÊNCIA

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      MAREGA JUNIOR, Euclydes et al. Optical properties of GaAs/AlAs superlattices grown on (311)A GaAs surfaces. Microelectronics Journal, v. 35, n. Ja 2004, p. 41-43, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00221-0. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Marega Junior, E., Oliveira, R. M., Souza, C. A., Arakaki, H., & González-Borrero, P. P. (2004). Optical properties of GaAs/AlAs superlattices grown on (311)A GaAs surfaces. Microelectronics Journal, 35( Ja 2004), 41-43. doi:10.1016/s0026-2692(03)00221-0
    • NLM

      Marega Junior E, Oliveira RM, Souza CA, Arakaki H, González-Borrero PP. Optical properties of GaAs/AlAs superlattices grown on (311)A GaAs surfaces [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ; 35( Ja 2004): 41-43.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00221-0
    • Vancouver

      Marega Junior E, Oliveira RM, Souza CA, Arakaki H, González-Borrero PP. Optical properties of GaAs/AlAs superlattices grown on (311)A GaAs surfaces [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ; 35( Ja 2004): 41-43.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00221-0
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, FOTOLUMINESCÊNCIA

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    • ABNT

      FERNANDEZ, J R L et al. Near band-edge optical properties of cubic GaN with and without carbon doping. Microelectronics Journal, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00226-x. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Fernandez, J. R. L., Cerdeira, F., Meneses, E. A., Soares, J. A. N. T., Noriega, O. C., Leite, J. R., et al. (2004). Near band-edge optical properties of cubic GaN with and without carbon doping. Microelectronics Journal. doi:10.1016/s0026-2692(03)00226-x
    • NLM

      Fernandez JRL, Cerdeira F, Meneses EA, Soares JANT, Noriega OC, Leite JR, As DJ, Salazar DGP, Schikora D, Lischka K. Near band-edge optical properties of cubic GaN with and without carbon doping [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00226-x
    • Vancouver

      Fernandez JRL, Cerdeira F, Meneses EA, Soares JANT, Noriega OC, Leite JR, As DJ, Salazar DGP, Schikora D, Lischka K. Near band-edge optical properties of cubic GaN with and without carbon doping [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00226-x
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: ESTRUTURA ELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ÓPTICOS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, TERMODINÂMICA

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    • ABNT

      TELES, L K et al. Phase separation, effects of biaxial strain, and ordered phase formations in cubic nitride alloys. Microelectronics Journal, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00218-0. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Teles, L. K., Marques, M., Ferreira, L. G., Scolfaro, L. M. R., & Leite, J. R. (2004). Phase separation, effects of biaxial strain, and ordered phase formations in cubic nitride alloys. Microelectronics Journal. doi:10.1016/s0026-2692(03)00218-0
    • NLM

      Teles LK, Marques M, Ferreira LG, Scolfaro LMR, Leite JR. Phase separation, effects of biaxial strain, and ordered phase formations in cubic nitride alloys [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00218-0
    • Vancouver

      Teles LK, Marques M, Ferreira LG, Scolfaro LMR, Leite JR. Phase separation, effects of biaxial strain, and ordered phase formations in cubic nitride alloys [Internet]. Microelectronics Journal. 2004 ;[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00218-0
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: ESTRUTURA ELETRÔNICA, SEMICONDUTORES

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    • ABNT

      LAMAS, T. E. et al. Morphological and optical properties of p-type GaAs(001) layers doped with silicon. Microelectronics Journal, v. 34, n. 5-8, p. 701-703, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00106-x. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Lamas, T. E., Martini, S., Silva, M. J. da, Quivy, A. A., & Leite, J. R. (2003). Morphological and optical properties of p-type GaAs(001) layers doped with silicon. Microelectronics Journal, 34( 5-8), 701-703. doi:10.1016/s0026-2692(03)00106-x
    • NLM

      Lamas TE, Martini S, Silva MJ da, Quivy AA, Leite JR. Morphological and optical properties of p-type GaAs(001) layers doped with silicon [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 701-703.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00106-x
    • Vancouver

      Lamas TE, Martini S, Silva MJ da, Quivy AA, Leite JR. Morphological and optical properties of p-type GaAs(001) layers doped with silicon [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 701-703.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00106-x
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: SEMICONDUTORES, FOTOLUMINESCÊNCIA

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    • ABNT

      QU, Fanyao et al. H-band emission in single heterojunctions. Microelectronics Journal, v. 34, n. 5-8, p. 755-757, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00119-8. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Qu, F., Lino, A. T., Dantas, N. O., Morais, P. C., Silva, E. C. F. da, Quivy, A. A., & Leite, J. R. (2003). H-band emission in single heterojunctions. Microelectronics Journal, 34( 5-8), 755-757. doi:10.1016/s0026-2692(03)00119-8
    • NLM

      Qu F, Lino AT, Dantas NO, Morais PC, Silva ECF da, Quivy AA, Leite JR. H-band emission in single heterojunctions [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 755-757.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00119-8
    • Vancouver

      Qu F, Lino AT, Dantas NO, Morais PC, Silva ECF da, Quivy AA, Leite JR. H-band emission in single heterojunctions [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 755-757.[citado 2025 out. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0026-2692(03)00119-8
  • Fonte: Microelectronics Journal. Unidade: IF

    Assuntos: ESTRUTURA ELETRÔNICA, ESTRUTURA ATÔMICA (FÍSICA MODERNA)

    Acesso à fonteComo citar
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    • ABNT

      OLIVEIRA, C de et al. Atomic and electronic structures of 'In IND.X' 'Ga IND.1-X' N quantum dots. Microelectronics Journal, v. 34, n. 5-8, p. 725-727, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1. Acesso em: 23 out. 2025.
    • APA

      Oliveira, C. de, Alves, J. L. A., Alves, H. W. L., Nogueira, R. A., & Leite, J. R. (2003). Atomic and electronic structures of 'In IND.X' 'Ga IND.1-X' N quantum dots. Microelectronics Journal, 34( 5-8), 725-727. Recuperado de http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1
    • NLM

      Oliveira C de, Alves JLA, Alves HWL, Nogueira RA, Leite JR. Atomic and electronic structures of 'In IND.X' 'Ga IND.1-X' N quantum dots [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 725-727.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1
    • Vancouver

      Oliveira C de, Alves JLA, Alves HWL, Nogueira RA, Leite JR. Atomic and electronic structures of 'In IND.X' 'Ga IND.1-X' N quantum dots [Internet]. Microelectronics Journal. 2003 ; 34( 5-8): 725-727.[citado 2025 out. 23 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=JournalURL&_cdi=5748&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=76443bb13e16222257c8c9659dea3cf1

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