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Artigo de periodico
Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers (2006)
Zanatta, Antonio Ricardo; Ribeiro, Cristina Tereza Monteiro; Jahn, U.; Aldabergenova, S. B.; Strunk, H. P.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, LUMINESCÊNCIA
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo et al. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers. Journal of Applied Physics, v. 100, n. 9, p. 113112-1-113112-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2393009. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Zanatta, A. R., Ribeiro, C. T. M., Jahn, U., Aldabergenova, S. B., & Strunk, H. P. (2006). Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers. Journal of Applied Physics, 100( 9), 113112-1-113112-7. doi:10.1063/1.2393009
NLM
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Jahn U, Aldabergenova SB, Strunk HP. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 9): 113112-1-113112-7.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2393009
Vancouver
Zanatta AR, Ribeiro CTM, Jahn U, Aldabergenova SB, Strunk HP. Thermally synthesized ruby microstructures and luminescence centers [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 9): 113112-1-113112-7.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2393009
Artigo de periodico
Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths (2006)
Gómez, Luis A.; Araújo, Cid B.; Messias, D. N.; Misoguti, Lino; Zílio, Sérgio Carlos; Nalin, M.; Messaddeq, Y.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: VIDRO, LASER, ÓPTICA
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ABNT
GÓMEZ, Luis A. et al. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths. Journal of Applied Physics, v. 100, n. 11, p. 116105-1-116105-3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2388045. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Gómez, L. A., Araújo, C. B., Messias, D. N., Misoguti, L., Zílio, S. C., Nalin, M., & Messaddeq, Y. (2006). Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths. Journal of Applied Physics, 100( 11), 116105-1-116105-3. doi:10.1063/1.2388045
NLM
Gómez LA, Araújo CB, Messias DN, Misoguti L, Zílio SC, Nalin M, Messaddeq Y. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 11): 116105-1-116105-3.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2388045
Vancouver
Gómez LA, Araújo CB, Messias DN, Misoguti L, Zílio SC, Nalin M, Messaddeq Y. Nonresonant third-order nonlinearity of antimony glasses at telecom wavelengths [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; 100( 11): 116105-1-116105-3.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2388045
Artigo de periodico
Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering (2006)
Weingärtner, R.; Erlenbach, O.; Winnacker, A.; Welte, A.; Brauer, I.; Mendel, H.; Strunk, H. P.; Ribeiro, C. T. M.; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Optical Materials. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, LUMINESCÊNCIA, TERRAS RARAS
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ABNT
WEINGÄRTNER, R. et al. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, v. 28, n. 6/7, p. 790-793, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Weingärtner, R., Erlenbach, O., Winnacker, A., Welte, A., Brauer, I., Mendel, H., et al. (2006). Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering. Optical Materials, 28( 6/7), 790-793. doi:10.1016/j.optmat.2005.09.024
NLM
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024
Vancouver
Weingärtner R, Erlenbach O, Winnacker A, Welte A, Brauer I, Mendel H, Strunk HP, Ribeiro CTM, Zanatta AR. Thermal activation, cathodo- and photoluminescence measurements of rare earth doped (Tm, Tb, Dy, Eu, Sm, Yb) amorphous/nanocrystalline AlN thin films prepared by reactive rf-sputtering [Internet]. Optical Materials. 2006 ; 28( 6/7): 790-793.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.09.024
Trabalho de evento-resumo
Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados (2006)
Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop em Física Molecular e Espectroscopia. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
ZANATTA, Antonio Ricardo. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. 2006, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2006. . Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Zanatta, A. R. (2006). Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. In Caderno de Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF.
NLM
Zanatta AR. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Vancouver
Zanatta AR. Síntese e caracterização de padrões micro-estruturados. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Artigo de periodico
Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation (2006)
Pizani, Paulo Sérgio; Jasinevicius, Renato Goulart; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Applied Physics Letters. Unidades: EESC, IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILICONE
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ABNT
PIZANI, Paulo Sérgio e JASINEVICIUS, Renato Goulart e ZANATTA, Antonio Ricardo. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation. Applied Physics Letters, v. 89, n. 3, p. 031917-1-031917-3, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2227644. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Pizani, P. S., Jasinevicius, R. G., & Zanatta, A. R. (2006). Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation. Applied Physics Letters, 89( 3), 031917-1-031917-3. doi:10.1063/1.2227644
NLM
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta AR. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 89( 3): 031917-1-031917-3.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2227644
Vancouver
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta AR. Effect of the initial structure of silicon surface on the generation of multiple structural phases by cyclic microindentation [Internet]. Applied Physics Letters. 2006 ; 89( 3): 031917-1-031917-3.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2227644
Artigo de periodico
Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering (2006)
Pizani, Paulo Sérgio; Jasinevicius, Renato Goulart; Zanatta, Ricardo Antonio
Source: Defect and Diffusion Forum. Unidades: EESC, IFSC
Subjects: SILICONE, ESPECTROSCOPIA RAMAN, MUDANÇA DE FASE
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ABNT
PIZANI, Paulo Sérgio e JASINEVICIUS, Renato Goulart e ZANATTA, Ricardo Antonio. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, v. 258-260, p. 276-281, 2006Tradução . . Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Pizani, P. S., Jasinevicius, R. G., & Zanatta, R. A. (2006). Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum, 258-260, 276-281.
NLM
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 jun. 26 ]
Vancouver
Pizani PS, Jasinevicius RG, Zanatta RA. Non-hydrostatic pressure induced structural phase transitions of silicon analyzed by Raman scattering. Defect and Diffusion Forum. 2006 ; 258-260 276-281.[citado 2024 jun. 26 ]
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: CRISTALIZAÇÃO, FILMES FINOS, NÍQUEL, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. 2006, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2006. . Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida por níquel em filmes de silício amorfo. Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Artigo de periodico
Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films (2006)
Oliveira, V. I.; Freire Junior, Fernando Lázaro; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Journal of Physics: Condensed Matter. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA, SILICONE, FILMES FINOS, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, V. I. e FREIRE JUNIOR, Fernando Lázaro e ZANATTA, Antonio Ricardo. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films. Journal of Physics: Condensed Matter, v. 18, n. 32, p. 7709-7716, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Oliveira, V. I., Freire Junior, F. L., & Zanatta, A. R. (2006). Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films. Journal of Physics: Condensed Matter, 18( 32), 7709-7716. doi:10.1088/0953-8984/18/32/018
NLM
Oliveira VI, Freire Junior FL, Zanatta AR. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films [Internet]. Journal of Physics: Condensed Matter. 2006 ; 18( 32): 7709-7716.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018
Vancouver
Oliveira VI, Freire Junior FL, Zanatta AR. Optical properties of Er and Er + Yb doped hydrogenated amorphous silicon films [Internet]. Journal of Physics: Condensed Matter. 2006 ; 18( 32): 7709-7716.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0953-8984/18/32/018
Trabalho de evento-anais periodico
Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films (2006)
Ribeiro, Cristina Tereza Monteiro; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Conference titles: International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semicondutors - Science and Technology - ICANS. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, ESPECTROSCOPIA ÓPTICA, SILICONE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RIBEIRO, Cristina Tereza Monteiro e ZANATTA, Antonio Ricardo. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. Amsterdam: Elsevier Science BV. . Acesso em: 26 jun. 2024. , 2006
APA
Ribeiro, C. T. M., & Zanatta, A. R. (2006). Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. Amsterdam: Elsevier Science BV.
NLM
Ribeiro CTM, Zanatta AR. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( Ju 2006): 1286-1289.[citado 2024 jun. 26 ]
Vancouver
Ribeiro CTM, Zanatta AR. Spectroscopic investigation of Nd-doped amorphous SiN films. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( Ju 2006): 1286-1289.[citado 2024 jun. 26 ]
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo
Source: Caderno de Resumos. Conference titles: Workshop da Pós-Graduação do IFSC. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, CRISTALIZAÇÃO, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. 2006, Anais.. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP, 2006. . Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Ferri, F. A., & Zanatta, A. R. (2006). Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. In Caderno de Resumos. São Carlos: Instituto de Física de São Carlos - USP.
NLM
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR. Cristalização induzida em filmes de silício amorfo: influência da concentração de níquel e da espessura. Caderno de Resumos. 2006 ;[citado 2024 jun. 26 ]
Artigo de periodico
Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition (2006)
Santos, C. N.; Yukimitu, K.; Zanatta, Antonio Ricardo; Hernandes, Antônio Carlos
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. Unidade: IFSC
Subjects: TERMOLUMINESCÊNCIA, VIDRO, FOSFATOS
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ABNT
SANTOS, C. N. et al. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v. 246, n. 2, p. 374-378, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Santos, C. N., Yukimitu, K., Zanatta, A. R., & Hernandes, A. C. (2006). Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 246( 2), 374-378. doi:10.1016/j.nimb.2006.01.017
NLM
Santos CN, Yukimitu K, Zanatta AR, Hernandes AC. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2006 ; 246( 2): 374-378.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017
Vancouver
Santos CN, Yukimitu K, Zanatta AR, Hernandes AC. Thermoluminescence of aluminophosphate glasses in the metaphosphate composition [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2006 ; 246( 2): 374-378.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2006.01.017
Artigo de periodico
Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films (2006)
Ferri, Fabio Aparecido; Zanatta, Antonio Ricardo; Chambouleyron, I.
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC
Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, FILMES FINOS, SILÍCIO, NÍQUEL, TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERRI, Fabio Aparecido e ZANATTA, Antonio Ricardo e CHAMBOULEYRON, I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, v. No 2006, n. 9, p. 094311-1-094311-7, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2362877. Acesso em: 26 jun. 2024.
APA
Ferri, F. A., Zanatta, A. R., & Chambouleyron, I. (2006). Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films. Journal of Applied Physics, No 2006( 9), 094311-1-094311-7. doi:10.1063/1.2362877
NLM
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877
Vancouver
Ferri FA, Zanatta AR, Chambouleyron I. Metal-induced nanocrystalline structures in Ni-containing amorphous silicon thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2006 ; No 2006( 9): 094311-1-094311-7.[citado 2024 jun. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2362877

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