Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects (2020)
- Authors:
- USP affiliated authors: ADDED, NEMITALA - IF ; MEDINA, NILBERTO HEDER - IF ; AGUIAR, VITOR ÂNGELO PAULINO DE - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1109/TNS.2020.2995729
- Subjects: FÍSICA NUCLEAR; ÍONS PESADOS; DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS; MATERIAIS
- Keywords: Commercial Off-The-Shelf (COTS) SRAM-based field-programmable gate array (FPGA); fault injection (FI); fault tolerance; heavy ion; RISC-V; rocket
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: New Jersey
- Date published: 2020
- Source:
- Título: IEEE Transactions on Nuclear Science
- ISSN: 1558-1578
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 67, n. 7, p. 1503-1510, julho, 2020
- Status:
- Artigo possui versão em acesso aberto em repositório (Green Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão submetida (Pré-print)
- Acessar versão aberta:
-
ABNT
OLIVEIRA, Ádria et al. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. 67, n. 7, p. 1503-1510, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729. Acesso em: 01 abr. 2026. -
APA
Oliveira, Á., Tambara, L. A., Benevenuti, F., Benites, L. A. C., Added, N., Aguiar, V. ^Â. P. de, et al. (2020). Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects. IEEE Transactions on Nuclear Science, 67( 7), 1503-1510. doi:10.1109/TNS.2020.2995729 -
NLM
Oliveira Á, Tambara LA, Benevenuti F, Benites LAC, Added N, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Guazzelli MA, Kastensmidt F. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ; 67( 7): 1503-1510.[citado 2026 abr. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729 -
Vancouver
Oliveira Á, Tambara LA, Benevenuti F, Benites LAC, Added N, Aguiar V^ÂP de, Medina NH, Guazzelli MA, Kastensmidt F. Evaluating Soft Core RISC-V Processor in SRAM-Based FPGA Under Radiation Effects [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ; 67( 7): 1503-1510.[citado 2026 abr. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2995729 - Heavy Ions Testing of an All-Convolutional Neural Network for Image Classification Evolved by Genetic Algorithms and Implemented on SRAM-Based FPGA
- Reliability–Performance Analysis of Hardware and Software Co-Designs in SRAM-Based APSoCs
- Natural radioactivity and external hazard index in Brazilian sands
- Neutron-Induced Radiation Effects in UMOS Transistor
- Heavy Ion-Induced Faults on Programmable UART Controllers Embedded into SRAM-Based FPGA
- Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy
- Understanding single event effects measurements
- A commercial off-the-shelf pMOS transistor as X-ray and heavy ion detector
- Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects
- Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure
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