X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals (2011)
- Authors:
- USP affiliated authors: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF ; FREITAS, RAUL DE OLIVEIRA - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1107/S0021889810042391
- Assunto: RAIOS X
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Copenhagen
- Date published: 2011
- Source:
- Título: Journal of Applied Crystallography
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 44, n. 1, p. 93-101, fev. 2011
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals. Journal of Applied Crystallography, v. fe 2011, n. 1, p. 93-101, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S0021889810042391. Acesso em: 10 fev. 2026. -
APA
Morelhão, S. L., Remédios, C. M. R., Freitas, R. O., & Santos, A. O. dos. (2011). X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals. Journal of Applied Crystallography, fe 2011( 1), 93-101. doi:10.1107/S0021889810042391 -
NLM
Morelhão SL, Remédios CMR, Freitas RO, Santos AO dos. X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2011 ; fe 2011( 1): 93-101.[citado 2026 fev. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S0021889810042391 -
Vancouver
Morelhão SL, Remédios CMR, Freitas RO, Santos AO dos. X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2011 ; fe 2011( 1): 93-101.[citado 2026 fev. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S0021889810042391 - Difração bragg-superfície no estudo de sistemas epitaxiais baseados em pontos quânticos de InAs/GaAs
- Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors
- Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators
- Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique
- Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals
- Dislocations in dendritic web silicon
- Investigação da polarização da radiação síncrotron por varredura "fi"
- Synchrotron radiation X-ray multiple diffraction in the study of doped KDP
- An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination
- Determinação do coeficiente piezoelétrico do cristal de KDP sando difração múltipla com fonte de radiação síncroton
Informações sobre o DOI: 10.1107/S0021889810042391 (Fonte: oaDOI API)
Download do texto completo
| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 |
Journal of Applied Crysta... | Direct link |
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
