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Artigo de periodico
Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy (2020)
González, Carlos J; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Kastensmidt, Fernanda G L; Puchner, Helmut K; Guazzelli, Marcilei A ; Medina, Nilberto Heder ; Balen, Tiago R
Fonte: IEEE Transactions on Nuclear Science. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
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ABNT
GONZÁLEZ, Carlos J et al. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy. IEEE Transactions on Nuclear Science, v. . 67, n. 3, p. 518-524, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
González, C. J., Added, N., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, Kastensmidt, F. G. L., Puchner, H. K., et al. (2020). Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy. IEEE Transactions on Nuclear Science, . 67( 3), 518-524. doi:10.1109/TNS.2019.2952775
NLM
González CJ, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Kastensmidt FGL, Puchner HK, Guazzelli MA, Medina NH, Balen TR. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ;. 67( 3): 518-524.[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775
Vancouver
González CJ, Added N, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Kastensmidt FGL, Puchner HK, Guazzelli MA, Medina NH, Balen TR. Reducing Soft Error Rate of SoCs Analog-to-Digital Interfaces With Design Diversity Redundancy [Internet]. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2020 ;. 67( 3): 518-524.[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2952775
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region (2019)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Ribas, Roberto Vicençotto ; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Scarduelli, Valdir Brunetti; Kurman, Valter Luiz
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region. 2019, Anais.. São Paulo: SBF, 2019. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Ribas, R. V., Allegro, P. R. P., et al. (2019). Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Ribas RV, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Scarduelli VB, Kurman VL. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Ribas RV, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Scarduelli VB, Kurman VL. Lifetime measurements in excited states of nuclei in the A = 70 mass region [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0038-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2019)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Ribas, Roberto Vicençotto
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2019, Anais.. São Paulo: SBF, 2019. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, & Ribas, R. V. (2019). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region (2019)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder ; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Ribas, Roberto Vicençotto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Kurman, Valter Luiz
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: ESTRUTURA NUCLEAR
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ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Allegro, P. R. P., Oliveira, J. R. B. de, Ribas, R. V., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2019). Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Kurman VL. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Allegro PRP, Oliveira JRB de, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Alcantara-Nunez JA, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Kurman VL. Nuclear structure of nuclei in the A = 70 mass region. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento-resumo
Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices (2019)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Menegasso, Ricardo ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Escudeiro, Rafael ; Guazzelli, Marcilei Aparecida ; Flechas, D
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Menegasso, R., Macchione, E. L. A., et al. (2019). Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Menegasso R, Macchione ELA, Escudeiro R, Guazzelli MA, Flechas D. Critical dependencies of heavy ion-induced destructive failures in electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento-resumo
Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices (2019)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Escudeiro, Rafael; Santos, Hellen Cristine dos ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Leite, Alisson Rodolfo; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Alberton, S. G. P. N., Scarduelli, V. B., et al. (2019). Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 23 ]
Trabalho de evento-resumo
Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects (2018)
Barros, Felipe; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
BARROS, Felipe et al. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Barros, F., Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., & Aguiar, V. Â. P. de. (2018). Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
NLM
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Vancouver
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Trabalho de evento-resumo
Corrections in Single Event Effects cross section (2018)
Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Aguirre, Fernando Rodrigues; Medina, Nilberto Heder ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ADDED, Nemitala et al. Corrections in Single Event Effects cross section. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Aguirre, F. R., Medina, N. H., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Corrections in Single Event Effects cross section. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
NLM
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Vancouver
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2018)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of radiation effects in embedded systems (2018)
Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REATORES NUCLEARES, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Study of radiation effects in embedded systems. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Alberton, S. G. P. N., Macchione, E. L. A., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Study of radiation effects in embedded systems. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
NLM
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Vancouver
Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Alberton SGPN, Macchione ELA, Silveira MAG da. Study of radiation effects in embedded systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0006-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei (2018)
Escudeiro, Rafael; Medina, Nilberto Heder ; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Alcantara-Nunez, Juan Antonio; Ribas, Roberto Vicençotto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Scarduelli, Valdir Brunetti; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESCUDEIRO, Rafael et al. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Escudeiro, R., Medina, N. H., Oliveira, J. R. B. de, Allegro, P. R. P., Alcantara-Nunez, J. A., Ribas, R. V., et al. (2018). Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
NLM
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Vancouver
Escudeiro R, Medina NH, Oliveira JRB de, Allegro PRP, Alcantara-Nunez JA, Ribas RV, Aguiar VÂP de, Added N, Macchione ELA, Scarduelli VB, Alberton SGPN. Lifetime measurements in odd and odd-odd nuclei [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0017-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems (2018)
Zahn, Guilherme Soares; Genezini, Frederico Antonio ; Moralles, Mauricio; Siqueira, Paulo de Tarso Dalledone; Medina, Nilberto Heder ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Added, Nemitala ; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZAHN, Guilherme Soares et al. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Zahn, G. S., Genezini, F. A., Moralles, M., Siqueira, P. de T. D., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
NLM
Zahn GS, Genezini FA, Moralles M, Siqueira P de TD, Medina NH, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Added N, Silveira MAG da. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
Vancouver
Zahn GS, Genezini FA, Moralles M, Siqueira P de TD, Medina NH, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Added N, Silveira MAG da. A proposal to study long-lived isotopes produced by thermal neutron irradiation in digital systems [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0008-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, Alisson Rodolfo; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, Rafael; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Santos, Hellen Cristine dos; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Melo, M A A de; Santos, R B B; Giacomini, Renato; Oliveira, J A; Leite, F G H
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf. Acesso em: 23 nov. 2025.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Leite, A. R., Silva, T. F. da, et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2025 nov. 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf

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