ReP USP - Resultado da busca

Artigo de periodico
Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase (2023)
Singh, Hardepinder; Gupta, Mukul; Gupta, Pooja; Penacchio, Rafaela ; Morelhao, Sergio L. ; Kumar, Hardeep
Source: Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, TUNGSTÊNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
SINGH, Hardepinder et al. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), v. 129, n. 5, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Singh, H., Gupta, M., Gupta, P., Penacchio, R., Morelhao, S. L., & Kumar, H. (2023). Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), 129( 5). doi:10.1007/s00339-023-06552-x
NLM
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Vancouver
Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x
Artigo de periodico
Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements (2023)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício Bastos ; Remedios, Claudio M. R.; Calligaris, Guilherme A.; Torikachvili, Milton S.; Kycia, Stefan W.; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Journal of Applied Crystallography (JAC). Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, ESTRUTURA MOLECULAR (FÍSICA MODERNA)
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements. Journal of Applied Crystallography (JAC), v. 56, p. 1574-1584, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Remedios, C. M. R., Calligaris, G. A., Torikachvili, M. S., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2023). Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements. Journal of Applied Crystallography (JAC), 56, 1574-1584. doi:10.1107/S1600576723005800
NLM
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Remedios CMR, Calligaris GA, Torikachvili MS, Kycia SW, Morelhão SL. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements [Internet]. Journal of Applied Crystallography (JAC). 2023 ; 56 1574-1584.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800
Vancouver
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Remedios CMR, Calligaris GA, Torikachvili MS, Kycia SW, Morelhão SL. Introduction to Python Dynamic Diffraction Toolkit (PyDDT): structural refinement of single crystals via X-ray phase measurements [Internet]. Journal of Applied Crystallography (JAC). 2023 ; 56 1574-1584.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723005800
Relatorio tecnico
Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles (2022)
Valério, Adriana ; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício Bastos ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, RAIOS X
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ABNT
VALÉRIO, Adriana et al. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2022
APA
Valério, A., Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., & Morelhão, S. L. (2022). Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
NLM
Valério A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Morelhão SL. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
Vancouver
Valério A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Morelhão SL. Proper usage of scherrer’s and guinier’s formulas in X-ray analysis of size distribution in systems of monocrystalline 'CE''O'IND.2' nanoparticles [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2203.00866.pdf
Relatorio tecnico
A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Fornari, Celso I.; Kagerer, Philipp; Dittmar, Marco; Müller, Simon; Reinert, Friedrich; Estradiote, Maurício Bastos ; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: TOPOLOGIA, RAIOS X
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2022
APA
Penacchio, R. F. da S., Fornari, C. I., Kagerer, P., Dittmar, M., Müller, S., Reinert, F., et al. (2022). A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
NLM
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Vancouver
Penacchio RF da S, Fornari CI, Kagerer P, Dittmar M, Müller S, Reinert F, Estradiote MB, Morelhão SL. A simple recipe to create three-dimensional reciprocal space maps [Internet]. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2210.05427.pdf
Trabalho de evento-resumo
Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva; Estradiote, Maurício Bastos; Valerio, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan W; Remédios, Cláudio M R
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, HIDROGÊNIO
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ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. 2022, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2022. . Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Valerio, A., Morelhão, S. L., Kycia, S. W., & Remédios, C. M. R. (2022). Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Valerio A, Morelhão SL, Kycia SW, Remédios CMR. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. Resumos. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ]
Vancouver
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Valerio A, Morelhão SL, Kycia SW, Remédios CMR. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. Resumos. 2022 ;[citado 2025 nov. 06 ]
Relatorio tecnico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
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ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. . Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2020). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Relatorio tecnico
Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2020)
Fornari, Celso I; Abramof, Eduardo; Rappl, Paulo H O; Kycia, Stefan W; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, BISMUTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNARI, Celso I et al. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Fornari, C. I., Abramof, E., Rappl, P. H. O., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2020). Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
NLM
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Vancouver
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Relatorio tecnico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sergio Luiz. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Artigo de periodico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli dos Reis ; Garcia, Fernando Assis ; Morelhao, Sergio L. ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Source: MRS Communications. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, v. 10, n. 2, p. 265-271, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Cantarino, M. dos R., Garcia, F. A., Morelhao, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, 10( 2), 265-271. doi:10.1557/mrc.2020.37
NLM
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhao SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Vancouver
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhao SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Trabalho de evento-resumo
Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources (2020)
Estradiote, Maurício B; Penacchio, Rafaela F S; Valério, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO SINCROTRON
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESTRADIOTE, Maurício B et al. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Estradiote, M. B., Penacchio, R. F. S., Valério, A., & Morelhão, S. L. (2020). Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
NLM
Estradiote MB, Penacchio RFS, Valério A, Morelhão SL. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
Vancouver
Estradiote MB, Penacchio RFS, Valério A, Morelhão SL. Two-Dimensional Representation of Bragg-Cones: a Graphical Tool for Studying Single Crystalswith High Flux Synchrotron Sources [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0576-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F S; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: SILÍCIO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana e PENACCHIO, Rafaela F S e MORELHÃO, Sergio Luiz. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., & Morelhão, S. L. (2020). Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Morelhão SL. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Morelhão SL. Proper interpretation of Scherrer Equation validated by PDDF simulation of silicon nanoclusters [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0549-1.pdf
Relatorio tecnico
Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Avanci, L H; Freitas, R; Quivy, Alain André
Unidade: IF
Subjects: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. . Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Freitas, R., & Quivy, A. A. (2020). Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Oxford: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/cond-mat/0412254.pdf
Trabalho de evento-resumo
Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F S; Estradiote, Maurício B; Cantarino, Marli R; Garcia, Fernando Assis ; Morelhão, Sergio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W; Calligaris, Guilherme A; Remédios, Claudio M R
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., Estradiote, M. B., Cantarino, M. R., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino MR, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino MR, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
Artigo de periodico
New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies (2020)
Cordeiro,A J P; Silva, L F da; Paschoal Jr., W; Morelhão, Sergio Luiz ; Saraiva, G D; Freire, P T C; Moreira, S G C; Sousa, F F de
Source: Vibrational Spectroscopy. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TRANSFORMADA DE FOURIER, ESPECTROSCOPIA RAMAN
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CORDEIRO, A J P et al. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, v. 111, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Cordeiro, A. J. P., Silva, L. F. da, Paschoal Jr., W., Morelhão, S. L., Saraiva, G. D., Freire, P. T. C., et al. (2020). New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies. Vibrational Spectroscopy, 111. doi:10.1016/j.vibspec.2020.103174
NLM
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Vancouver
Cordeiro AJP, Silva LF da, Paschoal Jr. W, Morelhão SL, Saraiva GD, Freire PTC, Moreira SGC, Sousa FF de. New bladed habit of hexadecanoic-acid crystals observed by SEM combined with XRD, FT-IR and Raman studies [Internet]. Vibrational Spectroscopy. 2020 ; 111[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2020.103174
Relatorio tecnico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F.S.; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli ; Garcia, Fernando Assis ; Morelhão, Sergio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., Estradiote, M. B., Cantarino, M., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Artigo de periodico
Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films (2020)
Fornari, Celso I; Morelhão, Sergio Luiz
Source: Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: EURÓPIO, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
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ABNT
FORNARI, Celso I e MORELHÃO, Sergio Luiz. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, v. 124, n. 29, p. 16048–16057, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Fornari, C. I., & Morelhão, S. L. (2020). Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films. Journal of Physical Chemistry C, 124( 29), 16048–16057. doi:10.1021/acs.jpcc.0c05077
NLM
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Vancouver
Fornari CI, Morelhão SL. Incorporation of Europium in Bi2Te3 Topological Insulator Epitaxial Films [Internet]. Journal of Physical Chemistry C. 2020 ; 124( 29): 16048–16057.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c05077
Artigo de periodico
Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
Hönnicke, Marcelo G.; Morelhão, Sérgio L.
Source: Radiation Physics and Chemistry. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, RADIAÇÃO SINCROTRON, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, NANOPARTÍCULAS
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ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sérgio L. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, v. 167, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. Radiation Physics and Chemistry, 167. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2020 ; 167[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
Apresentacao sonora/cenica/entrevista
O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] (2020)
Morelhao, Sergio L.
Source: IFUSP-Física para Todos. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA MODERNA, NEUROCIÊNCIAS, MECÂNICA QUÂNTICA, REDES NEURAIS, DIVULGAÇÃO CIENTÍFICA
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ABNT
MORELHAO, Sergio L. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Disponível em: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be. Acesso em: 06 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhao, S. L. (2020). O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra]. IFUSP-Física para Todos. São Paulo: IFUSP. Recuperado de https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
NLM
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Vancouver
Morelhao SL. O Professor Sergio Morelhão fala sobre "Física Quântica e Neurociência" [Palestra] [Internet]. IFUSP-Física para Todos. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://www.youtube.com/watch?v=znQAe89kfNE&feature=youtu.be
Artigo de periodico
Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles (2020)
Cabral, Alex J Freitas; Valerio, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz ; Checca, Noemi R; Soares, Marcio M; Remedios, Claudio M R
Source: Crystal Growth Design. Unidade: IF
Assunto: NANOPARTÍCULAS
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ABNT
CABRAL, Alex J Freitas et al. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles. Crystal Growth Design, v. 20, p. 600−607, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Cabral, A. J. F., Valerio, A., Morelhão, S. L., Checca, N. R., Soares, M. M., & Remedios, C. M. R. (2020). Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles. Crystal Growth Design, 20, 600−607. doi:10.1021/acs.cgd.9b00896
NLM
Cabral AJF, Valerio A, Morelhão SL, Checca NR, Soares MM, Remedios CMR. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles [Internet]. Crystal Growth Design. 2020 ; 20 600−607.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896
Vancouver
Cabral AJF, Valerio A, Morelhão SL, Checca NR, Soares MM, Remedios CMR. Controlled Formation and Growth Kinetics of Phase-Pure, Crystalline BiFeO3 Nanoparticles [Internet]. Crystal Growth Design. 2020 ; 20 600−607.[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.cgd.9b00896
Trabalho de evento-resumo
Computational tools for structural modeling of quantum devices (2020)
Silva, Yorí Galisteu Camillo da; Morelhão, Sergio Luiz
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Subjects: ELETRÔNICA, ÓPTICA ELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Yorí Galisteu Camillo da e MORELHÃO, Sergio Luiz. Computational tools for structural modeling of quantum devices. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Silva, Y. G. C. da, & Morelhão, S. L. (2020). Computational tools for structural modeling of quantum devices. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
NLM
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf
Vancouver
Silva YGC da, Morelhão SL. Computational tools for structural modeling of quantum devices [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-2.pdf

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