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Dissertação (Mestrado)
Controle de propriedades de filmes finos de óxido de alumínio através da assistência de feixes iônicos (2017)
Santos, Thales Borrely dos; Chubaci, José Fernando Diniz (Orientador)
Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, FEIXES, ALUMINA, RAIOS X
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ABNT
SANTOS, Thales Borrely dos. Controle de propriedades de filmes finos de óxido de alumínio através da assistência de feixes iônicos. 2017. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2017. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03062017-212721/. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Santos, T. B. dos. (2017). Controle de propriedades de filmes finos de óxido de alumínio através da assistência de feixes iônicos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03062017-212721/
NLM
Santos TB dos. Controle de propriedades de filmes finos de óxido de alumínio através da assistência de feixes iônicos [Internet]. 2017 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03062017-212721/
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Santos TB dos. Controle de propriedades de filmes finos de óxido de alumínio através da assistência de feixes iônicos [Internet]. 2017 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03062017-212721/
Artigo de periodico
Characterization of thermally evaporated lead iodide films aimed for the detection of X-rays (2011)
Caldeira Filho, A. M.; Mulato, Marcelo
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. Unidade: FFCLRP
Subjects: SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), FILMES FINOS, RAIOS X
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ABNT
CALDEIRA FILHO, A. M. e MULATO, Marcelo. Characterization of thermally evaporated lead iodide films aimed for the detection of X-rays. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, v. 636, n. 1, p. 82-86, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nima.2011.01.093. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Caldeira Filho, A. M., & Mulato, M. (2011). Characterization of thermally evaporated lead iodide films aimed for the detection of X-rays. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 636( 1), 82-86. doi:10.1016/j.nima.2011.01.093
NLM
Caldeira Filho AM, Mulato M. Characterization of thermally evaporated lead iodide films aimed for the detection of X-rays [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 2011 ; 636( 1): 82-86.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2011.01.093
Vancouver
Caldeira Filho AM, Mulato M. Characterization of thermally evaporated lead iodide films aimed for the detection of X-rays [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. 2011 ; 636( 1): 82-86.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2011.01.093
Dissertação (Mestrado)
Estudo dos efeitos fotoinduzidos por Raio-X em filmes vítreos do sistema '[Sb'(P'O IND.3') IND.3'] IND. n' -'Sb IND.2''O IND.3' dopados com CuO (2010)
Silva, Dilleys Ferreira da; Siu Li, Máximo (Orientador)
Unidade: ENG DE MATERIAI
Subjects: RAIOS X, FOTÔNICA, FILMES FINOS, VIDRO
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ABNT
SILVA, Dilleys Ferreira da. Estudo dos efeitos fotoinduzidos por Raio-X em filmes vítreos do sistema '[Sb'(P'O IND.3') IND.3'] IND. n' -'Sb IND.2''O IND.3' dopados com CuO. 2010. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2010. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-29032010-150508/. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Silva, D. F. da. (2010). Estudo dos efeitos fotoinduzidos por Raio-X em filmes vítreos do sistema '[Sb'(P'O IND.3') IND.3'] IND. n' -'Sb IND.2''O IND.3' dopados com CuO (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-29032010-150508/
NLM
Silva DF da. Estudo dos efeitos fotoinduzidos por Raio-X em filmes vítreos do sistema '[Sb'(P'O IND.3') IND.3'] IND. n' -'Sb IND.2''O IND.3' dopados com CuO [Internet]. 2010 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-29032010-150508/
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Silva DF da. Estudo dos efeitos fotoinduzidos por Raio-X em filmes vítreos do sistema '[Sb'(P'O IND.3') IND.3'] IND. n' -'Sb IND.2''O IND.3' dopados com CuO [Internet]. 2010 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-29032010-150508/
Artigo de periodico
TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands (2008)
Leite, Fábio L.; Alves, William F.; Mir, Mirta; Mascarenhas, Yvonne Primerano ; Herrmann, Paulo S. P.; Mattoso, Luiz H. C.; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Applied Physics A. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, POLÍMEROS (MATERIAIS), NANOTECNOLOGIA, MICROSCOPIA, RAIOS X
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ABNT
LEITE, Fábio L. et al. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, v. No 2008, n. 2, p. 537-542, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Leite, F. L., Alves, W. F., Mir, M., Mascarenhas, Y. P., Herrmann, P. S. P., Mattoso, L. H. C., & Oliveira Junior, O. N. de. (2008). TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, No 2008( 2), 537-542. doi:10.1007/s00339-008-4686-9
NLM
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9
Vancouver
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9
Artigo de periodico
Temperature dependence of molecular dynamics and supramolecular aggregation in MEH-PPV films: a solid-state NMR, X-ray and fluorescence spectroscopy study (2008)
Souza, A. A.; Cossiello, R. F.; Plivelic, T. S.; Mantovani, G. L.; Faria, Gregório Couto ; Atvars, T. D. Z.; Torriani, I. L.; Bonagamba, Tito José ; Azevêdo, Eduardo Ribeiro de
Source: European Polymer Journal. Unidade: IFSC
Subjects: RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR, MOLÉCULA (ESTRUTURA), TEMPERATURA, FILMES FINOS, ESTADO SÓLIDO, ESPECTROSCOPIA, FLUORESCÊNCIA, RAIOS X
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ABNT
SOUZA, A. A. et al. Temperature dependence of molecular dynamics and supramolecular aggregation in MEH-PPV films: a solid-state NMR, X-ray and fluorescence spectroscopy study. European Polymer Journal, v. 44, n. 12, p. 4063-4073, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.eurpolymj.2008.09.030. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Souza, A. A., Cossiello, R. F., Plivelic, T. S., Mantovani, G. L., Faria, G. C., Atvars, T. D. Z., et al. (2008). Temperature dependence of molecular dynamics and supramolecular aggregation in MEH-PPV films: a solid-state NMR, X-ray and fluorescence spectroscopy study. European Polymer Journal, 44( 12), 4063-4073. doi:10.1016/j.eurpolymj.2008.09.030
NLM
Souza AA, Cossiello RF, Plivelic TS, Mantovani GL, Faria GC, Atvars TDZ, Torriani IL, Bonagamba TJ, Azevêdo ER de. Temperature dependence of molecular dynamics and supramolecular aggregation in MEH-PPV films: a solid-state NMR, X-ray and fluorescence spectroscopy study [Internet]. European Polymer Journal. 2008 ; 44( 12): 4063-4073.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.eurpolymj.2008.09.030
Vancouver
Souza AA, Cossiello RF, Plivelic TS, Mantovani GL, Faria GC, Atvars TDZ, Torriani IL, Bonagamba TJ, Azevêdo ER de. Temperature dependence of molecular dynamics and supramolecular aggregation in MEH-PPV films: a solid-state NMR, X-ray and fluorescence spectroscopy study [Internet]. European Polymer Journal. 2008 ; 44( 12): 4063-4073.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.eurpolymj.2008.09.030
Trabalho de evento-resumo
Investigation of interface structure and phase morphology in conductive elastomeric films of polyaniline-CSA/triblock copolymers blends by solid-state NMR spin-diffusion and small angle x-ray scatteing (2008)
Mantovani, Gerson L.; Bonk, Fábio Aurélio; Azevêdo, Eduardo Ribeiro de ; Plivelic, Tomás; Torriani, Iris L.; Hage Junior, Elias; Bonagamba, Tito José ; Mattoso, Luiz H. C.
Source: Book of Abstracts. Conference titles: International Conference on Science and Technology of Synthetic Metals - ICSM. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, POLÍMEROS (MATERIAIS), RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR, RAIOS X
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ABNT
MANTOVANI, Gerson L. et al. Investigation of interface structure and phase morphology in conductive elastomeric films of polyaniline-CSA/triblock copolymers blends by solid-state NMR spin-diffusion and small angle x-ray scatteing. 2008, Anais.. [S.l.]: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2008. . Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Mantovani, G. L., Bonk, F. A., Azevêdo, E. R. de, Plivelic, T., Torriani, I. L., Hage Junior, E., et al. (2008). Investigation of interface structure and phase morphology in conductive elastomeric films of polyaniline-CSA/triblock copolymers blends by solid-state NMR spin-diffusion and small angle x-ray scatteing. In Book of Abstracts. [S.l.]: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Mantovani GL, Bonk FA, Azevêdo ER de, Plivelic T, Torriani IL, Hage Junior E, Bonagamba TJ, Mattoso LHC. Investigation of interface structure and phase morphology in conductive elastomeric films of polyaniline-CSA/triblock copolymers blends by solid-state NMR spin-diffusion and small angle x-ray scatteing. Book of Abstracts. 2008 ;[citado 2024 out. 02 ]
Vancouver
Mantovani GL, Bonk FA, Azevêdo ER de, Plivelic T, Torriani IL, Hage Junior E, Bonagamba TJ, Mattoso LHC. Investigation of interface structure and phase morphology in conductive elastomeric films of polyaniline-CSA/triblock copolymers blends by solid-state NMR spin-diffusion and small angle x-ray scatteing. Book of Abstracts. 2008 ;[citado 2024 out. 02 ]
Artigo de periodico
Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM (2007)
Leite, Fábio Lima; Oliveira Neto, Mario de; Paterno, Leonardo Giordano ; Ballestero, Michel R. M.; Polikarpov, Igor ; Mascarenhas, Yvonne Primerano ; Herrmann, Paulo Sérgio de Paula; Mattoso, Luiz H. C.; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Journal of Colloid and Interface Science. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, POLÍMEROS (MATERIAIS), NANOTECNOLOGIA, MICROSCOPIA, RAIOS X
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ABNT
LEITE, Fábio Lima et al. Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM. Journal of Colloid and Interface Science, v. 316, n. 2, p. 376-387, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jcis.2007.08.069. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Leite, F. L., Oliveira Neto, M. de, Paterno, L. G., Ballestero, M. R. M., Polikarpov, I., Mascarenhas, Y. P., et al. (2007). Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM. Journal of Colloid and Interface Science, 316( 2), 376-387. doi:10.1016/j.jcis.2007.08.069
NLM
Leite FL, Oliveira Neto M de, Paterno LG, Ballestero MRM, Polikarpov I, Mascarenhas YP, Herrmann PS de P, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM [Internet]. Journal of Colloid and Interface Science. 2007 ; 316( 2): 376-387.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jcis.2007.08.069
Vancouver
Leite FL, Oliveira Neto M de, Paterno LG, Ballestero MRM, Polikarpov I, Mascarenhas YP, Herrmann PS de P, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM [Internet]. Journal of Colloid and Interface Science. 2007 ; 316( 2): 376-387.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jcis.2007.08.069
Trabalho de evento-resumo
Nanoscale conformational ordering on poly(alkoxyanilines): fractal behavior and thin films formation mechanism (2006)
Herrmann, Paulo Sérgio de Paula; Mascarenhas, Yvonne Primerano ; Polikarpov, Igor ; Ballestero, Michel R. M.; Oliveira Neto, Mário de; Leite, Fábio de Lima; Mattoso, Luiz Henrique Capparelli; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Final Program. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, POLÍMEROS (MATERIAIS), SEMICONDUTORES, ESPALHAMENTO, RAIOS X
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ABNT
HERRMANN, Paulo Sérgio de Paula et al. Nanoscale conformational ordering on poly(alkoxyanilines): fractal behavior and thin films formation mechanism. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais - SBPMat, 2006. . Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Herrmann, P. S. de P., Mascarenhas, Y. P., Polikarpov, I., Ballestero, M. R. M., Oliveira Neto, M. de, Leite, F. de L., et al. (2006). Nanoscale conformational ordering on poly(alkoxyanilines): fractal behavior and thin films formation mechanism. In Final Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais - SBPMat.
NLM
Herrmann PS de P, Mascarenhas YP, Polikarpov I, Ballestero MRM, Oliveira Neto M de, Leite F de L, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. Nanoscale conformational ordering on poly(alkoxyanilines): fractal behavior and thin films formation mechanism. Final Program. 2006 ;[citado 2024 out. 02 ]
Vancouver
Herrmann PS de P, Mascarenhas YP, Polikarpov I, Ballestero MRM, Oliveira Neto M de, Leite F de L, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. Nanoscale conformational ordering on poly(alkoxyanilines): fractal behavior and thin films formation mechanism. Final Program. 2006 ;[citado 2024 out. 02 ]
Trabalho de evento
Preparação de padrões de Filmes Finos para análise IBA: Uma atividade para iniciantes na pesquisa em física nuclear aplicada (2005)
Delgado, A. O.; Tabacniks, Manfredo ; Rizzutto, Marcia ; Added, Nemitala ; Romero, Sergio Antonio
Conference titles: Simpósio Nacional de Ensino de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, FÍSICA, RAIOS X
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ABNT
DELGADO, A. O. et al. Preparação de padrões de Filmes Finos para análise IBA: Uma atividade para iniciantes na pesquisa em física nuclear aplicada. 2005, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2005. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/snef/xvi/cd/resumos/T0569-1.pdf. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Delgado, A. O., Tabacniks, M., Rizzutto, M., Added, N., & Romero, S. A. (2005). Preparação de padrões de Filmes Finos para análise IBA: Uma atividade para iniciantes na pesquisa em física nuclear aplicada. In . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/snef/xvi/cd/resumos/T0569-1.pdf
NLM
Delgado AO, Tabacniks M, Rizzutto M, Added N, Romero SA. Preparação de padrões de Filmes Finos para análise IBA: Uma atividade para iniciantes na pesquisa em física nuclear aplicada [Internet]. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/snef/xvi/cd/resumos/T0569-1.pdf
Vancouver
Delgado AO, Tabacniks M, Rizzutto M, Added N, Romero SA. Preparação de padrões de Filmes Finos para análise IBA: Uma atividade para iniciantes na pesquisa em física nuclear aplicada [Internet]. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/snef/xvi/cd/resumos/T0569-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Fabricação e caracterização de filmes finos de TlBr crescidos pela técnica de spray pyrolysis (2005)
Ferreira, Ernando Silva; Mulato, Marcelo
Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: FFCLRP
Subjects: FILMES FINOS, RAIOS X, FÍSICA MÉDICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERREIRA, Ernando Silva e MULATO, Marcelo. Fabricação e caracterização de filmes finos de TlBr crescidos pela técnica de spray pyrolysis. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Ferreira, E. S., & Mulato, M. (2005). Fabricação e caracterização de filmes finos de TlBr crescidos pela técnica de spray pyrolysis. In . São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Ferreira ES, Mulato M. Fabricação e caracterização de filmes finos de TlBr crescidos pela técnica de spray pyrolysis. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ]
Vancouver
Ferreira ES, Mulato M. Fabricação e caracterização de filmes finos de TlBr crescidos pela técnica de spray pyrolysis. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ]
Artigo de periodico
Water at interfaces and its influence on the electrical properties of adsorbed films (2004)
Oliveira Junior, Osvaldo Novais de; Riul Junior, Antonio; Leite, Vitor B. P.
Source: Brazilian Journal of Physics. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, INTERFACE, POLÍMEROS (MATERIAIS), RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA JUNIOR, Osvaldo Novais de e RIUL JUNIOR, Antonio e LEITE, Vitor B. P. Water at interfaces and its influence on the electrical properties of adsorbed films. Brazilian Journal of Physics, v. 34, n. 1, p. 73-83, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s0103-97332004000100011. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Oliveira Junior, O. N. de, Riul Junior, A., & Leite, V. B. P. (2004). Water at interfaces and its influence on the electrical properties of adsorbed films. Brazilian Journal of Physics, 34( 1), 73-83. doi:10.1590/s0103-97332004000100011
NLM
Oliveira Junior ON de, Riul Junior A, Leite VBP. Water at interfaces and its influence on the electrical properties of adsorbed films [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2004 ; 34( 1): 73-83.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332004000100011
Vancouver
Oliveira Junior ON de, Riul Junior A, Leite VBP. Water at interfaces and its influence on the electrical properties of adsorbed films [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2004 ; 34( 1): 73-83.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332004000100011
Dissertação (Mestrado)
Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. (2004)
Scapin, Valdirene de Oliveira; Lima, Nelson Batista de (Orientador)
Unidade: IPEN
Subjects: MÉTODO ANALÍTICO QUANTITATIVO, RAIOS X, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SCAPIN, Valdirene de Oliveira. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. 2004. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2004. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Scapin, V. de O. (2004). Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
NLM
Scapin V de O. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
Vancouver
Scapin V de O. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
Dissertação (Mestrado)
Propriedades químicas e morfologicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo (1997)
Prado, Rogerio Junqueira; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu (Orientador)
Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, RAIOS X, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PRADO, Rogerio Junqueira. Propriedades químicas e morfologicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo. 1997. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1997. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-07032002-142147/. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Prado, R. J. (1997). Propriedades químicas e morfologicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-07032002-142147/
NLM
Prado RJ. Propriedades químicas e morfologicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo [Internet]. 1997 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-07032002-142147/
Vancouver
Prado RJ. Propriedades químicas e morfologicas de filmes hidrogenados de carbeto de silício amorfo [Internet]. 1997 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-07032002-142147/
Trabalho de evento-anais periodico
Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt (1996)
Zanetti, S M; Foschini, C R; Leite, E R; Longo, E; Varela, J A; Olivi, P
Source: Ceramica. Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica. Unidade: FFCLRP
Subjects: FILMES FINOS, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ZANETTI, S M et al. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. [S.l.]: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 02 out. 2024. , 1996
APA
Zanetti, S. M., Foschini, C. R., Leite, E. R., Longo, E., Varela, J. A., & Olivi, P. (1996). Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo.
NLM
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2024 out. 02 ]
Vancouver
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2024 out. 02 ]
Artigo de periodico
Estimation of indium‐to‐germanium and gallium‐to‐germanium sputtering yield ratios using cosputtering deposition (1994)
Comedi, David ; Fajardo, F.; Chambouleyron, I.; Tabacniks, Manfredo
Source: Journal of Vacuum Science & Technology A. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, MATERIAIS, FÍSICA DE PARTÍCULAS, RAIOS X, ÍNDIO (ELEMENTO QUÍMICO), GERMÂNIO
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ABNT
COMEDI, David et al. Estimation of indium‐to‐germanium and gallium‐to‐germanium sputtering yield ratios using cosputtering deposition. Journal of Vacuum Science & Technology A, v. 12, n. 6, p. 3149-3151, 1994Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1116/1.579229. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Comedi, D., Fajardo, F., Chambouleyron, I., & Tabacniks, M. (1994). Estimation of indium‐to‐germanium and gallium‐to‐germanium sputtering yield ratios using cosputtering deposition. Journal of Vacuum Science & Technology A, 12( 6), 3149-3151. doi:10.1116/1.579229
NLM
Comedi D, Fajardo F, Chambouleyron I, Tabacniks M. Estimation of indium‐to‐germanium and gallium‐to‐germanium sputtering yield ratios using cosputtering deposition [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology A. 1994 ; 12( 6): 3149-3151.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.579229
Vancouver
Comedi D, Fajardo F, Chambouleyron I, Tabacniks M. Estimation of indium‐to‐germanium and gallium‐to‐germanium sputtering yield ratios using cosputtering deposition [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology A. 1994 ; 12( 6): 3149-3151.[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1116/1.579229
Trabalho de evento
Reflection x-ray absorption fine structure study of the passive films on cast and rapidly-solidified mg alloys (1992)
Long, G G; Kruger, J; Tanaka, Deniol Katsuki; Zhang, Z
Source: Proceedings. Conference titles: Symposium on X-Ray Methods in Corrosion and Interfacial Electrochemistry. Unidade: EP
Subjects: METAIS (PROPRIEDADES FÍSICAS), FILMES FINOS, RAIOS X
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ABNT
LONG, G G et al. Reflection x-ray absorption fine structure study of the passive films on cast and rapidly-solidified mg alloys. 1992, Anais.. Pennington: Electrochemical Society, 1992. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/290e758b-800c-4aa9-9196-f126025cf8bd/Tanaka-1992-reflection%20x-ray%20absorption.pdf. Acesso em: 02 out. 2024.
APA
Long, G. G., Kruger, J., Tanaka, D. K., & Zhang, Z. (1992). Reflection x-ray absorption fine structure study of the passive films on cast and rapidly-solidified mg alloys. In Proceedings. Pennington: Electrochemical Society. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/290e758b-800c-4aa9-9196-f126025cf8bd/Tanaka-1992-reflection%20x-ray%20absorption.pdf
NLM
Long GG, Kruger J, Tanaka DK, Zhang Z. Reflection x-ray absorption fine structure study of the passive films on cast and rapidly-solidified mg alloys [Internet]. Proceedings. 1992 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/290e758b-800c-4aa9-9196-f126025cf8bd/Tanaka-1992-reflection%20x-ray%20absorption.pdf
Vancouver
Long GG, Kruger J, Tanaka DK, Zhang Z. Reflection x-ray absorption fine structure study of the passive films on cast and rapidly-solidified mg alloys [Internet]. Proceedings. 1992 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/290e758b-800c-4aa9-9196-f126025cf8bd/Tanaka-1992-reflection%20x-ray%20absorption.pdf

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