Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. (2004)
- Authors:
- Autor USP: SCAPIN, VALDIRENE DE OLIVIEIRA - IPEN
- Unidade: IPEN
- Subjects: MÉTODO ANALÍTICO QUANTITATIVO; RAIOS X; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Data da defesa: 18.02.2004
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ABNT
SCAPIN, Valdirene de Oliveira. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. 2004. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2004. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/. Acesso em: 11 out. 2024. -
APA
Scapin, V. de O. (2004). Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/ -
NLM
Scapin V de O. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;[citado 2024 out. 11 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/ -
Vancouver
Scapin V de O. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;[citado 2024 out. 11 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
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