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Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. (2004)

  • Authors:
  • Autor USP: SCAPIN, VALDIRENE DE OLIVIEIRA - IPEN
  • Unidade: IPEN
  • Subjects: MÉTODO ANALÍTICO QUANTITATIVO; RAIOS X; FILMES FINOS
  • Language: Português
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 18.02.2004
  • Acesso à fonte
    How to cite
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    • ABNT

      SCAPIN, Valdirene de Oliveira; LIMA, Nelson Batista de. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos.. 2004.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2004. Disponível em: < http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/ >.
    • APA

      Scapin, V. de O., & Lima, N. B. de. (2004). Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
    • NLM

      Scapin V de O, Lima NB de. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/
    • Vancouver

      Scapin V de O, Lima NB de. Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): determinação da espessura e composição química de filmes finos. [Internet]. 2004 ;Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/

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