Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt (1996)
- Authors:
- Autor USP: OLIVI, PAULO - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Subjects: FILMES FINOS; RAIOS X
- Language: Português
- Source:
- Título: Ceramica
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.42, n.275, p.99-102, 1996
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica
-
ABNT
ZANETTI, S M et al. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. [S.l.]: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 27 dez. 2025. , 1996 -
APA
Zanetti, S. M., Foschini, C. R., Leite, E. R., Longo, E., Varela, J. A., & Olivi, P. (1996). Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. -
NLM
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2025 dez. 27 ] -
Vancouver
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2025 dez. 27 ] - Estudo ciclovoltamétrico de eletrodos de óxido de estanho e platina preparados pelo método de Pechini
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