TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands (2008)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASCARENHAS, YVONNE PRIMERANO - IFSC ; OLIVEIRA JUNIOR, OSVALDO NOVAIS DE - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1007/s00339-008-4686-9
- Subjects: FILMES FINOS; POLÍMEROS (MATERIAIS); NANOTECNOLOGIA; MICROSCOPIA; RAIOS X
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Applied Physics A
- ISSN: 0947-8396
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 93, n. 2, p. 537-542, Nov. 2008
- Status:
- Artigo possui versão em acesso aberto em repositório (Green Open Access)
- Versão do Documento:
- Versão submetida (Pré-print)
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-
ABNT
LEITE, Fábio L. et al. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, v. No 2008, n. 2, p. 537-542, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9. Acesso em: 07 abr. 2026. -
APA
Leite, F. L., Alves, W. F., Mir, M., Mascarenhas, Y. P., Herrmann, P. S. P., Mattoso, L. H. C., & Oliveira Junior, O. N. de. (2008). TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, No 2008( 2), 537-542. doi:10.1007/s00339-008-4686-9 -
NLM
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2026 abr. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9 -
Vancouver
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2026 abr. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9 - Nanoscale conformational ordering in polyanilines investigated by SAXS and AFM
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