New method for determination of the fixed charge densities at the buried oxide interfaces in soi mosfets (1996)
- Authors:
- Autor USP: MARTINO, JOAO ANTONIO - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: Conference of the Brazilian Microelectronics Society
-
ABNT
MARTINO, João Antonio e PAVANELLO, Marcelo Antonio. New method for determination of the fixed charge densities at the buried oxide interfaces in soi mosfets. 1996, Anais.. Sao Paulo: Sbmicro, 1996. . Acesso em: 31 out. 2024. -
APA
Martino, J. A., & Pavanello, M. A. (1996). New method for determination of the fixed charge densities at the buried oxide interfaces in soi mosfets. In Proceedings. Sao Paulo: Sbmicro. -
NLM
Martino JA, Pavanello MA. New method for determination of the fixed charge densities at the buried oxide interfaces in soi mosfets. Proceedings. 1996 ;[citado 2024 out. 31 ] -
Vancouver
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