Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x (1988)
- Authors:
- USP affiliated authors: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP ; MORIMOTO, NILTON ITIRO - EP
- Unidade: EP
- Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X; FILMES FINOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.1 , p.127-39, 1988
-
ABNT
SWART, Jacobus Willibrordus; RIELLA, H G; MORIMOTO, Nilton Itiro. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade, São Paulo, v. 1 , p. 127-39, 1988. -
APA
Swart, J. W., Riella, H. G., & Morimoto, N. I. (1988). Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade, 1 , 127-39. -
NLM
Swart JW, Riella HG, Morimoto NI. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade. 1988 ;1 127-39. -
Vancouver
Swart JW, Riella HG, Morimoto NI. Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titânio por técnicas de difração de raios-x. Anais Epusp. Serie B: Engenharia de Eletricidade. 1988 ;1 127-39. - Analysis of the mean crystallite size and microstress in titanium silicide thin films
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