Menu

Filtros : "IF" "FILMES FINOS" Removido: "2022" Limpar

Filtros

Refine with date range

1 - 20 (420 records)

  • Dissertação (Mestrado)

    Estudo da transição polar dependente da concentração de portadores de carga em filmes finos de Pb0.5Sn0.5Te dopados com bismuto (2025)

    Stefanato, Eduardo Destefani ; Gonzalez Hernandez, Felix Guillermo (Orientador)

    Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, FILMES FINOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, ESPECTROSCOPIA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      STEFANATO, Eduardo Destefani. Estudo da transição polar dependente da concentração de portadores de carga em filmes finos de Pb0.5Sn0.5Te dopados com bismuto. 2025. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2025. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03052025-160145/. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Stefanato, E. D. (2025). Estudo da transição polar dependente da concentração de portadores de carga em filmes finos de Pb0.5Sn0.5Te dopados com bismuto (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03052025-160145/

    • NLM

      Stefanato ED. Estudo da transição polar dependente da concentração de portadores de carga em filmes finos de Pb0.5Sn0.5Te dopados com bismuto [Internet]. 2025 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03052025-160145/

    • Vancouver

      Stefanato ED. Estudo da transição polar dependente da concentração de portadores de carga em filmes finos de Pb0.5Sn0.5Te dopados com bismuto [Internet]. 2025 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-03052025-160145/

  • Artigo de periodico

    SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale (2025)

    Cassimiro, Vinicius R S ; Cunha Júnior, Rubens M; Rehder, Gustavo P ; Pereyra, Inés ; Carreño, Marcelo N P ; Alayo, Marco I. ; Trcera, Nicolas ; Scopel, Wanderla L ; Pérez, Carlos A. ; Rodrigues, Cleber L. ; Fantini, Márcia C A

    Source: ECS Journal of Solid State Science and Technology. Unidades: EP, IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      CASSIMIRO, Vinicius R S et al. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale. ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2025Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Cassimiro, V. R. S., Cunha Júnior, R. M., Rehder, G. P., Pereyra, I., Carreño, M. N. P., Alayo, M. I., et al. (2025). SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale. ECS Journal of Solid State Science and Technology. doi:https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1

    • NLM

      Cassimiro VRS, Cunha Júnior RM, Rehder GP, Pereyra I, Carreño MNP, Alayo MI, Trcera N, Scopel WL, Pérez CA, Rodrigues CL, Fantini MCA. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale [Internet]. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2025 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1

    • Vancouver

      Cassimiro VRS, Cunha Júnior RM, Rehder GP, Pereyra I, Carreño MNP, Alayo MI, Trcera N, Scopel WL, Pérez CA, Rodrigues CL, Fantini MCA. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale [Internet]. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2025 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1

  • Artigo de periodico

    Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size (2024)

    Beck, Lucile ; Mayer, Matej ; Silva, Tiago Fiorini da ; Berthier, Claire ; Pichon, Laurent

    Source: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms. Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, MATERIAIS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BECK, Lucile et al. Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Nuclear instruments and methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms, v. 555, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Beck, L., Mayer, M., Silva, T. F. da, Berthier, C., & Pichon, L. (2024). Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Nuclear instruments and methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms, 555. doi:10.1016/j.nimb.2024.165468

    • NLM

      Beck L, Mayer M, Silva TF da, Berthier C, Pichon L. Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size [Internet]. Nuclear instruments and methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms. 2024 ; 555[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468

    • Vancouver

      Beck L, Mayer M, Silva TF da, Berthier C, Pichon L. Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size [Internet]. Nuclear instruments and methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms. 2024 ; 555[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468

  • Trabalho de evento-resumo

    Preparation and characterization of N,N’-bis(3- triethoxysilylpropyl)-1,4,5,8-naphthalenediimide(NDI) molecular crystal and NDI mesoporous organosilicas for durable organo-electronic systems (2024)

    Assis, Renan Gabriel de ; Oliveira Junior, Marcos de ; Escote, Marcia Tsuyama ; Acuña, José Javier Sáez ; Ferreira, Fabio Furlan ; Pedroza, Luana Sucupira ; Brochsztain, Sérgio ; Queiroz, Thiago Branquinho de

    Source: Presentation program. Conference titles: Brazil MRS Meeting. Unidades: IFSC, IF

    Subjects: FILMES FINOS, RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESPECTROSCOPIA DE RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR

    PrivadoAcesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ASSIS, Renan Gabriel de et al. Preparation and characterization of N,N’-bis(3- triethoxysilylpropyl)-1,4,5,8-naphthalenediimide(NDI) molecular crystal and NDI mesoporous organosilicas for durable organo-electronic systems. 2024, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2024. Disponível em: https://www.eventweb.com.br/xxiisbpmat/specific-files/manuscripts/xxiisbpmat/914_1712604608.pdf. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Assis, R. G. de, Oliveira Junior, M. de, Escote, M. T., Acuña, J. J. S., Ferreira, F. F., Pedroza, L. S., et al. (2024). Preparation and characterization of N,N’-bis(3- triethoxysilylpropyl)-1,4,5,8-naphthalenediimide(NDI) molecular crystal and NDI mesoporous organosilicas for durable organo-electronic systems. In Presentation program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de https://www.eventweb.com.br/xxiisbpmat/specific-files/manuscripts/xxiisbpmat/914_1712604608.pdf

    • NLM

      Assis RG de, Oliveira Junior M de, Escote MT, Acuña JJS, Ferreira FF, Pedroza LS, Brochsztain S, Queiroz TB de. Preparation and characterization of N,N’-bis(3- triethoxysilylpropyl)-1,4,5,8-naphthalenediimide(NDI) molecular crystal and NDI mesoporous organosilicas for durable organo-electronic systems [Internet]. Presentation program. 2024 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.eventweb.com.br/xxiisbpmat/specific-files/manuscripts/xxiisbpmat/914_1712604608.pdf

    • Vancouver

      Assis RG de, Oliveira Junior M de, Escote MT, Acuña JJS, Ferreira FF, Pedroza LS, Brochsztain S, Queiroz TB de. Preparation and characterization of N,N’-bis(3- triethoxysilylpropyl)-1,4,5,8-naphthalenediimide(NDI) molecular crystal and NDI mesoporous organosilicas for durable organo-electronic systems [Internet]. Presentation program. 2024 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.eventweb.com.br/xxiisbpmat/specific-files/manuscripts/xxiisbpmat/914_1712604608.pdf

  • Artigo de periodico

    Preparation and characterization of a disilylated naphthalenediimide molecular crystal: perspectives for organosilica mesoporous materials (2024)

    Assis, Renan Gabriel de ; Oliveira Junior, Marcos de ; Escote, Marcia Tsuyama ; Pinheiro, Carlos Basílio ; Acuña, José Javier Sáez ; Ferreira, Fabio Furlan ; Pedroza, Luana Sucupira ; Brochsztain, Sérgio ; Queiroz, Thiago Branquinho de

    Source: ACS Applied Engineering Materials. Unidades: IFSC, IF

    Subjects: FOTOCONDUTIVIDADE, FILMES FINOS, RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ASSIS, Renan Gabriel de et al. Preparation and characterization of a disilylated naphthalenediimide molecular crystal: perspectives for organosilica mesoporous materials. ACS Applied Engineering Materials, v. 2, n. 7, p. 1976-1986 + supporting information: s1-s11, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acsaenm.4c00341. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Assis, R. G. de, Oliveira Junior, M. de, Escote, M. T., Pinheiro, C. B., Acuña, J. J. S., Ferreira, F. F., et al. (2024). Preparation and characterization of a disilylated naphthalenediimide molecular crystal: perspectives for organosilica mesoporous materials. ACS Applied Engineering Materials, 2( 7), 1976-1986 + supporting information: s1-s11. doi:10.1021/acsaenm.4c00341

    • NLM

      Assis RG de, Oliveira Junior M de, Escote MT, Pinheiro CB, Acuña JJS, Ferreira FF, Pedroza LS, Brochsztain S, Queiroz TB de. Preparation and characterization of a disilylated naphthalenediimide molecular crystal: perspectives for organosilica mesoporous materials [Internet]. ACS Applied Engineering Materials. 2024 ; 2( 7): 1976-1986 + supporting information: s1-s11.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsaenm.4c00341

    • Vancouver

      Assis RG de, Oliveira Junior M de, Escote MT, Pinheiro CB, Acuña JJS, Ferreira FF, Pedroza LS, Brochsztain S, Queiroz TB de. Preparation and characterization of a disilylated naphthalenediimide molecular crystal: perspectives for organosilica mesoporous materials [Internet]. ACS Applied Engineering Materials. 2024 ; 2( 7): 1976-1986 + supporting information: s1-s11.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsaenm.4c00341

  • Artigo de periodico

    Spin splitting tunable optical band gap in polycrystalline GdN thin films for spin filtering (2024)

    Vilela, Gilvania ; Stephen, Gregory M ; Gratens, Xavier Pierre Marie ; Galgano, Giovanni Decot ; Hou, Yasen; Takamura, Yota ; Heiman, D; Henriques, André Bohomoletz ; Berera, G; Moodera, J S

    Source: Physical Review B. Unidade: IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      VILELA, Gilvania et al. Spin splitting tunable optical band gap in polycrystalline GdN thin films for spin filtering. Physical Review B, v. 109, n. 6, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.109.L060401. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Vilela, G., Stephen, G. M., Gratens, X. P. M., Galgano, G. D., Hou, Y., Takamura, Y., et al. (2024). Spin splitting tunable optical band gap in polycrystalline GdN thin films for spin filtering. Physical Review B, 109( 6). doi:10.1103/PhysRevB.109.L060401

    • NLM

      Vilela G, Stephen GM, Gratens XPM, Galgano GD, Hou Y, Takamura Y, Heiman D, Henriques AB, Berera G, Moodera JS. Spin splitting tunable optical band gap in polycrystalline GdN thin films for spin filtering [Internet]. Physical Review B. 2024 ; 109( 6):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.109.L060401

    • Vancouver

      Vilela G, Stephen GM, Gratens XPM, Galgano GD, Hou Y, Takamura Y, Heiman D, Henriques AB, Berera G, Moodera JS. Spin splitting tunable optical band gap in polycrystalline GdN thin films for spin filtering [Internet]. Physical Review B. 2024 ; 109( 6):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.109.L060401

  • Dissertação (Mestrado)

    Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos (2024)

    Barreto, Fulvio Antonio Pereira ; Chubaci, José Fernando Diniz (Orientador)

    Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, TERRAS RARAS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BARRETO, Fulvio Antonio Pereira. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos. 2024. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2024. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Barreto, F. A. P. (2024). Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/

    • NLM

      Barreto FAP. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos [Internet]. 2024 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/

    • Vancouver

      Barreto FAP. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos [Internet]. 2024 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/

  • Artigo de periodico

    Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide (2024)

    Morais, Eliane A; Lemes, Maykon A; Souza, Natalilian R S; Ito, Amando Siuiti ; Duarte, Evandro Luiz ; Silva, Ronaldo Santos da ; Brochsztain, Sérgio ; Souza, Jose A

    Source: ACS Omega Volume. Unidades: FFCLRP, IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORAIS, Eliane A et al. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume, v. 9, n. 20, p. 21680-22508, 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acsomega.4c01651. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Morais, E. A., Lemes, M. A., Souza, N. R. S., Ito, A. S., Duarte, E. L., Silva, R. S. da, et al. (2024). Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume, 9( 20), 21680-22508. doi:10.1021/acsomega.4c01651

    • NLM

      Morais EA, Lemes MA, Souza NRS, Ito AS, Duarte EL, Silva RS da, Brochsztain S, Souza JA. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide [Internet]. ACS Omega Volume. 2024 ; 9( 20): 21680-22508.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsomega.4c01651

    • Vancouver

      Morais EA, Lemes MA, Souza NRS, Ito AS, Duarte EL, Silva RS da, Brochsztain S, Souza JA. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide [Internet]. ACS Omega Volume. 2024 ; 9( 20): 21680-22508.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsomega.4c01651

  • Artigo de periodico

    Novel methodology to determine thermal properties of nanoparticles exclusively based on SAXS measurements applied to Bi nanocrystals and nanodroplets in a glass matrix (2023)

    Kellermann, Guinther; Craievich, Aldo Felix

    Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, NANOPARTÍCULAS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      KELLERMANN, Guinther e CRAIEVICH, Aldo Felix. Novel methodology to determine thermal properties of nanoparticles exclusively based on SAXS measurements applied to Bi nanocrystals and nanodroplets in a glass matrix. Journal of Applied Crystallography, v. 56, p. 927-938, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576723004570. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Kellermann, G., & Craievich, A. F. (2023). Novel methodology to determine thermal properties of nanoparticles exclusively based on SAXS measurements applied to Bi nanocrystals and nanodroplets in a glass matrix. Journal of Applied Crystallography, 56, 927-938. doi:10.1107/S1600576723004570

    • NLM

      Kellermann G, Craievich AF. Novel methodology to determine thermal properties of nanoparticles exclusively based on SAXS measurements applied to Bi nanocrystals and nanodroplets in a glass matrix [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2023 ; 56 927-938.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723004570

    • Vancouver

      Kellermann G, Craievich AF. Novel methodology to determine thermal properties of nanoparticles exclusively based on SAXS measurements applied to Bi nanocrystals and nanodroplets in a glass matrix [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2023 ; 56 927-938.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576723004570

  • Artigo de periodico

    Integral measurements of plural and multiple scattering of electrons with energies between 10 and 100 keV for 6 <= Z <= 83: I. Thin and intermediate-thickness targets (2023)

    Barros, S. F.; Petri, A. R.; Malafronte, A A ; Fernández-Varea, J M ; Maidana, Nora Lia ; Martins, M N ; Silva, Tiago Fiorini da ; Vanin, Vito; Mangiarotti, Alessio

    Source: Radiation Physics and Chemistry. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ESPALHAMENTO, FÍSICO-QUÍMICA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BARROS, S. F. et al. Integral measurements of plural and multiple scattering of electrons with energies between 10 and 100 keV for 6 <= Z <= 83: I. Thin and intermediate-thickness targets. Radiation Physics and Chemistry, v. 202, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110540. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Barros, S. F., Petri, A. R., Malafronte, A. A., Fernández-Varea, J. M., Maidana, N. L., Martins, M. N., et al. (2023). Integral measurements of plural and multiple scattering of electrons with energies between 10 and 100 keV for 6 <= Z <= 83: I. Thin and intermediate-thickness targets. Radiation Physics and Chemistry, 202. doi:10.1016/j.radphyschem.2022.110540

    • NLM

      Barros SF, Petri AR, Malafronte AA, Fernández-Varea JM, Maidana NL, Martins MN, Silva TF da, Vanin V, Mangiarotti A. Integral measurements of plural and multiple scattering of electrons with energies between 10 and 100 keV for 6<= Z <= 83: I. Thin and intermediate-thickness targets [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2023 ; 202[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110540

    • Vancouver

      Barros SF, Petri AR, Malafronte AA, Fernández-Varea JM, Maidana NL, Martins MN, Silva TF da, Vanin V, Mangiarotti A. Integral measurements of plural and multiple scattering of electrons with energies between 10 and 100 keV for 6<= Z <= 83: I. Thin and intermediate-thickness targets [Internet]. Radiation Physics and Chemistry. 2023 ; 202[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2022.110540

  • Artigo de periodico

    Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure (2023)

    Izquierdo, Jose Enrique Eirez ; Cavallari, Marco Roberto ; García, Dennis Cabrera ; Fonseca, Fernando Josepetti ; Quivy, Alain André

    Source: Sensors. Unidades: EP, IF

    Subjects: SEMICONDUTORES, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      IZQUIERDO, Jose Enrique Eirez et al. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure. Sensors, v. 23, n. 18, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.3390/s23187981. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Izquierdo, J. E. E., Cavallari, M. R., García, D. C., Fonseca, F. J., & Quivy, A. A. (2023). Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure. Sensors, 23( 18). doi:10.3390/s23187981

    • NLM

      Izquierdo JEE, Cavallari MR, García DC, Fonseca FJ, Quivy AA. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure [Internet]. Sensors. 2023 ; 23( 18):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.3390/s23187981

    • Vancouver

      Izquierdo JEE, Cavallari MR, García DC, Fonseca FJ, Quivy AA. Detection of water contaminants by organic transistors as gas sensors in a bottom-gate/bottom-contact cross-linked structure [Internet]. Sensors. 2023 ; 23( 18):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.3390/s23187981

  • Artigo de periodico

    Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase (2023)

    Singh, Hardepinder; Gupta, Mukul; Gupta, Pooja; Penacchio, Rafaela ; Morelhao, Sergio L. ; Kumar, Hardeep

    Source: Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, TUNGSTÊNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SINGH, Hardepinder et al. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), v. 129, n. 5, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Singh, H., Gupta, M., Gupta, P., Penacchio, R., Morelhao, S. L., & Kumar, H. (2023). Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A), 129( 5). doi:10.1007/s00339-023-06552-x

    • NLM

      Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x

    • Vancouver

      Singh H, Gupta M, Gupta P, Penacchio R, Morelhao SL, Kumar H. Role of nitrogen partial pressure, deposition rate and annealing on stability of beta-W phase [Internet]. Applied Physics A: Materials Science and Processing (Applied Physics A). 2023 ; 129( 5):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-023-06552-x

  • Artigo de periodico

    SERS-active substrates using DVD-R coated in silver thin films: A preliminary study for detection of commercial glyphosate (2023)

    Murcia Correa, L S ; Najera, Omar Cipriano Usuriaga ; Vieira, Lucia; Raniero, L

    Source: Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy. Unidade: IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MURCIA CORREA, L S et al. SERS-active substrates using DVD-R coated in silver thin films: A preliminary study for detection of commercial glyphosate. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy, v. 302, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.saa.2023.123017. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Murcia Correa, L. S., Najera, O. C. U., Vieira, L., & Raniero, L. (2023). SERS-active substrates using DVD-R coated in silver thin films: A preliminary study for detection of commercial glyphosate. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy, 302. doi:10.1016/j.saa.2023.123017

    • NLM

      Murcia Correa LS, Najera OCU, Vieira L, Raniero L. SERS-active substrates using DVD-R coated in silver thin films: A preliminary study for detection of commercial glyphosate [Internet]. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy. 2023 ; 302[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.saa.2023.123017

    • Vancouver

      Murcia Correa LS, Najera OCU, Vieira L, Raniero L. SERS-active substrates using DVD-R coated in silver thin films: A preliminary study for detection of commercial glyphosate [Internet]. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy. 2023 ; 302[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.saa.2023.123017

  • Artigo de periodico

    Correlation of Interface Interdiffusion and Skyrmionic Phases (2023)

    Carvalho, Pamela C. ; Miranda, Ivan P ; Brandão, Jeovani ; Bergman, Anders; Cezar, Júlio C. ; Klautau, Angela B. ; Petrilli, Helena Maria

    Source: Nano Letters. Unidade: IF

    Subjects: MECÂNICA QUÂNTICA, FILMES FINOS, PROPRIEDADES DOS MATERIAIS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      CARVALHO, Pamela C. et al. Correlation of Interface Interdiffusion and Skyrmionic Phases. Nano Letters, v. 23 (11), p. 4854-4861, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.3c00428. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Carvalho, P. C., Miranda, I. P., Brandão, J., Bergman, A., Cezar, J. C., Klautau, A. B., & Petrilli, H. M. (2023). Correlation of Interface Interdiffusion and Skyrmionic Phases. Nano Letters, 23 (11), 4854-4861. doi:10.1021/acs.nanolett.3c00428

    • NLM

      Carvalho PC, Miranda IP, Brandão J, Bergman A, Cezar JC, Klautau AB, Petrilli HM. Correlation of Interface Interdiffusion and Skyrmionic Phases [Internet]. Nano Letters. 2023 ; 23 (11) 4854-4861.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.3c00428

    • Vancouver

      Carvalho PC, Miranda IP, Brandão J, Bergman A, Cezar JC, Klautau AB, Petrilli HM. Correlation of Interface Interdiffusion and Skyrmionic Phases [Internet]. Nano Letters. 2023 ; 23 (11) 4854-4861.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.3c00428

  • Artigo de periodico

    Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film (2023)

    Costa, Daniel da Silva; Kellermann, Guinther; Craievich, Aldo Felix

    Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSTA, Daniel da Silva e KELLERMANN, Guinther e CRAIEVICH, Aldo Felix. Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film. Journal of Applied Crystallography, v. 56, p. 95-102, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576722010974. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Costa, D. da S., Kellermann, G., & Craievich, A. F. (2023). Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film. Journal of Applied Crystallography, 56, 95-102. doi:10.1107/S1600576722010974

    • NLM

      Costa D da S, Kellermann G, Craievich AF. Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2023 ; 56 95-102.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576722010974

    • Vancouver

      Costa D da S, Kellermann G, Craievich AF. Two-step GISAXS characterization of NiSi2 nanoplates and Ni nanocrystals embedded in a silicon wafer covered with a silica thin film [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2023 ; 56 95-102.[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576722010974

  • Artigo de periodico

    Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis (2021)

    Oblitas, Raissa Lima de ; Teixeira, Fernanda S. ; Salvadori, M. C.

    Source: Microscopy Research and Technique. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, CROMO, ALUMÍNIO, NÍQUEL, SILÍCIO, MICROANÁLISE

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      OBLITAS, Raissa Lima de e TEIXEIRA, Fernanda S. e SALVADORI, M. C. Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis. Microscopy Research and Technique, p. 10 , 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/jemt.23917. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Oblitas, R. L. de, Teixeira, F. S., & Salvadori, M. C. (2021). Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis. Microscopy Research and Technique, 10 . doi:10.1002/jemt.23917

    • NLM

      Oblitas RL de, Teixeira FS, Salvadori MC. Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis [Internet]. Microscopy Research and Technique. 2021 ;10 .[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1002/jemt.23917

    • Vancouver

      Oblitas RL de, Teixeira FS, Salvadori MC. Determination of the composition and thickness of chromel and alumel thin films on different substrates by quantitative energy dispersive spectroscopy analysis [Internet]. Microscopy Research and Technique. 2021 ;10 .[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1002/jemt.23917

  • Dissertação (Mestrado)

    Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS (2021)

    Lima, Filipe Gomes de ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira (Orientador)

    Unidade: IF

    Subjects: NANOPARTÍCULAS, FILMES FINOS, MATERIAIS COMPÓSITOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LIMA, Filipe Gomes de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS. 2021. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2021. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Lima, F. G. de. (2021). Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/

    • NLM

      Lima FG de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS [Internet]. 2021 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/

    • Vancouver

      Lima FG de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS [Internet]. 2021 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/

  • Artigo de periodico

    Growth Evolution of AZO thin Films Deposited by Magnetron Sputtering at Room Temperature (2021)

    Ramos, Raul ; Chaves, M.; Martins, E.; Durrant, Steven F. ; Rangel, Elidiane Cipriano ; Silva, Tiago Fiorini da ; Bortoleto, José Roberto Ribeiro

    Source: American Journal of Materials Science and Engineering. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ZINCO, CONDUTIVIDADE ELÉTRICA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RAMOS, Raul et al. Growth Evolution of AZO thin Films Deposited by Magnetron Sputtering at Room Temperature. American Journal of Materials Science and Engineering, v. 24, n. 1, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/1980-5373-MR-2021-0052. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Ramos, R., Chaves, M., Martins, E., Durrant, S. F., Rangel, E. C., Silva, T. F. da, & Bortoleto, J. R. R. (2021). Growth Evolution of AZO thin Films Deposited by Magnetron Sputtering at Room Temperature. American Journal of Materials Science and Engineering, 24( 1). doi:10.1590/1980-5373-MR-2021-0052

    • NLM

      Ramos R, Chaves M, Martins E, Durrant SF, Rangel EC, Silva TF da, Bortoleto JRR. Growth Evolution of AZO thin Films Deposited by Magnetron Sputtering at Room Temperature [Internet]. American Journal of Materials Science and Engineering. 2021 ; 24( 1):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/1980-5373-MR-2021-0052

    • Vancouver

      Ramos R, Chaves M, Martins E, Durrant SF, Rangel EC, Silva TF da, Bortoleto JRR. Growth Evolution of AZO thin Films Deposited by Magnetron Sputtering at Room Temperature [Internet]. American Journal of Materials Science and Engineering. 2021 ; 24( 1):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/1980-5373-MR-2021-0052

  • Artigo de periodico

    Complex magnetic textures in Ni/Ir-n/Pt(111) ultrathin films (2021)

    Carvalho, Pamela Costa; Miranda, Ivan de Paula ; Klautau, Angela Burlamaqui ; Bergman, A; Petrilli, Helena Maria

    Source: Physical Review Materials. Unidade: IF

    Assunto: FILMES FINOS

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      CARVALHO, Pamela Costa et al. Complex magnetic textures in Ni/Ir-n/Pt(111) ultrathin films. Physical Review Materials, v. 5, n. 12, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.5.124406. Acesso em: 02 nov. 2025.

    • APA

      Carvalho, P. C., Miranda, I. de P., Klautau, A. B., Bergman, A., & Petrilli, H. M. (2021). Complex magnetic textures in Ni/Ir-n/Pt(111) ultrathin films. Physical Review Materials, 5( 12). doi:10.1103/PhysRevMaterials.5.124406

    • NLM

      Carvalho PC, Miranda I de P, Klautau AB, Bergman A, Petrilli HM. Complex magnetic textures in Ni/Ir-n/Pt(111) ultrathin films [Internet]. Physical Review Materials. 2021 ; 5( 12):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.5.124406

    • Vancouver

      Carvalho PC, Miranda I de P, Klautau AB, Bergman A, Petrilli HM. Complex magnetic textures in Ni/Ir-n/Pt(111) ultrathin films [Internet]. Physical Review Materials. 2021 ; 5( 12):[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.5.124406

  • Relatorio tecnico

    SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories (2020)

    Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira ; Teixeira, Fernanda de Sá

    Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e TEIXEIRA, Fernanda de Sá. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf. Acesso em: 02 nov. 2025. , 2020

    • APA

      Cattani, M. S. D., Salvadori, M. C. B. da S., & Teixeira, F. de S. (2020). SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf

    • NLM

      Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf

    • Vancouver

      Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 02 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf

1 - 20 (420 records)

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2025