Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos (2024)
- Authors:
- Autor USP: BARRETO, FULVIO ANTONIO PEREIRA - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FAP
- DOI: 10.11606/D.43.2024.tde-28112024-123654
- Subjects: FILMES FINOS; TERRAS RARAS
- Keywords: CALCIUM TITANATE; CaTiO3; MAGNESIUM SILICATE; MgSiO3; PEROVSKITA; RARE EARTH; SILICATO DE MAGNÉSIO; THIN FILMS; TITANATO DE CÁLCIO
- Language: Português
- Abstract: A perovskita é um material com uma estrutura cristalina única que tem ganhado destaque por suas propriedades excepcionais e aplicações promissoras em diversas áreas. O IBAD (ion beam assisted deposition) é um método utilizado para a produção de recobrimentos e tem sido cada vez mais aplicado na produção de filmes finos avançados. É um processo em que se utiliza uma evaporadora por feixe de elétrons para vaporizar o elemento ou composto a ser depositado e simultaneamente se bombardeia com um feixe de íons na direção do substrato. Neste trabalho foram utilizados precursores de óxidos em fornos de alta temperatura para a produção das Perovskitas (MgSiO3 e CaTiO3). Para a produção dos filmes finos foram evaporados os blocos de MgSiO3 e CaTiO3 na câmara do IBAD pelos feixes de elétrons, utilizando simultaneamente feixes de íons de oxigênio e/ou argônio para o bombardeamento dos filmes. Foram utilizadas técnicas de caracterização com o objetivo de identificar a presença de perovskita nos filmes produzidos. A análise de difração de raios X do filme de MgSiO3 revelou picos de perovskita nos ângulos: 32,89º e 61,64º, enquanto para o filme de CaTiO3 os picos ocorreram nos ângulos: 32,90º; 47,69º e 61,65º. A análise comparativa da espectrometria Raman com outros estudos demonstrou que os filmes produzidos indicam a formação de perovskita. A análise de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) permitiu a geração de imagens dos filmes, revelando detalhes de sua microestrutura.A análise de fotoluminescência forneceu informações sobre as propriedades óticas dos filmes, enquanto a análise de refletância UV-Vis permitiu obter os valores de band gaps, sendo 3,89 eV para o filme de MgSiO3 e 4,74 eV para o filme de CaTiO3. A análise de espectroscopia de impedância identificou um comportamento resistivo para o filme de MgSiO3 e um comportamento capacitivo para o filme de CaTiO3
- Imprenta:
- Data da defesa: 22.10.2024
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
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ABNT
BARRETO, Fulvio Antonio Pereira. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos. 2024. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2024. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/. Acesso em: 25 jan. 2026. -
APA
Barreto, F. A. P. (2024). Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/ -
NLM
Barreto FAP. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/ -
Vancouver
Barreto FAP. Produção e caracterização de filmes finos de perovskita de haletos [Internet]. 2024 ;[citado 2026 jan. 25 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-28112024-123654/
Informações sobre o DOI: 10.11606/D.43.2024.tde-28112024-123654 (Fonte: oaDOI API)
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