Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr (2005)
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, SILÍCIO, ÓPTICA, FILMES FINOS
ABNT
OLIVEIRA, Victor I. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 15 nov. 2024.APA
Oliveira, V. I., & Zanatta, A. R. (2005). Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 15 ]Vancouver
Oliveira VI, Zanatta AR. Propriedades ópticas e estruturais de filmes de a-Si:H dopados com Er, Yb e Cr. Resumos. 2005 ;[citado 2024 nov. 15 ]