Caracterização elétrica de camadas de silício poroso (2000)
Source: SICUSP : Resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP. Unidade: EP
Assunto: DISPOSITIVOS ÓPTICOS
ABNT
BRAGA, Eduardo Fonseca e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier e GALEAZZO, Elisabete. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. 2000, Anais.. São Paulo: USP, 2000. . Acesso em: 05 out. 2024.APA
Braga, E. F., Ramírez Fernandez, F. J., & Galeazzo, E. (2000). Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. In SICUSP : Resumos. São Paulo: USP.NLM
Braga EF, Ramírez Fernandez FJ, Galeazzo E. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. SICUSP : Resumos. 2000 ;[citado 2024 out. 05 ]Vancouver
Braga EF, Ramírez Fernandez FJ, Galeazzo E. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. SICUSP : Resumos. 2000 ;[citado 2024 out. 05 ]