Morphological parameter of porous silicon obtained by anodization in 'HF' (1996)
- Authors:
- USP affiliated authors: GALEAZZO, ELISABETE - EP ; FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Universidad de los Andes
- Publisher place: Merida
- Date published: 1996
- Source:
- Título do periódico: Libro de Resumenes
- Conference titles: Congreso Iberoamericano de Electroquimica
-
ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e GALEAZZO, Elisabete e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Morphological parameter of porous silicon obtained by anodization in 'HF'. 1996, Anais.. Merida: Universidad de los Andes, 1996. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Salcedo, W. J., Galeazzo, E., & Ramírez Fernandez, F. J. (1996). Morphological parameter of porous silicon obtained by anodization in 'HF'. In Libro de Resumenes. Merida: Universidad de los Andes. -
NLM
Salcedo WJ, Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Morphological parameter of porous silicon obtained by anodization in 'HF'. Libro de Resumenes. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Salcedo WJ, Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Morphological parameter of porous silicon obtained by anodization in 'HF'. Libro de Resumenes. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria
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