Caracterização elétrica de camadas de silício poroso (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP ; GALEAZZO, ELISABETE - EP
- Unidade: EP
- Assunto: DISPOSITIVOS ÓPTICOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: SICUSP : Resumos
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP
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ABNT
BRAGA, Eduardo Fonseca e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier e GALEAZZO, Elisabete. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. 2000, Anais.. São Paulo: USP, 2000. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Braga, E. F., Ramírez Fernandez, F. J., & Galeazzo, E. (2000). Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. In SICUSP : Resumos. São Paulo: USP. -
NLM
Braga EF, Ramírez Fernandez FJ, Galeazzo E. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. SICUSP : Resumos. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Braga EF, Ramírez Fernandez FJ, Galeazzo E. Caracterização elétrica de camadas de silício poroso. SICUSP : Resumos. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Magneto-sensor diferencial
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