Caracterizacao da estrutura do silicio poroso (1996)
- Authors:
- USP affiliated authors: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; GALEAZZO, ELISABETE - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: [Resumos]
- Conference titles: Simposio de Iniciacao Cientifica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
BELTRAN, A E e GALEAZZO, Elisabete e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterizacao da estrutura do silicio poroso. 1996, Anais.. São Paulo: Usp, 1996. . Acesso em: 13 fev. 2026. -
APA
Beltran, A. E., Galeazzo, E., & Ramírez Fernandez, F. J. (1996). Caracterizacao da estrutura do silicio poroso. In [Resumos]. São Paulo: Usp. -
NLM
Beltran AE, Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao da estrutura do silicio poroso. [Resumos]. 1996 ;[citado 2026 fev. 13 ] -
Vancouver
Beltran AE, Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao da estrutura do silicio poroso. [Resumos]. 1996 ;[citado 2026 fev. 13 ] - Caracterização elétrica de camadas de silício poroso
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