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Trabalho de evento-resumo
PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA (2022)
Rodrigues, Cleber Lima ; Silva, Tiago Fiorini da ; Saramela, Thiago Badaró ; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Resumos. Nome do evento: INCT-FNA Symposium- Institute of Physics. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. 2022, Anais.. São Paulo: Universidade Federal Fluminese, 2022. Disponível em: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Silva, T. F. da, Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. In Resumos. São Paulo: Universidade Federal Fluminese. Recuperado de https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
NLM
Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
Relatorio tecnico
Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation (2022)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Saramela, Thiago Badaró ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Assuntos: BIG DATA, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 12 out. 2024. , 2022
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Relatorio tecnico
Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks (2022)
Guimarães, Renato dos Santos ; Bach, Simon; Burwitz, Vassily V.; Hiret, Paul; Mayer, Matej; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Assuntos: ESPECTROSCOPIA, REDES NEURAIS
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ABNT
GUIMARÃES, Renato dos Santos et al. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 12 out. 2024. , 2022
APA
Guimarães, R. dos S., Bach, S., Burwitz, V. V., Hiret, P., Mayer, M., Silva, T. F. da, et al. (2022). Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Relatorio tecnico
Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, T. F.; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Márcia de Almeida
Unidade: IF
Assuntos: ÍONS, SIMULAÇÃO
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 12 out. 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
NLM
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Vancouver
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Artigo de periodico
Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation (2020)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Pereira, Hugo David Costa; Saramela, Thiago Badaró ; Guimarães, Renato Oliveira
Fonte: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Assuntos: ÍONS, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 478, p. 111-115, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., Pereira, H. D. C., Saramela, T. B., & Guimarães, R. O. (2020). Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 478, 111-115. doi:10.1016/j.nimb.2020.05.027
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
Trabalho de evento-resumo
News from the LAMFI (2019)
Tabacniks, Manfredo Harri ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assuntos: ÍONS, FLUORESCÊNCIA
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ABNT
TABACNIKS, Manfredo Harri e SILVA, Tiago Fiorini da e RODRIGUES, Cleber Lima. News from the LAMFI. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Tabacniks, M. H., Silva, T. F. da, & Rodrigues, C. L. (2019). News from the LAMFI. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 out. 12 ]
Vancouver
Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 out. 12 ]
Trabalho de evento-resumo
Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices (2019)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Allegro, Paula Rangel Pestana; Escudeiro, Rafael; Santos, Hellen Cristine dos ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Leite, Alisson Rodolfo; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Alberton, S. G. P. N., Scarduelli, V. B., et al. (2019). Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 out. 12 ]
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 out. 12 ]
Artigo de periodico
On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas (2019)
Shaw, Santosh; Silva, Tiago Fiorini da ; Mohapatra, Pratyasha; Mendivelso-Perez, Deyny; Tian, Xinchun; Naab, Fabian; Rodrigues, Cleber Lima; Smith, Emily A. ; Cademartiri, Ludovico
Fonte: Physical Chemistry Chemical Physics. Unidade: IF
Assuntos: FEIXES, ESPALHAMENTO, FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PLASMAS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SHAW, Santosh et al. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, v. 21, n. 3, p. 1614--1622, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Shaw, S., Silva, T. F. da, Mohapatra, P., Mendivelso-Perez, D., Tian, X., Naab, F., et al. (2019). On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, 21( 3), 1614--1622. doi:10.1039/c8cp06890a
NLM
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Vancouver
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, Alisson Rodolfo; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, Rafael; Allegro, Paula Rangel Pestana; Santos, Hellen Cristine dos; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Melo, M A A de; Santos, R B B; Giacomini, Renato; Oliveira, J A; Leite, F G H
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Leite, A. R., Silva, T. F. da, et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Artigo de periodico
Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications (2018)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri ; Mangiarotti, Alessio ; Curado, Jessica Fleury; Aguirre, Fernando Rodrigues; Aguero, Natasha Fioretto; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Campos, Pedro Herzilio Ottoni Viviani de ; Restrepo Arteta, Juan Manuel; Trindade, Gustavo Ferraz; Rodrigues, Antonio Marcos; Assis, Renan Ferreira de; Leite, Alisson Rodolfo
Fonte: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Assuntos: FEIXES, LABORATÓRIOS, FÍSICA EXPERIMENTAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 422, p. 68-77, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Added, N., Rizzutto, M. de A., Tabacniks, M. H., Mangiarotti, A., et al. (2018). Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 422, 68-77. doi:10.1016/j.nimb.2018.03.006
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mangiarotti A, Curado JF, Aguirre FR, Aguero NF, Allegro PRP, Campos PHOV de, Restrepo Arteta JM, Trindade GF, Rodrigues AM, Assis RF de, Leite AR. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018 ;422 68-77.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mangiarotti A, Curado JF, Aguirre FR, Aguero NF, Allegro PRP, Campos PHOV de, Restrepo Arteta JM, Trindade GF, Rodrigues AM, Assis RF de, Leite AR. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018 ;422 68-77.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006
Artigo de periodico
Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas (2018)
Shaw, Santosh; Tian, Xinchun; Silva, Tiago Fiorini da; Bobbitt, Jonathan M.; Naab, Fabian; Smith, Emily A.; Cademartiri, Ludovico; Rodrigues, Cleber Lima
Fonte: Chemistry of Materials. Unidade: IF
Assuntos: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SHAW, Santosh et al. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas. Chemistry of Materials, v. 30, n. 17, p. 5961-5967, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Shaw, S., Tian, X., Silva, T. F. da, Bobbitt, J. M., Naab, F., Smith, E. A., et al. (2018). Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas. Chemistry of Materials, 30( 17), 5961-5967. doi:10.1021/acs.chemmater.8b02095
NLM
Shaw S, Tian X, Silva TF da, Bobbitt JM, Naab F, Smith EA, Cademartiri L, Rodrigues CL. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas [Internet]. Chemistry of Materials. 2018 ; 30( 17): 5961-5967.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095
Vancouver
Shaw S, Tian X, Silva TF da, Bobbitt JM, Naab F, Smith EA, Cademartiri L, Rodrigues CL. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas [Internet]. Chemistry of Materials. 2018 ; 30( 17): 5961-5967.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, A. R.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, R.; Allegro, P. R. P.; Santos, H. C.; Alberton, S. G.; Scarduelli, V. B.; Silveira, M. A. G.; Melo, M. A. A. de; Santos, R. B. B.; Giacomini, R.; Oliveira, J. A.; Leite, F. G. H.; Sayeg, Isaac Jamil
Fonte: Resumos. Nome do evento: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidades: IF, IGC
Assuntos: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Macchione, E. L. A., Leite, A. R., et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Artigo de periodico
Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' (2017)
Shaw, Santosh; Bobbitt, Jonathan M.; Naab, Fabian; Yuan, Bin; Chang, Julia J.; Tian, Xinchun; Smith, Emily A.; Cademartiri, Ludovico; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima
Fonte: CHEMISTRY OF MATERIALS. Unidade: IF
Assuntos: TERMODINÂMICA, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SHAW, Santosh et al. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2'. CHEMISTRY OF MATERIALS, v. 29, n. 18, p. 7888-7900, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Shaw, S., Bobbitt, J. M., Naab, F., Yuan, B., Chang, J. J., Tian, X., et al. (2017). Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2'. CHEMISTRY OF MATERIALS, 29( 18), 7888-7900. doi:10.1021/acs.chemmater.7b02769
NLM
Shaw S, Bobbitt JM, Naab F, Yuan B, Chang JJ, Tian X, Smith EA, Cademartiri L, Silva TF da, Rodrigues CL. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' [Internet]. CHEMISTRY OF MATERIALS. 2017 ; 29( 18): 7888-7900.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769
Vancouver
Shaw S, Bobbitt JM, Naab F, Yuan B, Chang JJ, Tian X, Smith EA, Cademartiri L, Silva TF da, Rodrigues CL. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' [Internet]. CHEMISTRY OF MATERIALS. 2017 ; 29( 18): 7888-7900.[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769
Trabalho de evento-resumo
Estudo do processo de sputtering desencadeado por implantações iônicas monoatômicas e moleculares de baixa energia em filmes finos de Au (2016)
Rosa, Edson P; Rizzutto, Márcia de Almeida; Rodrigues, Cleber Lima; Leite, Alisson Rodolfo
Fonte: Resumos. Nome do evento: Simpósio Internacional de Iniciação Científica e Tecnológica da USP (SIICUSP). Unidade: IF
Assuntos: ESPECTROSCOPIA ATÔMICA, ÍONS, FILMES FINOS, IRRADIAÇÃO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ROSA, Edson P et al. Estudo do processo de sputtering desencadeado por implantações iônicas monoatômicas e moleculares de baixa energia em filmes finos de Au. 2016, Anais.. São Paulo: USP/Pró-Reitoria de Pesquisa, 2016. Disponível em: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Rosa, E. P., Rizzutto, M. de A., Rodrigues, C. L., & Leite, A. R. (2016). Estudo do processo de sputtering desencadeado por implantações iônicas monoatômicas e moleculares de baixa energia em filmes finos de Au. In Resumos. São Paulo: USP/Pró-Reitoria de Pesquisa. Recuperado de https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
NLM
Rosa EP, Rizzutto M de A, Rodrigues CL, Leite AR. Estudo do processo de sputtering desencadeado por implantações iônicas monoatômicas e moleculares de baixa energia em filmes finos de Au [Internet]. Resumos. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
Vancouver
Rosa EP, Rizzutto M de A, Rodrigues CL, Leite AR. Estudo do processo de sputtering desencadeado por implantações iônicas monoatômicas e moleculares de baixa energia em filmes finos de Au [Internet]. Resumos. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210
Trabalho de evento-resumo
Assessing collective properties in the Germanium chain (2016)
Borello-Lewin, Thereza; Rodrigues, Marcia Regina Dias; Rodrigues, Cleber Lima; Duarte, José Luciano Miranda; Horodynski-Matsushigue, Lighia Brigitta; Miyake, Hideaki; Ukita, G M
Fonte: Oral Session - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, ESTRUTURA NUCLEAR
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ABNT
BORELLO-LEWIN, Thereza et al. Assessing collective properties in the Germanium chain. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1204-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Borello-Lewin, T., Rodrigues, M. R. D., Rodrigues, C. L., Duarte, J. L. M., Horodynski-Matsushigue, L. B., Miyake, H., & Ukita, G. M. (2016). Assessing collective properties in the Germanium chain. In Oral Session - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1204-1.pdf
NLM
Borello-Lewin T, Rodrigues MRD, Rodrigues CL, Duarte JLM, Horodynski-Matsushigue LB, Miyake H, Ukita GM. Assessing collective properties in the Germanium chain [Internet]. Oral Session - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1204-1.pdf
Vancouver
Borello-Lewin T, Rodrigues MRD, Rodrigues CL, Duarte JLM, Horodynski-Matsushigue LB, Miyake H, Ukita GM. Assessing collective properties in the Germanium chain [Internet]. Oral Session - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1204-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Development and implementation of a FORS (Fiber optics Reflectance spectroscopy) equipment for use in archeometry (2016)
Aguero, Natasha Fioretto; Rizzutto, Marcia de Almeida; Leite, Alisson Rodolfo; Rodrigues, Cleber Lima; Pascoal, Luiz Felype de Azevedo; Silva, Bruna Matsumoto; Nishimura, Daniel Eiji Lopes; Campos, Pedro Herzílio Ottoni Viviani de; Mori, Eva Kaiser; Curado, Jessica Fleury
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, ESPECTROSCOPIA, ARQUEOGRAFIA, DATAÇÃO ARQUEOLÓGICA
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ABNT
AGUERO, Natasha Fioretto et al. Development and implementation of a FORS (Fiber optics Reflectance spectroscopy) equipment for use in archeometry. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1690-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Aguero, N. F., Rizzutto, M. de A., Leite, A. R., Rodrigues, C. L., Pascoal, L. F. de A., Silva, B. M., et al. (2016). Development and implementation of a FORS (Fiber optics Reflectance spectroscopy) equipment for use in archeometry. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1690-1.pdf
NLM
Aguero NF, Rizzutto M de A, Leite AR, Rodrigues CL, Pascoal LF de A, Silva BM, Nishimura DEL, Campos PHOV de, Mori EK, Curado JF. Development and implementation of a FORS (Fiber optics Reflectance spectroscopy) equipment for use in archeometry [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1690-1.pdf
Vancouver
Aguero NF, Rizzutto M de A, Leite AR, Rodrigues CL, Pascoal LF de A, Silva BM, Nishimura DEL, Campos PHOV de, Mori EK, Curado JF. Development and implementation of a FORS (Fiber optics Reflectance spectroscopy) equipment for use in archeometry [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1690-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Improving a PIXE setup for deciduous teeth analysis (2015)
Tabacniks, Manfredo Harri ; Ferraz, Gustavo T.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Moro, Marcos Vinicius; Takaoka, Liliana A.M.V.; Kopelman, Benjamin I.; Matsuyoshi Mori, Matsuyoshi Mor; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Mori, Matsuyoshi
Fonte: SBF. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidades: IF, FO
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, COLISÕES
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ABNT
TABACNIKS, Manfredo Harri et al. Improving a PIXE setup for deciduous teeth analysis. 2015, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2015. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Tabacniks, M. H., Ferraz, G. T., Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Moro, M. V., Takaoka, L. A. M. V., et al. (2015). Improving a PIXE setup for deciduous teeth analysis. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
NLM
Tabacniks MH, Ferraz GT, Silva TF da, Rodrigues CL, Moro MV, Takaoka LAMV, Kopelman BI, Matsuyoshi Mori MM, Added N, Rizzutto M de A, Mori M. Improving a PIXE setup for deciduous teeth analysis [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
Vancouver
Tabacniks MH, Ferraz GT, Silva TF da, Rodrigues CL, Moro MV, Takaoka LAMV, Kopelman BI, Matsuyoshi Mori MM, Added N, Rizzutto M de A, Mori M. Improving a PIXE setup for deciduous teeth analysis [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
Trabalho de evento-resumo
Studying total dose irradiation on a power transistor (2015)
Aguirre, Fernando R.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Leite, Alisson Rodolfo; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala
Fonte: SBF. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, COLISÕES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIRRE, Fernando R. et al. Studying total dose irradiation on a power transistor. 2015, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2015. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Aguirre, F. R., Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Leite, A. R., Tabacniks, M. H., & Added, N. (2015). Studying total dose irradiation on a power transistor. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
NLM
Aguirre FR, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Tabacniks MH, Added N. Studying total dose irradiation on a power transistor [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
Vancouver
Aguirre FR, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Tabacniks MH, Added N. Studying total dose irradiation on a power transistor [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=16
Trabalho de evento-resumo
Study of the sputtering process due to low energy ion implantation thin 'AU' films (2015)
Rosa, Edson Ponciano; Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida
Fonte: SBF. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, COLISÕES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ROSA, Edson Ponciano e RODRIGUES, Cleber Lima e RIZZUTTO, Marcia de Almeida. Study of the sputtering process due to low energy ion implantation thin 'AU' films. 2015, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2015. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 12 out. 2024.
APA
Rosa, E. P., Rodrigues, C. L., & Rizzutto, M. de A. (2015). Study of the sputtering process due to low energy ion implantation thin 'AU' films. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Rosa EP, Rodrigues CL, Rizzutto M de A. Study of the sputtering process due to low energy ion implantation thin 'AU' films [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Rosa EP, Rodrigues CL, Rizzutto M de A. Study of the sputtering process due to low energy ion implantation thin 'AU' films [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 out. 12 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=17

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