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Artigo de periodico
Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan (2010)
Menezes, Alan S de; Santos, Adenilson Oliveira dos; Almeida, Juliana M A; Bortoleto, José R R; Cotta, Mônica A; Morelhão, Sérgio Luiz; Cardoso, Lisandro P
Source: Crystal Growth & Design. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
MENEZES, Alan S de et al. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design, v. 10, n. 8, p. 3436-3441, 2010Tradução . . Disponível em: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Menezes, A. S. de, Santos, A. O. dos, Almeida, J. M. A., Bortoleto, J. R. R., Cotta, M. A., Morelhão, S. L., & Cardoso, L. P. (2010). Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design, 10( 8), 3436-3441. Recuperado de http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
NLM
Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
Vancouver
Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
Trabalho de evento-anais periodico
Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan (2010)
Menezes, Alan S de; Santos, Adenilson O dos; Almeida, Juliana M A; Bortoleto, José R R; Cotta, Monica A; Morelhão, Sérgio Luiz; Cardoso, Lisandro Pavie
Source: Crystal Growth & Design. Conference titles: 40th Anniversary Conference of the British Association for Crystal Growth (BACG). Unidade: IF
Subjects: EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, RADIAÇÃO SINCROTRON
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ABNT
MENEZES, Alan S de et al. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design. Washington, DC: The Society. Disponível em: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x. Acesso em: 24 maio 2024. , 2010
APA
Menezes, A. S. de, Santos, A. O. dos, Almeida, J. M. A., Bortoleto, J. R. R., Cotta, M. A., Morelhão, S. L., & Cardoso, L. P. (2010). Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan. Crystal Growth & Design. Washington, DC: The Society. Recuperado de http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
NLM
Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
Vancouver
Menezes AS de, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Direct observation of tetragonal distortion in epitaxial structures through secondary peak split in a synchrotron radiation renninger scan [Internet]. Crystal Growth & Design. 2010 ; 10( 8): 3436-3441.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/cg100146x
Artigo de periodico
Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials (2010)
Morelhão, Sérgio Luiz; Coelho, Paulo G; Hönnicke, Marcelo G
Source: European Biophysics Journal. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e COELHO, Paulo G e HÖNNICKE, Marcelo G. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials. European Biophysics Journal, v. 39, n. 5, p. 861-865, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Coelho, P. G., & Hönnicke, M. G. (2010). Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials. European Biophysics Journal, 39( 5), 861-865. doi:10.1007/s00249-009-0541-y
NLM
Morelhão SL, Coelho PG, Hönnicke MG. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials [Internet]. European Biophysics Journal. 2010 ; 39( 5): 861-865.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y
Vancouver
Morelhão SL, Coelho PG, Hönnicke MG. Synchrotron X-ray imaging via ultra-small-angle scattering: principles of quantitative analysis and application in studying bone integration to synthetic grafting materials [Internet]. European Biophysics Journal. 2010 ; 39( 5): 861-865.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00249-009-0541-y
Trabalho de evento-anais periodico
Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction (2009)
Freitas, Raul de Oliveira; Diaz, Beatriz; Abramof, Eduardo; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Conference titles: Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging. Unidade: IF
Subjects: POÇOS QUÂNTICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
FREITAS, Raul de Oliveira et al. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART. Acesso em: 24 maio 2024. , 2009
APA
Freitas, R. de O., Diaz, B., Abramof, E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2009). Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
NLM
Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
Vancouver
Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
Trabalho de evento-anais periodico
Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction (2009)
; Santos, Adenilson Oliveira dos; Almeida, Juliana M A; Bortoleto, José R R; Cotta, Monica A; Morelhão, Sérgio Luiz; Cardoso, Lisandro Pavie
Source: Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Conference titles: International Conference on High Pressure Semiconductor Physics. Unidade: IF
Subjects: RADIAÇÃO SINCROTRON, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
, et al. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART. Acesso em: 24 maio 2024. , 2009
APA
,, Santos, A. O. dos, Almeida, J. M. A., Bortoleto, J. R. R., Cotta, M. A., Morelhão, S. L., & Cardoso, L. P. (2009). Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART
NLM
, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction [Internet]. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. 2009 ; 246( 3):[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART
Vancouver
, Santos AO dos, Almeida JMA, Bortoleto JRR, Cotta MA, Morelhão SL, Cardoso LP. Hybrid reflections in InGaP/GaAs(001) by synchrotron radiation multiple diffraction [Internet]. Physica Status Solidi B - Basic Solid State Physics. 2009 ; 246( 3):[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/121567354/PDFSTART
Artigo de periodico
Multiple imaging radiography at LNLS (2008)
Honnicke, M G; Cusatis, C; Antunes, A; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. Unidades: FMVZ, IF
Assunto: RADIAÇÃO SINCROTRON
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ABNT
HONNICKE, M G et al. Multiple imaging radiography at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, v. 584, n. 2-3, p. 418-423, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Honnicke, M. G., Cusatis, C., Antunes, A., Safatle, A. de M. V., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2008). Multiple imaging radiography at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A, 584( 2-3), 418-423. doi:10.1016/j.nima.2007.10.036
NLM
Honnicke MG, Cusatis C, Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. Multiple imaging radiography at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. 2008 ; 584( 2-3): 418-423.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036
Vancouver
Honnicke MG, Cusatis C, Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. Multiple imaging radiography at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. 2008 ; 584( 2-3): 418-423.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.036
Artigo de periodico
Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system (2007)
Freitas, Raul de Oliveira; Lamas, T. E.; Quivy, A. A.; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. Unidade: IF
Assunto: SUPERFÍCIE FÍSICA
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ABNT
FREITAS, Raul de Oliveira et al. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science, v. 204, n. 8, p. 2548-2454, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Freitas, R. de O., Lamas, T. E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2007). Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science, 204( 8), 2548-2454. doi:10.1002/pssa.200675673
NLM
Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system [Internet]. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. 2007 ; 204( 8): 2548-2454.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673
Vancouver
Freitas R de O, Lamas TE, Quivy AA, Morelhão SL. Synchrotron x-ray renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system [Internet]. Physica Status Solidi A - Application and Materials Science. 2007 ; 204( 8): 2548-2454.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssa.200675673
Artigo de periodico
Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy (2007)
Antunes, A; Gozzo, F V; Nakamura, M; Safatle, Angélica Mendonça Vaz; Morelhão, Sérgio Luiz; Toma, Henrique Eisi ; Barros, Paulo Sérgio de Moraes
Source: Micron. Unidades: FMVZ, IF, IQ
Subjects: MICROSCÓPIO ELETRÔNICO, TOMOGRAFIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ANTUNES, A et al. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy. Micron, v. 38, n. 3, p. 286-290, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Antunes, A., Gozzo, F. V., Nakamura, M., Safatle, A. M. V., Morelhão, S. L., Toma, H. E., & Barros, P. S. de M. (2007). Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy. Micron, 38( 3), 286-290. doi:10.1016/j.micron.2006.04.006
NLM
Antunes A, Gozzo FV, Nakamura M, Safatle AMV, Morelhão SL, Toma HE, Barros PS de M. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy [Internet]. Micron. 2007 ; 38( 3): 286-290.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006
Vancouver
Antunes A, Gozzo FV, Nakamura M, Safatle AMV, Morelhão SL, Toma HE, Barros PS de M. Analysis of the healthy rabbit lens surface using MAC mode atomic force microscopy [Internet]. Micron. 2007 ; 38( 3): 286-290.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.micron.2006.04.006
Artigo de periodico
General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics (2007)
Morelhão, Sérgio Luiz; Perrotta, André V
Source: Revista Brasileira de Ensino de Física. Unidade: IF
Subjects: EQUAÇÃO DE SCHRODINGER, ESPALHAMENTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e PERROTTA, André V. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics. Revista Brasileira de Ensino de Física, v. 29, n. 3, p. 331-339, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., & Perrotta, A. V. (2007). General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics. Revista Brasileira de Ensino de Física, 29( 3), 331-339. doi:10.1590/s1806-11172007000300004
NLM
Morelhão SL, Perrotta AV. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2007 ; 29( 3): 331-339.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004
Vancouver
Morelhão SL, Perrotta AV. General recursive solution for one-dimensional quantum potentials: a simple tool for applied physics [Internet]. Revista Brasileira de Ensino de Física. 2007 ; 29( 3): 331-339.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1806-11172007000300004
Artigo de periodico
Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers (2007)
Morelhão, Sérgio Luiz; Domagala, Jarek Z
Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e DOMAGALA, Jarek Z. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers. Journal of Applied Crystallography, v. 40, p. 546-551, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., & Domagala, J. Z. (2007). Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers. Journal of Applied Crystallography, 40, 546-551. doi:10.1107/s002188980701521x
NLM
Morelhão SL, Domagala JZ. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2007 ; 40 546-551.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x
Vancouver
Morelhão SL, Domagala JZ. Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2007 ; 40 546-551.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s002188980701521x
Artigo de periodico
X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases (2006)
Antunes, Andrea; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Barros, Paulo Sérgio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Medical Physics. Unidades: FMVZ, IF
Subjects: FÍSICA MÉDICA, OFTALMOLOGIA, DIAGNÓSTICO POR IMAGEM, LENTES, TÉCNICAS DE DIAGNÓSTICO OFTALMOLÓGICO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ANTUNES, Andrea et al. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, v. 33, n. 7, p. 2338-2343, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1118/1.2207135. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Antunes, A., Safatle, A. de M. V., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2006). X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases. Medical Physics, 33( 7), 2338-2343. doi:10.1118/1.2207135
NLM
Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135
Vancouver
Antunes A, Safatle A de MV, Barros PS de M, Morelhão SL. X-ray imaging in advanced studies of ophtalmic diseases [Internet]. Medical Physics. 2006 ; 33( 7): 2338-2343.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1118/1.2207135
Artigo de periodico
Roughness and nanoholes in sol-gel thin films (2005)
Antunes, A; Amaral, T; Brito, Giancarlo Esposito de Souza; Abramof, E; Morelhao, Sergio Luiz
Source: Microelectronics Journal. Unidade: IF
Subjects: MICROELETRÔNICA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ANTUNES, A et al. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 567-569, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Antunes, A., Amaral, T., Brito, G. E. de S., Abramof, E., & Morelhao, S. L. (2005). Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 567-569. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.078
NLM
Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078
Vancouver
Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078
Artigo de periodico
Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens (2005)
Antunes, A; Honnicke, M G; Safatle, Angélica de Mendonça Vaz; Cusatis, C; Barros, Paulo Sergio de Moraes; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidades: IF, FMVZ
Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FÍSICA MOLECULAR, RADIOGRAFIA, ESTRUTURA DOS MATERIAIS, CRISTALINO DE ANIMAL, CATARATA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ANTUNES, A et al. Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 238, n. 1-4, p. 28-31, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.013. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Antunes, A., Honnicke, M. G., Safatle, A. de M. V., Cusatis, C., Barros, P. S. de M., & Morelhão, S. L. (2005). Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 238( 1-4), 28-31. doi:10.1016/j.nimb.2005.06.013
NLM
Antunes A, Honnicke MG, Safatle A de MV, Cusatis C, Barros PS de M, Morelhão SL. Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 28-31.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.013
Vancouver
Antunes A, Honnicke MG, Safatle A de MV, Cusatis C, Barros PS de M, Morelhão SL. Diffraction enhanced x-ray imaging of mammals crystalline lens [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 28-31.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.013
Artigo de periodico
Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS (2005)
Morelhão, Sérgio Luiz; Avanci, Luis Humberto; Kycia, S
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FÍSICA MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e AVANCI, Luis Humberto e KYCIA, S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 238, n. 1-4, p. 180-184, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., & Kycia, S. (2005). Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 238( 1-4), 180-184. doi:10.1016/j.nimb.2005.06.044
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Automatic x-ray crystallographic phasing at LNLS [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 180-184.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.044
Artigo de periodico
Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning (2005)
Morelhão, Sérgio Luiz; Avanci, L H; Freitas, R; Quivy, A. A.
Source: Microelectronics Journal. Unidade: IF
Subjects: MICROELETRÔNICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 219-222, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Freitas, R., & Quivy, A. A. (2005). Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 219-222. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.010
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 219-222.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Freitas R, Quivy AA. Strain field of InAs QDs on GaAs(001) substrate surface: characterization by synchrotron X-ray renninger scanning [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 219-222.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.010
Artigo de periodico
In vitro Raman spectroscopy of healthy mammals crystalline lenses (2005)
Antunes, A; Abud Filho, Sérgio Eduardo; Temperini, Márcia Laudelina Arruda ; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Laser Physics Letters. Unidades: IQ, IF
Subjects: MEMBRANAS (BIOLOGIA), CÉLULAS, CATARATA, ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
ANTUNES, A et al. In vitro Raman spectroscopy of healthy mammals crystalline lenses. Laser Physics Letters, v. 2, n. 8, p. 415-419, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/lapl.200510014. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Antunes, A., Abud Filho, S. E., Temperini, M. L. A., & Morelhão, S. L. (2005). In vitro Raman spectroscopy of healthy mammals crystalline lenses. Laser Physics Letters, 2( 8), 415-419. doi:10.1002/lapl.200510014
NLM
Antunes A, Abud Filho SE, Temperini MLA, Morelhão SL. In vitro Raman spectroscopy of healthy mammals crystalline lenses [Internet]. Laser Physics Letters. 2005 ; 2( 8): 415-419.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1002/lapl.200510014
Vancouver
Antunes A, Abud Filho SE, Temperini MLA, Morelhão SL. In vitro Raman spectroscopy of healthy mammals crystalline lenses [Internet]. Laser Physics Letters. 2005 ; 2( 8): 415-419.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1002/lapl.200510014
Artigo de periodico
Energy conservation in approximated solutions of multibeam scattering problems (2005)
Morelhão, Sérgio Luiz; Avanci, Luis Humberto; Kycia, S
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TEORIA DO ESPALHAMENTO
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e AVANCI, Luis Humberto e KYCIA, S. Energy conservation in approximated solutions of multibeam scattering problems. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 239, n. 3, p. 245-249, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.290. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., & Kycia, S. (2005). Energy conservation in approximated solutions of multibeam scattering problems. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 239( 3), 245-249. doi:10.1016/j.nimb.2005.03.290
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Energy conservation in approximated solutions of multibeam scattering problems [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 239( 3): 245-249.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.290
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Energy conservation in approximated solutions of multibeam scattering problems [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 239( 3): 245-249.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.290
Artigo de periodico
Study of cristalline structures via physical determination of triplet phase invariants (2005)
Morelhão, Sérgio Luiz; Avanci, Luis Humberto; Kycia, S
Source: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FÍSICA MOLECULAR, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESTRUTURA DOS MATERIAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e AVANCI, Luis Humberto e KYCIA, S. Study of cristalline structures via physical determination of triplet phase invariants. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 238, n. 1-4, p. 175-179, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.043. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., & Kycia, S. (2005). Study of cristalline structures via physical determination of triplet phase invariants. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 238( 1-4), 175-179. doi:10.1016/j.nimb.2005.06.043
NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Study of cristalline structures via physical determination of triplet phase invariants [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 175-179.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.043
Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Kycia S. Study of cristalline structures via physical determination of triplet phase invariants [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms. 2005 ; 238( 1-4): 175-179.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.06.043
Artigo de periodico
An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination (2003)
Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Journal of Synchrotron Radiation. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchrotron Radiation, v. 10, p. 236-241, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0909049503003789. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L. (2003). An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchrotron Radiation, 10, 236-241. doi:10.1107/s0909049503003789
NLM
Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchrotron Radiation. 2003 ; 10 236-241.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0909049503003789
Vancouver
Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchrotron Radiation. 2003 ; 10 236-241.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0909049503003789
Artigo de periodico
An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination (2003)
Morelhao, Sergio Luiz; Morelhão, Sérgio Luiz
Source: Journal of Synchroton Radiation. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHAO, Sergio Luiz e MORELHÃO, Sérgio Luiz. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchroton Radiation, v. 10 pt. 3, p. 236-241, 2003Tradução . . Disponível em: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Morelhao, S. L., & Morelhão, S. L. (2003). An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination. Journal of Synchroton Radiation, 10 pt. 3, 236-241. Recuperado de http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf
NLM
Morelhao SL, Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchroton Radiation. 2003 ; 10 pt. 3 236-241.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf
Vancouver
Morelhao SL, Morelhão SL. An x-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination [Internet]. Journal of Synchroton Radiation. 2003 ; 10 pt. 3 236-241.[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://journals.iucr.org/s/issues/2003/03/00/he0303/he0303.pdf

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