ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento-resumo
Indexing Multiple Diffraction Phenomena in Skutterudites and Amino Acid Single Crystals with a Graphic Tool Optimized for High Flux Synchrotron Sources (2022)
Estradiote, Maurício Bastos ; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Valério, Adriana ; Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan W ; Torikachvili, Milton S; Remédios, Claúdio M R
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: AMINOÁCIDOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ESTRADIOTE, Maurício Bastos et al. Indexing Multiple Diffraction Phenomena in Skutterudites and Amino Acid Single Crystals with a Graphic Tool Optimized for High Flux Synchrotron Sources. 2022, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2022. . Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Estradiote, M. B., Penacchio, R. F. da S., Valério, A., Morelhão, S. L., Kycia, S. W., Torikachvili, M. S., & Remédios, C. M. R. (2022). Indexing Multiple Diffraction Phenomena in Skutterudites and Amino Acid Single Crystals with a Graphic Tool Optimized for High Flux Synchrotron Sources. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Estradiote MB, Penacchio RF da S, Valério A, Morelhão SL, Kycia SW, Torikachvili MS, Remédios CMR. Indexing Multiple Diffraction Phenomena in Skutterudites and Amino Acid Single Crystals with a Graphic Tool Optimized for High Flux Synchrotron Sources. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ]
Vancouver
Estradiote MB, Penacchio RF da S, Valério A, Morelhão SL, Kycia SW, Torikachvili MS, Remédios CMR. Indexing Multiple Diffraction Phenomena in Skutterudites and Amino Acid Single Crystals with a Graphic Tool Optimized for High Flux Synchrotron Sources. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ]
Trabalho de evento-resumo
Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction (2022)
Penacchio, Rafaela Felix da Silva; Estradiote, Maurício Bastos; Valerio, Adriana; Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan W; Remédios, Cláudio M R
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, HIDROGÊNIO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PENACCHIO, Rafaela Felix da Silva et al. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. 2022, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2022. . Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Valerio, A., Morelhão, S. L., Kycia, S. W., & Remédios, C. M. R. (2022). Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Valerio A, Morelhão SL, Kycia SW, Remédios CMR. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ]
Vancouver
Penacchio RF da S, Estradiote MB, Valerio A, Morelhão SL, Kycia SW, Remédios CMR. Study of hydrogen bonds in pure and Fe doped L-Asparagine using in-house dynamic X-ray diffraction. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ]
Relatorio tecnico
Plastic neural network with transmission delays promotes equivalence between function and structure (2022)
Protachevicz, Paulo Ricardo ; Borges, F. S.; Batista, A. M.; Baptista, M. S.; Macau, E. E. N.; Lameu, E. L.; Caldas, Iberê Luiz
Unidade: IF
Subjects: TOPOLOGIA, REDES NEURAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PROTACHEVICZ, Paulo Ricardo et al. Plastic neural network with transmission delays promotes equivalence between function and structure. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2211.05644.pdf. Acesso em: 23 maio 2024. , 2022
APA
Protachevicz, P. R., Borges, F. S., Batista, A. M., Baptista, M. S., Macau, E. E. N., Lameu, E. L., & Caldas, I. L. (2022). Plastic neural network with transmission delays promotes equivalence between function and structure. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2211.05644.pdf
NLM
Protachevicz PR, Borges FS, Batista AM, Baptista MS, Macau EEN, Lameu EL, Caldas IL. Plastic neural network with transmission delays promotes equivalence between function and structure [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2211.05644.pdf
Vancouver
Protachevicz PR, Borges FS, Batista AM, Baptista MS, Macau EEN, Lameu EL, Caldas IL. Plastic neural network with transmission delays promotes equivalence between function and structure [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2211.05644.pdf
Artigo de periodico
A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results (2022)
Sergio L. Morelhão ; Kycia, Stefan
Source: Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. Unidade: IF
Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X, NANOPARTÍCULAS, ESPALHAMENTO DE RAIOS X A BAIXOS ÂNGULOS, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SERGIO L. MORELHÃO, e KYCIA, Stefan. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances, v. 78, n. 1, p. 459-462, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Sergio L. Morelhão,, & Kycia, S. (2022). A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances, 78( 1), 459-462. doi:10.1107/S2053273322007215
NLM
Sergio L. Morelhão, Kycia S. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results [Internet]. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. 2022 ; 78( 1): 459-462.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215
Vancouver
Sergio L. Morelhão, Kycia S. A simple formula for determining nanoparticle size distribution by combining small-angle X-ray scattering and diffraction results [Internet]. Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances. 2022 ; 78( 1): 459-462.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S2053273322007215
Relatorio tecnico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2020)
Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. . Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf. Acesso em: 23 maio 2024. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2020). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Relatorio tecnico
Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2020)
Fornari, Celso I; Abramof, Eduardo; Rappl, Paulo H O; Kycia, Stefan W; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, BISMUTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORNARI, Celso I et al. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf. Acesso em: 23 maio 2024. , 2020
APA
Fornari, C. I., Abramof, E., Rappl, P. H. O., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2020). Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
NLM
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Vancouver
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Artigo de periodico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela Felix da Silva ; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli dos Reis ; Garcia, F. A. ; Morelhao, Sergio L. ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Source: MRS Communications. Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, v. 10, n. 2, p. 265-271, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. da S., Estradiote, M. B., Cantarino, M. dos R., Garcia, F. A., Morelhao, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS Communications, 10( 2), 265-271. doi:10.1557/mrc.2020.37
NLM
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhao SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Vancouver
Valerio A, Penacchio RF da S, Estradiote MB, Cantarino M dos R, Garcia FA, Morelhao SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. MRS Communications. 2020 ; 10( 2): 265-271.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/mrc.2020.37
Trabalho de evento-resumo
Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F S; Estradiote, Maurício B; Cantarino, Marli R; Garcia, Fernando A; Morelhão, Sergio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W; Calligaris, Guilherme A; Remédios, Claudio M R
Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidade: IF
Assunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials. 2020, Anais.. São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física, 2020. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., Estradiote, M. B., Cantarino, M. R., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials. In . São Paulo: SBF-Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino MR, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino MR, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Resonant X-ray dynamical diffraction for studying thermoelectric materials [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/eosbf/2020/sys/resumos/R0462-1.pdf
Relatorio tecnico
Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction (2020)
Valerio, Adriana; Penacchio, Rafaela F.S.; Estradiote, Maurício B.; Cantarino, Marli ; Garcia, F. A. ; Morelhão, Sergio Luiz ; Rafter, Niamh; Kycia, Stefan W.; Calligaris, Guilherme A.; Remédios, Cláudio M.R.
Unidade: IF
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, TERMOANÁLISE, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALERIO, Adriana et al. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf. Acesso em: 23 maio 2024. , 2020
APA
Valerio, A., Penacchio, R. F. S., Estradiote, M. B., Cantarino, M., Garcia, F. A., Morelhão, S. L., et al. (2020). Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
NLM
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Vancouver
Valerio A, Penacchio RFS, Estradiote MB, Cantarino M, Garcia FA, Morelhão SL, Rafter N, Kycia SW, Calligaris GA, Remédios CMR. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2006/2006.12747.pdf
Artigo de periodico
Influence of Delayed Conductance on Neuronal Synchronization (2020)
Protachevicz, Paulo R; Borges, Fernando S; Iarosz, Kelly Cristiane ; Baptista, Murilo S; Lameu, Ewandson L; Hansen, Matheus ; Caldas, Iberê Luiz ; Szezech Jr, José D; Batista, Antonio M. ; Kurths, Jürgen
Source: Frontiers Physiology. Unidade: IF
Assunto: SINCRONIZAÇÃO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PROTACHEVICZ, Paulo R et al. Influence of Delayed Conductance on Neuronal Synchronization. Frontiers Physiology, v. 11, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.3389/fphys.2020.01053. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Protachevicz, P. R., Borges, F. S., Iarosz, K. C., Baptista, M. S., Lameu, E. L., Hansen, M., et al. (2020). Influence of Delayed Conductance on Neuronal Synchronization. Frontiers Physiology, 11. doi:10.3389/fphys.2020.01053
NLM
Protachevicz PR, Borges FS, Iarosz KC, Baptista MS, Lameu EL, Hansen M, Caldas IL, Szezech Jr JD, Batista AM, Kurths J. Influence of Delayed Conductance on Neuronal Synchronization [Internet]. Frontiers Physiology. 2020 ; 11[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.3389/fphys.2020.01053
Vancouver
Protachevicz PR, Borges FS, Iarosz KC, Baptista MS, Lameu EL, Hansen M, Caldas IL, Szezech Jr JD, Batista AM, Kurths J. Influence of Delayed Conductance on Neuronal Synchronization [Internet]. Frontiers Physiology. 2020 ; 11[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.3389/fphys.2020.01053
Artigo de periodico
Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2019)
Morelhão, Sérgio L. ; Kycia, Stefan W.; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Source: The Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Subjects: RADIAÇÃO SINCROTRON, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, CRISTALOGRAFIA, BISMUTO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio L. et al. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, v. 123, n. 40, p. 24818-24825, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S. W., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2019). Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, 123( 40), 24818-24825. doi:10.1021/acs.jpcc.9b05377
NLM
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377
Vancouver
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377
Relatorio tecnico
Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals (2019)
Morelhão, Sergio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sergio Luiz et al. Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1911.00396. Acesso em: 23 maio 2024. , 2019
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., & Rappl, P. H. O. (2019). Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1911.00396
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO. Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals [Internet]. 2019 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00396
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO. Lateral lattice coherence lengths in thin lms of bismuth telluride topological insulators, with overview on polarization factors for X-ray dynamical di raction in monochromator crystals [Internet]. 2019 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1911.00396
Artigo de periodico
Photobiomodulation therapy can change actin filaments of 3T3 mouse fibroblast (2019)
Magalhaes, Ana Carolina de ; Guimarães Filho, Zwinglio ; Yoshimura, Elisabeth Mateus ; Lilge, Lothar
Source: Lasers in Medical Science. Unidade: IF
Subjects: DOSIMETRIA, RADIOLOGIA, RADIOTERAPIA, TERMOLUMINESCÊNCIA, LUMINESCÊNCIA, DOSIMETRIA LUMINESCENTE, DOSIMETRIA TERMOLUMINESCENTE, FIBROBLASTOS, ACTINAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MAGALHAES, Ana Carolina de et al. Photobiomodulation therapy can change actin filaments of 3T3 mouse fibroblast. Lasers in Medical Science, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10103-019-02852-y. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Magalhaes, A. C. de, Guimarães Filho, Z., Yoshimura, E. M., & Lilge, L. (2019). Photobiomodulation therapy can change actin filaments of 3T3 mouse fibroblast. Lasers in Medical Science. doi:10.1007/s10103-019-02852-y
NLM
Magalhaes AC de, Guimarães Filho Z, Yoshimura EM, Lilge L. Photobiomodulation therapy can change actin filaments of 3T3 mouse fibroblast [Internet]. Lasers in Medical Science. 2019 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10103-019-02852-y
Vancouver
Magalhaes AC de, Guimarães Filho Z, Yoshimura EM, Lilge L. Photobiomodulation therapy can change actin filaments of 3T3 mouse fibroblast [Internet]. Lasers in Medical Science. 2019 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10103-019-02852-y
Artigo de periodico
Strain effects on the magnetic order of epitaxial 'FE''RH' thin films (2018)
Kumar, H.; Kycia, S.; Montellano, I. M.; Alvarez, N. R.; Alejandro, G.; Butera, A.; Cornejo, Daniel Reinaldo; Morelhao, Sergio Luiz
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IF
Subjects: SUPERCONDUTIVIDADE, FERROMAGNETISMO, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
KUMAR, H. et al. Strain effects on the magnetic order of epitaxial 'FE''RH' thin films. Journal of Applied Physics, v. 124, n. 8, p. 085306, 2018Tradução . . Disponível em: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020160. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Kumar, H., Kycia, S., Montellano, I. M., Alvarez, N. R., Alejandro, G., Butera, A., et al. (2018). Strain effects on the magnetic order of epitaxial 'FE''RH' thin films. Journal of Applied Physics, 124( 8), 085306. doi:10.1063/1.5020160
NLM
Kumar H, Kycia S, Montellano IM, Alvarez NR, Alejandro G, Butera A, Cornejo DR, Morelhao SL. Strain effects on the magnetic order of epitaxial 'FE''RH' thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2018 ; 124( 8): 085306.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020160
Vancouver
Kumar H, Kycia S, Montellano IM, Alvarez NR, Alejandro G, Butera A, Cornejo DR, Morelhao SL. Strain effects on the magnetic order of epitaxial 'FE''RH' thin films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2018 ; 124( 8): 085306.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020160
Artigo de periodico
Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy (2018)
Annett, Scott; Kycia, Stefan; Dale, Darren; Morelhao, Sergio Luiz
Source: MRS Advances. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ANNETT, Scott et al. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy. MRS Advances, v. 3, n. ju 2018, p. 2341-2346, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Annett, S., Kycia, S., Dale, D., & Morelhao, S. L. (2018). Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy. MRS Advances, 3( ju 2018), 2341-2346. doi:10.1557/adv.2018.487
NLM
Annett S, Kycia S, Dale D, Morelhao SL. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2341-2346.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487
Vancouver
Annett S, Kycia S, Dale D, Morelhao SL. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2341-2346.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487
Relatorio tecnico
X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films (2018)
Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo; Morelhao, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
KYCIA, Stefan et al. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1812.10804. Acesso em: 23 maio 2024. , 2018
APA
Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., Abramof, E., & Morelhao, S. L. (2018). X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1812.10804
NLM
Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhao SL. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1812.10804
Vancouver
Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhao SL. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2018 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1812.10804
Artigo de periodico
Micro grain analysis in plastically deformed silicon by 2nd-order X-ray diffraction (2018)
Dina, Gabriel; Kycia, Stefan; Gonzalez, Anal Gomez; Morelhao, Sergio Luiz
Source: MRS Advances. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DINA, Gabriel et al. Micro grain analysis in plastically deformed silicon by 2nd-order X-ray diffraction. MRS Advances, v. 3, n. ju 2018, p. 2347-2352, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/adv.2018.511. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Dina, G., Kycia, S., Gonzalez, A. G., & Morelhao, S. L. (2018). Micro grain analysis in plastically deformed silicon by 2nd-order X-ray diffraction. MRS Advances, 3( ju 2018), 2347-2352. doi:10.1557/adv.2018.511
NLM
Dina G, Kycia S, Gonzalez AG, Morelhao SL. Micro grain analysis in plastically deformed silicon by 2nd-order X-ray diffraction [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2347-2352.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.511
Vancouver
Dina G, Kycia S, Gonzalez AG, Morelhao SL. Micro grain analysis in plastically deformed silicon by 2nd-order X-ray diffraction [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2347-2352.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.511
Artigo de periodico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2018)
Morelhao, Sergio Luiz; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHAO, Sergio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, v. 112, n. 12, p. 101903, 2018Tradução . . Disponível em: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375. Acesso em: 23 maio 2024.
APA
Morelhao, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2018). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, 112( 12), 101903. doi:10.1063/1.5020375
NLM
Morelhao SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375
Vancouver
Morelhao SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2024 maio 23 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

USP affiliated authors

Subjects

Source title

Funding Agencies

Non normalized affiliation

Countries of institutions of collaboration