Effect of electric field non-uniformity on the differences between I-V characteristics of QWIP devices fabricated on the same wafer (2020)
- Authors:
- Autor USP: QUIVY, ALAIN ANDRE - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.sna.2019.111725
- Subjects: EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR; SEMICONDUTIVIDADE; FÍSICA MODERNA; FOTODETECTORES; RADIAÇÃO INFRAVERMELHA; POÇOS QUÂNTICOS
- Keywords: Superlattices; MQW; Electric field non-uniformity; Low temperature I-V; QWIP; C-V
- Agências de fomento:
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Sensors and Actuators A: Physical
- ISSN: 0924-4247
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 301, janeiro, 2020, número do artigo: 111725
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
SANTOS, Tiago G. et al. Effect of electric field non-uniformity on the differences between I-V characteristics of QWIP devices fabricated on the same wafer. Sensors and Actuators A: Physical, v. 301, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sna.2019.111725. Acesso em: 10 jan. 2026. -
APA
Santos, T. G., Vieira, G. S., Delfino, C. A., Tanaka, R. Y., Abe, N. M., Passaro, A., et al. (2020). Effect of electric field non-uniformity on the differences between I-V characteristics of QWIP devices fabricated on the same wafer. Sensors and Actuators A: Physical, 301. doi:10.1016/j.sna.2019.111725 -
NLM
Santos TG, Vieira GS, Delfino CA, Tanaka RY, Abe NM, Passaro A, Fernandes FM, Quivy AA. Effect of electric field non-uniformity on the differences between I-V characteristics of QWIP devices fabricated on the same wafer [Internet]. Sensors and Actuators A: Physical. 2020 ; 301[citado 2026 jan. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sna.2019.111725 -
Vancouver
Santos TG, Vieira GS, Delfino CA, Tanaka RY, Abe NM, Passaro A, Fernandes FM, Quivy AA. Effect of electric field non-uniformity on the differences between I-V characteristics of QWIP devices fabricated on the same wafer [Internet]. Sensors and Actuators A: Physical. 2020 ; 301[citado 2026 jan. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sna.2019.111725 - Microscopio de tunelamento a ser usado no ar, no vacuo e no helio liquido
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.sna.2019.111725 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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1-s2.0-S0924424719308507-... |
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