Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR (1997)
- Authors:
- Autor USP: GALEAZZO, ELISABETE - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Simpósio de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
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ABNT
BELTRAN, A. e GALEAZZO, Elisabete. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. 1997, Anais.. São Paulo: USP, 1997. . Acesso em: 13 fev. 2026. -
APA
Beltran, A., & Galeazzo, E. (1997). Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. In Resumos. São Paulo: USP. -
NLM
Beltran A, Galeazzo E. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. Resumos. 1997 ;[citado 2026 fev. 13 ] -
Vancouver
Beltran A, Galeazzo E. Caracterização das ligações químicas superficiais do silício poroso por FTIR. Resumos. 1997 ;[citado 2026 fev. 13 ] - A influência de parâmetros de formação do silício poroso na resposta luminescente
- Obtenção do silício poroso em áreas seletivas
- Silício poroso para aplicações em sensores e microssistemas
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- A influência de processos químicos após a formação de silício poroso. (também em CD-Rom)
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