Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon (1987)
- Authors:
- Autor USP: STOJANOFF, VIVIAN - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/0022-0248(87)90208-9
- Language: Português
- Source:
- Título do periódico: Journal of Crystal Growth
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.85, n.1-2, p.91-6, 1987
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
BULLA, Douglas Anderson Pereira; CASTRO JUNIOR, W E; STOJANOFF, Vivian; et al. Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon. Journal of Crystal Growth[S.l.], v. 85, n. 1-2, p. 91-6, 1987. DOI: 10.1016/0022-0248(87)90208-9. -
APA
Bulla, D. A. P., Castro Junior, W. E., Stojanoff, V., Ponce, F. A., Hahn, S., & Tiller, W. A. (1987). Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon. Journal of Crystal Growth, 85( 1-2), 91-6. doi:10.1016/0022-0248(87)90208-9 -
NLM
Bulla DAP, Castro Junior WE, Stojanoff V, Ponce FA, Hahn S, Tiller WA. Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon. Journal of Crystal Growth. 1987 ;85( 1-2): 91-6. -
Vancouver
Bulla DAP, Castro Junior WE, Stojanoff V, Ponce FA, Hahn S, Tiller WA. Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon. Journal of Crystal Growth. 1987 ;85( 1-2): 91-6. - Efeitos do carbono na formacao de defeitos no silicio czochralski
- Caracterizacao de interfaces por incidencia rasante de raios-x em modo dispersivo
- Tuneable x-ray polarimeters for synchroton radiation sources
- Effects of 45 graus celsius thermal annealing upon oxygen precipitation in heavily b- ad sb-doped czochralski si
- Estudo da cinetica de precipitacao do oxigenio em monocristais de si: b a partir de tecnicas de raios-x
- Estudo de doadores termicos em si: b
- Defeitos em monocristais de 'SI': b induzidos ou modificados por tratamentos termicos
- Oxygen precipitation in heavy boron-doped cz silicon
- Oxygen precipitation in highly carbon doped silicon
- Efeitos do carbono na formacao de defeitos no silicio czochralski
Informações sobre o DOI: 10.1016/0022-0248(87)90208-9 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas