Defects in as-grown n-type czochralski silicon crystals (1985)
- Authors:
- Autor USP: STOJANOFF, VIVIAN - IF
- Unidade: IF
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Proceedings
- Conference titles: Brazilian School on Semiconductor Physics
-
ABNT
STOJANOFF, Vivian e PIMENTEL, C A. Defects in as-grown n-type czochralski silicon crystals. 1985, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 1985. . Acesso em: 11 mar. 2026. -
APA
Stojanoff, V., & Pimentel, C. A. (1985). Defects in as-grown n-type czochralski silicon crystals. In Proceedings. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. -
NLM
Stojanoff V, Pimentel CA. Defects in as-grown n-type czochralski silicon crystals. Proceedings. 1985 ;[citado 2026 mar. 11 ] -
Vancouver
Stojanoff V, Pimentel CA. Defects in as-grown n-type czochralski silicon crystals. Proceedings. 1985 ;[citado 2026 mar. 11 ] - Caracterizacao de defeitos produzidos por carbono em silicio czochralski - doadores termicamente gerados
- Influence of growth conditions on properties of inp homoepitaxial layers grown by liquid phase epitaxy
- Efeitos do carbono na formacao de defeitos no silicio czochralski
- Effects of boron concentration upon oxygen precipitation in cz silicon
- Effects of 450'GRAUS'c thermal annealing upon oxygen precipitation in b-doped cz si wafers
- X-ray topography of a lysozyme crystal
- Estudos de defeitos em silício
- Estudo da cinetica de precipitacao do oxigenio em monocristais de si: b a partir de tecnicas de raios-x
- Efeito do carbono na formacao de defeitos em silicio
- Computed tomography with monochromatic x-rays from the national synchroton light source
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas